本研究通过密度泛函理论(DFT)计算系统地研究了晶格畸变对CoFeCrGa自旋无能隙半导体(SGS)电子结构、磁各向异性和霍尔电导率的影响。研究考虑了均匀应变(-6% ≤ ΔV/V₀ ≤ 6%)和四方畸变(0.8 ≤ c/a ≤ 1.2)两种晶格畸变模式。结果表明,均匀应变下的CoFeCrGa结构保持SGS特性、磁各向同性以及较小的异常霍尔电导率(AHC)和自旋霍尔电导率(SHC)。相比之下,四方畸变结构显示出近似半金属行为,具有极高的自旋极化率、巨大的磁各向异性(~10⁶ J/m³)和显著增强的AHC(-215至250 S/cm)。
CoFeCrGa作为新发现的四元Heusler合金SGS材料,具有高居里温度(>600 K)和磁矩(~2.0 μB/f.u.),但其在器件集成时不可避免地会发生晶格畸变,而SGS性质对外部因素高度敏感。因此,系统研究晶格畸变对其物理性质的影响对器件设计至关重要。
本研究采用基于平面波赝势的密度泛函理论(DFT)计算,使用QUANTUM ESPRESSO软件包。
采用磁力定理计算:
MCA = E_band[100] - E_band[001]
K_MCA = MCA/V
通过直接求和法计算偶极-偶极相互作用:
MSA = E_dip[100] - E_dip[001]
使用最大局域化Wannier函数(MLWF)和Kubo公式计算异常霍尔电导率(AHC)和自旋霍尔电导率(SHC)。
| 方法 | 晶格参数(Å) | 磁矩(μB/f.u.) | SGS特性 | 自旋极化率 |
|---|---|---|---|---|
| GGA | 5.72 | 2.00 | 是 | 92.33% |
| GGA+U | 6.48 | 9.33 | 否 | 33.14% |
| 实验值 | 5.79 | 2.01 | 是 | - |
GGA方法的计算结果与实验值高度吻合,因此选择GGA作为后续计算的交换关联泛函。
均匀应变结构的相对形成能很小(≲ 0.1 eV/f.u.),表明这些结构在实验中容易形成。
四方畸变诱导巨大的磁晶各向异性:
现有研究主要集中在其他Heusler合金的畸变效应,对CoFeCrGa的系统性研究尚属首次。
本文引用了75篇相关文献,涵盖了SGS材料、Heusler合金、磁各向异性和霍尔效应等多个研究领域的重要工作,为研究提供了坚实的理论基础。
总体评价: 这是一篇高质量的理论研究论文,系统地揭示了晶格畸变对CoFeCrGa SGS材料性质的影响机制,为相关器件的设计和应用提供了重要的理论指导。研究方法严谨,结果可信,具有重要的学术价值和应用前景。