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A non-integrated defect relation for holomorphic maps into algebraic varieties

Cai, Ru, Yang

In 1983, relating to the study of value distribution of the Guass maps of complete minimal surfaces in ${\Bbb R}^m$, H. Fujimoto introduced the notion of the non-integrated defect for holomorphic maps of an open Riemann surface into $\mathbb{P}^n(\mathbb{C})$ and obtained some results analogous to the Nevanlinna-Cartan defect relation. This paper establishes the non-integrated defect relation for holomorphic maps into projective varieties.

academic

A non-integrated defect relation for holomorphic maps into algebraic varieties

基本信息

论文ID: 2501.00827
标题: A non-integrated defect relation for holomorphic maps into algebraic varieties
作者: Qili Cai, Min Ru, Chin Jui Yang
分类: math.CV (复分析)
发表时间: 2025年1月1日
论文链接: https://arxiv.org/abs/2501.00827

摘要

1983年，H. Fujimoto在研究 $\mathbb{R}^m$ 中完全极小曲面的高斯映射的值分布时，引入了从开黎曼面到 $\mathbb{P}^n(\mathbb{C})$ 的全纯映射的非积分亏格概念，并获得了类似于Nevanlinna-Cartan亏格关系的结果。本文为全纯映射到射影簇的情况建立了非积分亏格关系。

研究背景与动机

问题背景

历史起源: 1983年，H. Fujimoto在研究 $\mathbb{R}^m$ 中完全极小曲面的高斯映射值分布问题时，引入了非积分亏格的概念
经典理论: 传统的Nevanlinna理论和Nevanlinna-Cartan亏格关系主要适用于复射影空间 $\mathbb{P}^n(\mathbb{C})$
理论局限: 现有的非积分亏格理论仅限于射影空间，缺乏对一般代数簇的处理

研究动机

理论推广: 将Fujimoto的非积分亏格概念从射影空间推广到一般的射影簇
几何应用: 为完全极小曲面的高斯映射研究提供更广泛的理论框架
值分布理论: 丰富复分析中的值分布理论，特别是全纯映射的亏格理论

核心贡献

建立了射影簇上的非积分亏格关系 (定理1.3)：将Fujimoto的结果推广到光滑射影簇，得到了形式为 $\sum_{j=1}^q \delta_{f,A}^k(D_j) \leq \gamma_{A,L} + 2\rho m$ 的亏格关系
改进了第二主要定理 (定理1.4)：获得了更好的误差项估计，改进了K. Yamanoi的原始结果
建立了高次超曲面的亏格关系 (定理1.5)：对于度数足够高的一般超曲面，给出了精确的亏格上界
提供了jet微分的主要引理 (引理2.2)：为jet微分理论提供了重要的技术工具

方法详解

核心定义

非积分亏格定义 (定义1.2): 设 $X$ 是射影簇， $D$ 是有效Cartier除子， $A$ 是丰富除子， $f: M \to X$ 是全纯映射。非积分亏格定义为：

$\delta_{f,A}^{\mu_0}(D) := \sup \{\delta \geq 0 | \delta \text{满足条件} (**)\}$

其中条件(**)表示存在有界非负连续函数 $h$ 使得： $f^*c_1([D]) - \delta f^*c_1([A]) + dd^c \log h^2 \geq [\min\{\nu_{f(D)}, \mu_0\}]$

技术框架

Jet微分理论: 论文使用Green-Griffiths jet微分和对数jet微分：

$EGG_{k,m}\Omega_X$ : $k$ 阶 $m$ 次Green-Griffiths层
$EGG_{k,m}\Omega_X(\log D)$ : 对数Green-Griffiths jet微分层

关键技术工具:

主要引理2.2: 控制jet微分 $P(j_k(f))$ 的积分估计
Poincaré-Lelong公式: 连接除子与Chern形式
Green-Jensen公式: 用于亚调和函数的积分估计

证明策略

定理1.3的证明思路:

通过万有覆盖将问题归约到单位圆盘 $B(R_0)$
使用反证法：假设 $\sum_{j=1}^q \delta_{f,A}^k(D_j) > \gamma_{A,L} + 2\rho m$
构造亚调和函数 $v$ 和 $u$ ，利用增长条件
应用Yau的结果得到矛盾

实验设置

理论验证

论文通过以下方式验证理论的正确性：

经典情况的恢复: 当 $X = \mathbb{P}^n(\mathbb{C})$ ， $D = H_1 + \cdots + H_q$ （一般位置的超平面）时，恢复Fujimoto的原始结果
Wronskian构造: 通过Wronskian行列式构造jet微分： $P = \det \begin{bmatrix} z_0 & \cdots & z_n \\ dz_0 & \cdots & dz_n \\ \vdots & \ddots & \vdots \\ d^n z_0 & \cdots & d^n z_n \end{bmatrix}$

定理1.5 (高次超曲面): 对于度数 $d \geq (n+1)^{n+3}(n+1+\frac{c}{2})^{n+3}$ 的一般光滑超曲面 $D$ ： $\delta_{f,A,*}^1(D) \leq d - c$

误差项改进

定理1.4中的误差项 $S(r,f,A)$ :

当 $R_0 = \infty$ 时: $S(r,f,A) \leq m((1+\varepsilon)\log^+ T_{f,A}(r) + (1+\varepsilon)^2\log^+ \log^+ T_{f,A}(r)) + O(1)$
当 $R_0 < \infty$ 时: $S(r,f,A) \leq K(\log\frac{1}{R_0-r} + \log^+ T_{f,A}(r))$