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Using Preformed Resistive Random Access Memory to Create a Strong Physically Unclonable Function

Garrard, Hardy, daCunha et al.
Physically Unclonable Functions (PUFs) are a promising solution for identity verification and asymmetric encryption. In this paper, a new Resistive Random Access Memory (ReRAM) PUF-based protocol is presented to create a physical ReRAM PUF with a large challenge space. This protocol uses differential reads from unformed ReRAM as the method for response generation. Lastly, this paper also provides an experimental hardware demonstration of this protocol on a Physical ReRAM device, along with providing notable results as a PUF, with excellent performance characteristics.
academic

Using Preformed Resistive Random Access Memory to Create a Strong Physically Unclonable Function

基本信息

  • 论文ID: 2510.02643
  • 标题: Using Preformed Resistive Random Access Memory to Create a Strong Physically Unclonable Function
  • 作者: Jack Garrard, John F. Hardy II, Carlo daCunha, Mayank Bakshi (Northern Arizona University)
  • 分类: cs.CR (Cryptography and Security)
  • 发表时间: October 6, 2025 (IEEE ACCESS)
  • 论文链接: https://arxiv.org/abs/2510.02643

摘要

物理不可克隆函数(PUFs)是身份验证和非对称加密的有前景解决方案。本文提出了一种新的基于阻变存储器(ReRAM) PUF的协议,用于创建具有大挑战空间的物理ReRAM PUF。该协议使用未成形ReRAM的差分读取作为响应生成方法。论文还提供了该协议在物理ReRAM设备上的实验硬件演示,展现了作为PUF的优异性能特征。

研究背景与动机

问题定义

现代安全通信需要可靠的身份验证和加密机制。传统的公钥密码系统依赖于私钥的安全分发和存储,但数字密钥容易被复制和泄露,一旦泄露就难以重新颁发。

研究动机

  1. 数字密钥的脆弱性:传统密钥是数字形式,可被复制且易受泄露威胁
  2. SRAM PUF的局限性
    • 挑战空间线性缩放,规模受限
    • 直接泄露原始响应中的秘密信息
    • 需要存储完整响应空间,无法建模减少注册大小
  3. 后量子密码学需求:需要抗量子算法的随机数据源

现有方法局限性

SRAM PUF作为当前主流解决方案存在以下问题:

  • 挑战空间与内存单元数量线性关系,扩展性差
  • 原始响应直接暴露底层随机性
  • 注册过程必须覆盖完整响应空间
  • 容易受到差分攻击

核心贡献

  1. 提出新型ReRAM PUF协议:使用未成形ReRAM单元作为PUF元素的新协议
  2. 实现硬件实验验证:在物理ReRAM设备上的完整硬件演示
  3. 大幅提升挑战空间:挑战空间与单元数量呈二次关系缩放
  4. 优异性能指标:实现了极低的位错误率(<0.03%)和优秀的PUF特性
  5. 无需定制制造:可使用现有制造工艺,跳过成形步骤即可实现

方法详解

任务定义

设计一个基于ReRAM的强PUF系统,输入为挑战字节流,输出为对应的唯一响应字节流,要求具有大挑战空间、低位错误率和强安全性。

ReRAM技术基础

ReRAM结构与原理

ReRAM采用金属-绝缘体-金属薄膜堆叠结构:

  • 通过导电丝(CF)的形成和断裂改变电阻状态
  • 成形过程:施加正偏压形成氧空位路径
  • 重置/置位过程:在高阻态(HRS)和低阻态(LRS)间切换

未成形ReRAM特性

本研究使用未经成形的ReRAM单元:

  • 电阻状态极其稳定,易于测量
  • 避免氧扩散导致的时间相关弛豫问题
  • 制造变异性提供天然随机性源

核心协议架构

1. 挑战生成协议

挑战生成流程:
1. 使用随机字节和密码通过SHA256生成初始数据
2. 解析为地址对池(约1.5倍目标密钥大小)
3. 过滤高标准差单元
4. 验证单元对差异足够大以产生可重复响应
5. 生成稳定性掩码标记不稳定单元

2. 响应生成机制

响应生成流程:
1. 接收随机字节和稳定性掩码
2. 重新生成地址对并应用掩码过滤
3. 对双ReRAM芯片执行差分读取
4. 通过模拟电路调理信号并提供偏移
5. 模拟比较器产生单比特响应
6. 连接所有比特并哈希返回

技术创新点

1. 差分读取机制

  • 使用两个ReRAM芯片进行比较而非绝对测量
  • 基于电阻比较而非直接电阻值生成响应
  • 有效隔离底层模拟测量信息

2. 二次挑战空间扩展

挑战空间计算:4096 × 4096 × 8 × (1-0.33) × (1-0.12) ≈ 80,000,000个单元对 最终CRP数量:约(8×10^7)^256

3. 自适应过滤策略

  • 单元级过滤:标准差阈值30 ADC计数
  • 配对级过滤:差异大于标准差和的2倍
  • 动态稳定性掩码生成

实验设置

硬件平台

  • ReRAM芯片:CrossBar Al/Al2O3/W 1R1T配置
  • 阵列规格:1kb×4单元测试阵列,32字线,128位
  • 电流范围:105-793 nA (8个预选值)
  • 电压限制:1.5V最大值防止意外成形
  • 定制PCB:信号调理和模拟比较

评价指标

  1. 位错误率(BER):注册响应与实际响应的汉明距离
  2. 可靠性:同一挑战重复响应的一致性
  3. 唯一性:不同PUF间响应的随机性(理想值50%)
  4. 扩散性:同一PUF不同挑战间的随机性
  5. 均匀性:响应中0和1的分布平衡性

实验参数

  • 注册样本:每单元50次采样
  • 测试规模:7个芯片,8个电流值,1000个CRP
  • 过滤参数:单元标准差阈值30,配对倍数阈值2

实验结果

主要性能指标

指标结果理想值标准差
位错误率(BER)3.23×10^-2%0%0.11%
可靠性5.78×10^-2%0%0.15%
唯一性50.02%50%2.28%
扩散性50.02%50%2.21%
均匀性49.93%50%3.25%

电流依赖性分析

不同电流下的BER表现:

  • 105 nA: 2.563×10^-4
  • 793 nA: 4.055×10^-4
  • 趋势:电流增加,BER略有上升但仍保持极低水平

功耗分析

  • 每次挑战响应生成功耗:微瓦级别
  • 单次电压读取:<40 nW
  • 总体功耗:<1 mW,适合客户端设备

与其他PUF技术对比

PUF类型挑战空间BER可靠性唯一性
本文ReRAM3.23×10^-25.78×10^-250.02±2.28
参考ReRAM132N10^-6250±3
STT-MRAM272²ᴺ-0.98±0.5649.96±7.40

相关工作

PUF技术发展

  1. SRAM PUF:当前主流,但挑战空间线性增长
  2. ReRAM PUF变种
    • 成形态ReRAM PUF:可靠性和扩散性问题
    • 参考单元协议:线性挑战空间,芯片利用率低
  3. 其他存储器PUF:STT-MRAM等新兴技术

本文优势

  1. 挑战空间:二次增长 vs 线性增长
  2. 制造兼容性:无需定制工艺
  3. 安全性:间接测量防止信息泄露
  4. 能效:极低功耗适合IoT应用

结论与讨论

主要结论

  1. 成功实现了基于未成形ReRAM的强PUF协议
  2. 达到了优异的性能指标:BER < 0.03%,所有PUF特性接近理想值
  3. 实现了二次挑战空间扩展,显著优于现有SRAM PUF
  4. 无需定制制造工艺,具备实用化潜力

局限性

  1. 硬件依赖:需要专用的ReRAM芯片和模拟电路
  2. 温度敏感性:虽然未成形ReRAM相对稳定,但仍需进一步验证
  3. 规模验证:当前实验基于相对较小的阵列规模
  4. 长期稳定性:需要更长时间的稳定性测试

未来方向

  1. 真随机数生成器:利用高标准差单元实现连续随机比特生成
  2. 改进建模:开发ReRAM单元和电流关系的精确模型
  3. 小型化设计:创建令牌化设备用于实际应用
  4. 神经网络集成:与基于ReRAM的硬件神经网络结合

深度评价

优点

  1. 技术创新性强:首次系统性地使用未成形ReRAM实现强PUF
  2. 实验验证充分:完整的硬件实现和全面的性能评估
  3. 实用价值高:解决了SRAM PUF的关键局限性
  4. 安全性设计优秀:差分读取机制有效防止信息泄露

不足

  1. 成本考量不足:ReRAM芯片成本可能高于SRAM
  2. 环境适应性:缺乏不同环境条件下的稳定性测试
  3. 攻击模型分析:对高级攻击方法的抗性分析不够深入
  4. 标准化程度:缺乏与现有PUF标准的兼容性分析

影响力评估

  1. 学术贡献:为PUF领域提供了新的技术路径
  2. 产业价值:有望推动ReRAM在安全芯片中的应用
  3. 可复现性:详细的实验设置便于其他研究者复现
  4. 应用前景:特别适合IoT设备和硬件神经网络应用

适用场景

  1. IoT设备认证:低功耗特性适合资源受限设备
  2. 硬件安全模块:可集成到安全芯片中
  3. 边缘计算:与ReRAM神经网络协同工作
  4. 供应链安全:设备指纹识别和防伪

参考文献

本文引用了28篇相关文献,涵盖了PUF技术、ReRAM器件、密码学协议等多个领域的重要工作,为研究提供了坚实的理论基础。


总体评价:这是一篇高质量的硬件安全研究论文,提出了创新的ReRAM PUF解决方案,通过完整的硬件实验验证了方法的有效性。论文在技术创新、实验验证和实用价值方面都表现优秀,为PUF技术的发展做出了重要贡献。