Physically Unclonable Functions (PUFs) are a promising solution for identity verification and asymmetric encryption. In this paper, a new Resistive Random Access Memory (ReRAM) PUF-based protocol is presented to create a physical ReRAM PUF with a large challenge space. This protocol uses differential reads from unformed ReRAM as the method for response generation. Lastly, this paper also provides an experimental hardware demonstration of this protocol on a Physical ReRAM device, along with providing notable results as a PUF, with excellent performance characteristics.
论文ID : 2510.02643标题 : Using Preformed Resistive Random Access Memory to Create a Strong Physically Unclonable Function作者 : Jack Garrard, John F. Hardy II, Carlo daCunha, Mayank Bakshi (Northern Arizona University)分类 : cs.CR (Cryptography and Security)发表时间 : October 6, 2025 (IEEE ACCESS)论文链接 : https://arxiv.org/abs/2510.02643 物理不可克隆函数(PUFs)是身份验证和非对称加密的有前景解决方案。本文提出了一种新的基于阻变存储器(ReRAM) PUF的协议,用于创建具有大挑战空间的物理ReRAM PUF。该协议使用未成形ReRAM的差分读取作为响应生成方法。论文还提供了该协议在物理ReRAM设备上的实验硬件演示,展现了作为PUF的优异性能特征。
现代安全通信需要可靠的身份验证和加密机制。传统的公钥密码系统依赖于私钥的安全分发和存储,但数字密钥容易被复制和泄露,一旦泄露就难以重新颁发。
数字密钥的脆弱性 :传统密钥是数字形式,可被复制且易受泄露威胁SRAM PUF的局限性 :
挑战空间线性缩放,规模受限 直接泄露原始响应中的秘密信息 需要存储完整响应空间,无法建模减少注册大小 后量子密码学需求 :需要抗量子算法的随机数据源SRAM PUF作为当前主流解决方案存在以下问题:
挑战空间与内存单元数量线性关系,扩展性差 原始响应直接暴露底层随机性 注册过程必须覆盖完整响应空间 容易受到差分攻击 提出新型ReRAM PUF协议 :使用未成形ReRAM单元作为PUF元素的新协议实现硬件实验验证 :在物理ReRAM设备上的完整硬件演示大幅提升挑战空间 :挑战空间与单元数量呈二次关系缩放优异性能指标 :实现了极低的位错误率(<0.03%)和优秀的PUF特性无需定制制造 :可使用现有制造工艺,跳过成形步骤即可实现设计一个基于ReRAM的强PUF系统,输入为挑战字节流,输出为对应的唯一响应字节流,要求具有大挑战空间、低位错误率和强安全性。
ReRAM采用金属-绝缘体-金属薄膜堆叠结构:
通过导电丝(CF)的形成和断裂改变电阻状态 成形过程:施加正偏压形成氧空位路径 重置/置位过程:在高阻态(HRS)和低阻态(LRS)间切换 本研究使用未经成形的ReRAM单元:
电阻状态极其稳定,易于测量 避免氧扩散导致的时间相关弛豫问题 制造变异性提供天然随机性源 挑战生成流程:
1. 使用随机字节和密码通过SHA256生成初始数据
2. 解析为地址对池(约1.5倍目标密钥大小)
3. 过滤高标准差单元
4. 验证单元对差异足够大以产生可重复响应
5. 生成稳定性掩码标记不稳定单元
响应生成流程:
1. 接收随机字节和稳定性掩码
2. 重新生成地址对并应用掩码过滤
3. 对双ReRAM芯片执行差分读取
4. 通过模拟电路调理信号并提供偏移
5. 模拟比较器产生单比特响应
6. 连接所有比特并哈希返回
使用两个ReRAM芯片进行比较而非绝对测量 基于电阻比较而非直接电阻值生成响应 有效隔离底层模拟测量信息 挑战空间计算:4096 × 4096 × 8 × (1-0.33) × (1-0.12) ≈ 80,000,000个单元对
最终CRP数量:约(8×10^7)^256
单元级过滤:标准差阈值30 ADC计数 配对级过滤:差异大于标准差和的2倍 动态稳定性掩码生成 ReRAM芯片 :CrossBar Al/Al2O3/W 1R1T配置阵列规格 :1kb×4单元测试阵列,32字线,128位电流范围 :105-793 nA (8个预选值)电压限制 :1.5V最大值防止意外成形定制PCB :信号调理和模拟比较位错误率(BER) :注册响应与实际响应的汉明距离可靠性 :同一挑战重复响应的一致性唯一性 :不同PUF间响应的随机性(理想值50%)扩散性 :同一PUF不同挑战间的随机性均匀性 :响应中0和1的分布平衡性注册样本 :每单元50次采样测试规模 :7个芯片,8个电流值,1000个CRP过滤参数 :单元标准差阈值30,配对倍数阈值2指标 结果 理想值 标准差 位错误率(BER) 3.23×10^-2% 0% 0.11% 可靠性 5.78×10^-2% 0% 0.15% 唯一性 50.02% 50% 2.28% 扩散性 50.02% 50% 2.21% 均匀性 49.93% 50% 3.25%
不同电流下的BER表现:
105 nA: 2.563×10^-4 793 nA: 4.055×10^-4 趋势:电流增加,BER略有上升但仍保持极低水平 每次挑战响应生成功耗:微瓦级别 单次电压读取:<40 nW 总体功耗:<1 mW,适合客户端设备 PUF类型 挑战空间 BER 可靠性 唯一性 本文ReRAM N² 3.23×10^-2 5.78×10^-2 50.02±2.28 参考ReRAM13 2N 10^-6 2 50±3 STT-MRAM27 2²ᴺ - 0.98±0.56 49.96±7.40
SRAM PUF :当前主流,但挑战空间线性增长ReRAM PUF变种 :
成形态ReRAM PUF:可靠性和扩散性问题 参考单元协议:线性挑战空间,芯片利用率低 其他存储器PUF :STT-MRAM等新兴技术挑战空间 :二次增长 vs 线性增长制造兼容性 :无需定制工艺安全性 :间接测量防止信息泄露能效 :极低功耗适合IoT应用成功实现了基于未成形ReRAM的强PUF协议 达到了优异的性能指标:BER < 0.03%,所有PUF特性接近理想值 实现了二次挑战空间扩展,显著优于现有SRAM PUF 无需定制制造工艺,具备实用化潜力 硬件依赖 :需要专用的ReRAM芯片和模拟电路温度敏感性 :虽然未成形ReRAM相对稳定,但仍需进一步验证规模验证 :当前实验基于相对较小的阵列规模长期稳定性 :需要更长时间的稳定性测试真随机数生成器 :利用高标准差单元实现连续随机比特生成改进建模 :开发ReRAM单元和电流关系的精确模型小型化设计 :创建令牌化设备用于实际应用神经网络集成 :与基于ReRAM的硬件神经网络结合技术创新性强 :首次系统性地使用未成形ReRAM实现强PUF实验验证充分 :完整的硬件实现和全面的性能评估实用价值高 :解决了SRAM PUF的关键局限性安全性设计优秀 :差分读取机制有效防止信息泄露成本考量不足 :ReRAM芯片成本可能高于SRAM环境适应性 :缺乏不同环境条件下的稳定性测试攻击模型分析 :对高级攻击方法的抗性分析不够深入标准化程度 :缺乏与现有PUF标准的兼容性分析学术贡献 :为PUF领域提供了新的技术路径产业价值 :有望推动ReRAM在安全芯片中的应用可复现性 :详细的实验设置便于其他研究者复现应用前景 :特别适合IoT设备和硬件神经网络应用IoT设备认证 :低功耗特性适合资源受限设备硬件安全模块 :可集成到安全芯片中边缘计算 :与ReRAM神经网络协同工作供应链安全 :设备指纹识别和防伪本文引用了28篇相关文献,涵盖了PUF技术、ReRAM器件、密码学协议等多个领域的重要工作,为研究提供了坚实的理论基础。
总体评价 :这是一篇高质量的硬件安全研究论文,提出了创新的ReRAM PUF解决方案,通过完整的硬件实验验证了方法的有效性。论文在技术创新、实验验证和实用价值方面都表现优秀,为PUF技术的发展做出了重要贡献。