2025-11-23T17:10:17.463865

Science ouverte et collaborative pour l'élaboration d'un banc automatisé de caractérisation de pertes en commutation par opposition

Rouger, Villa, Masson et al.
The switching losses of power transistors are generally measured using the so-called double pulse method. Measuring the opposition of two switching cells is a complementary method that is more accurate but indirect. However, implementing this method can be more complex and requires calibration steps and comprehensive control, with the added issue of thermal management. In this context, we proposed to address this topic through open and collaborative science, first in the form of a two-day hackathon, followed by monthly open sessions. More than 20 participants contributed to the two-day hackathon, followed by monthly sessions for those wishing to continue working together. This enabled us to set up an automated bench, in open science, including the generation of switching commands, the configuration and control of measuring instruments, and the hardware part. Here we present and share our work and this open approach.
academic

Science ouverte et collaborative pour l'élaboration d'un banc automatisé de caractérisation de pertes en commutation par opposition

基本信息

  • 论文ID: 2510.09725
  • 标题: Science ouverte et collaborative pour l'élaboration d'un banc automatisé de caractérisation de pertes en commutation par opposition
  • 作者: Nicolas Rouger, Luiz Villa, Matthieu Masson, Pauline Kergus, Joseph Kemdeng, Lorenzo Leijnen, Jean Alinei, Adrien Colomb, Ayoub Farah-Hassan, Arnauld Biganzoli
  • 分类: physics.ed-ph cs.SY eess.SY
  • 发表会议: SYMPOSIUM DE GENIE ELECTRIQUE (SGE 2025), 1-3 JUILLET 2025, TOULOUSE, FRANCE
  • 论文链接: https://arxiv.org/abs/2510.09725

摘要

功率晶体管的开关损耗通常使用双脉冲方法进行测量。两个开关单元的对置测量是一种互补方法，更加精确但间接。然而，实施这种方法可能更加复杂，需要校准步骤和全面控制，还有热管理问题。在这种情况下，作者提出通过开放和协作科学来解决这个问题，首先是为期两天的黑客马拉松，然后是每月开放会议。超过20名参与者为两天的黑客马拉松做出了贡献，随后为希望继续合作的人举行月度会议。这使得能够建立一个自动化测试台，采用开放科学方式，包括开关命令生成、测量仪器的配置和控制以及硬件部分。

研究背景与动机

核心问题

功率晶体管开关损耗的精确测量是电力电子领域的关键技术挑战。传统的双脉冲测量方法虽然广泛使用，但在精度上存在局限性。对置法（opposition method）作为一种更精确的测量方法，通过两个开关单元的对置工作来测量平均功率损耗。

问题重要性

  1. 精度需求：随着SiC和GaN等宽禁带半导体器件的发展，开关速度越来越快，对测量精度和时间分辨率的要求不断提高，需要纳秒级的时序控制
  2. 热管理挑战：对置法需要器件在额定功率点连续工作，产生自热效应，必须快速完成测量以避免温度漂移
  3. 技术复杂性：实现自动化对置法测试台需要整合仪器控制、信号生成、功率硬件等多个技术领域

现有方法局限性

  • 双脉冲方法精度有限，特别是对于快速开关器件
  • 对置法虽然精确但实现复杂，缺乏标准化的自动测试解决方案
  • 现有实现通常需要多个专业领域的深度知识，对研究人员特别是博士生构成挑战

研究动机

作者采用开放协作科学的创新方式，通过黑客马拉松和月度会议的形式，集合多领域专家共同解决这一复杂技术问题，并将所有成果以开源形式分享。

核心贡献

  1. 开发了完整的自动化对置法测试台：包含硬件设计、仪器控制和信号生成的完整解决方案
  2. 实现了Python监督控制系统：通过SCPI协议自动控制多种测量仪器，实现同步测量
  3. 构建了高精度信号生成系统：基于OwnTech SPIN控制器，实现最高5.4GHz时钟的纳秒级时序控制
  4. 提供开源完整解决方案：所有代码和设计以GPL v3协议开源发布
  5. 验证了协作科学模式：通过20+参与者的黑客马拉松成功实现复杂技术系统开发

方法详解

任务定义

开发一个全自动化的功率晶体管开关损耗测量系统，能够：

  • 自动配置和控制测量仪器
  • 生成精确同步的开关控制信号
  • 实现快速准确的功率损耗测量
  • 最小化测量时间以减少热效应影响

系统架构

系统包含三个主要组成部分：

1. 监督控制与仪器管理

  • Python监督程序：负责整个测试流程的自动化控制
  • 仪器配置：通过PyVISA和SCPI协议控制：
    • DC电源：渐进式电压上升、稳定和断电
    • 数字万用表：测量平均DC电流和电压
    • 示波器：使用分段存储快速采集波形
  • 同步机制：使用硬件同步信号触发所有测量，避免通信延迟

2. 信号生成系统

基于OwnTech SPIN控制器实现两种测试模式：

  • 相位差模式：固定占空比，变化两个单元间的相位差
  • 占空比差模式：零相位差，变化两个单元间的占空比差

3. 功率硬件平台

  • 使用Infineon EVAL-1ED3122Mx12H评估板
  • 包含隔离驱动器的半桥开关单元
  • 支持600V/20A的功率等级
  • 采用200V/20A硅MOSFET进行验证

技术创新点

  1. 多仪器同步测量：通过硬件同步信号实现多个测量仪器的精确同步，消除通信延迟影响
  2. 自适应测量时间控制：在测量精度和热效应之间找到最优平衡
  3. JSON配置文件系统：实现灵活的测试参数配置和实验设计
  4. 纳秒级时序控制：利用5.4GHz时钟实现高精度死区时间控制

实验设置

硬件配置

  • 功率器件：200V/20A硅MOSFET (TO-247-3封装)
  • 评估板：Infineon EVAL-1ED3122Mx12H
  • 电感：50μH
  • 控制器：OwnTech SPIN (5.4GHz时钟)

测试参数范围

  • DC母线电压：30V - 60V
  • 开关频率：50kHz - 80kHz
  • 峰值电流：0.5A - 3A
  • 死区时间：300ns
  • 测量时间：1ms - 20ms

评价指标

  • 开关损耗能量 (E_off, E_on)
  • 平均功率损耗
  • 测量精度和重复性
  • 系统自动化程度

实验结果

主要结果

1. 系统功能验证

成功实现了完全自动化的测试流程：

  • 自动生成测试配置文件
  • 自动控制所有测量仪器
  • 自动执行多参数扫描测试
  • 自动数据采集和初步处理

2. 开关损耗测量结果

在30V-50V母线电压范围内，成功提取了关断损耗能量：

  • E_off vs I_peak关系：在0.5A-1.5A电流范围内，关断损耗从0.2μJ增长到1.0μJ
  • 电压依赖性：更高母线电压下开关损耗显著增加
  • 测量一致性：多次测量结果显示良好的重复性

3. 波形质量分析

获得了高质量的电压电流波形：

  • 清晰的开关瞬态过程
  • 精确的死区时间控制
  • 良好的信号同步性

案例分析

典型工作点测试

  • 参数：60V母线电压，80kHz开关频率，3A峰值电流
  • 结果：成功捕获完整的开关瞬态过程，验证了对置法的有效性

自动扫描测试

实现了多维参数空间的自动扫描：

  • 电压扫描：30V, 40V, 50V
  • 电流扫描：0.5A - 1.5A (5个点)
  • 自动提取每个工作点的开关损耗

实验发现

  1. 热效应影响：通过LTspice电热仿真发现，200ms测试时间会导致显著的结温上升
  2. 测量精度权衡：需要在测量精度和测试时间之间找到最优平衡
  3. 系统稳定性：自动化系统在长时间运行中表现稳定可靠

相关工作

对置法发展历程

  1. Forest et al. (2006)：首次系统性地提出对置法用于大功率电子变换器测试
  2. Brandelero et al. (2013)：将对置法应用于GaN功率晶体管的非侵入式开关损耗测量
  3. Sathler & Cougo (2017)：改进对置法以提高宽禁带晶体管开关能量估算精度
  4. Nguyen Tien et al. (2023)：开发了基于对置法的半导体损耗估算仪器

本文相比相关工作的优势

  1. 完整自动化：首次实现从信号生成到数据处理的全流程自动化
  2. 开源开放：所有设计和代码完全开源，促进技术推广
  3. 多参数优化：同时考虑测量精度、速度和热管理
  4. 协作模式创新：通过黑客马拉松模式实现跨领域技术整合

结论与讨论

主要结论

  1. 成功开发了完整的自动化对置法测试台，验证了开放协作科学模式的有效性
  2. 实现了纳秒级时序控制和多仪器同步测量，满足现代功率器件测试需求
  3. 通过开源方式为功率电子测试领域提供了标准化解决方案

局限性

  1. 热管理：当前版本未能完全解决自热效应对测量精度的影响
  2. 功率等级限制：验证仅在中等功率等级(200V/20A)进行，高功率应用需要进一步验证
  3. 校准自动化：缺乏电路参数(电感、电阻)的自动校准功能
  4. 安全机制：缺乏通信故障等异常情况的自动安全保护

未来方向

  1. 热优化测试序列：开发考虑热效应的智能测试序列
  2. 自动校准系统：实现电路参数的自动识别和校准
  3. 扩展功率范围：适配更高功率等级和不同封装的器件
  4. 数据库建设：建立开放的器件特性数据库
  5. 精度分析：与其他测量方法进行系统性精度对比

深度评价

优点

技术创新性

  1. 系统集成创新：首次将仪器控制、信号生成、功率硬件完整集成为自动化系统
  2. 时序控制精度：5.4GHz时钟实现的纳秒级控制代表了该领域的先进水平
  3. 同步测量方案：硬件同步触发解决了多仪器测量的时序一致性问题

方法论贡献

  1. 开放科学实践：展示了复杂技术系统开发的新模式
  2. 跨领域协作：成功整合了仪器、控制、功率电子等多个专业领域
  3. 知识传播：通过开源方式降低了技术门槛，有利于推广应用

实用价值

  1. 即用性：提供了完整可用的测试解决方案
  2. 可扩展性：模块化设计便于适配不同应用需求
  3. 教育价值：为相关领域的教学和培训提供了优质资源

不足

技术局限

  1. 热管理不完善：电热仿真显示存在显著热效应，但缺乏有效的实时热管理策略
  2. 功率范围有限：仅在中等功率器件上验证，高功率应用的适用性有待验证
  3. 精度分析不足：缺乏与标准方法的定量精度对比

实验设计

  1. 器件类型单一：主要使用硅MOSFET验证，SiC/GaN器件的验证不充分
  2. 长期稳定性：缺乏长期运行的可靠性验证
  3. 极端条件测试：未涉及高温、高频等极端工况的测试

系统完整性

  1. 安全机制缺失：缺乏完善的故障检测和保护机制
  2. 用户界面简单：GUI功能相对基础，用户体验有待改善
  3. 文档不够详细：技术文档的完整性和易用性需要加强

影响力

学术价值

  1. 方法论贡献：为功率电子测试标准化提供了重要参考
  2. 协作模式示范：开放科学实践为其他领域提供了可借鉴的经验
  3. 技术推进：推动了自动化测试技术在功率电子领域的应用

实用影响

  1. 工业应用潜力：可直接应用于功率器件制造商的产品测试
  2. 教育推广：为高校和研究机构提供了优质的教学和研究工具
  3. 标准化促进：有助于建立行业测试标准和规范

技术生态

  1. 开源生态建设：为功率电子开源社区贡献了重要资源
  2. 跨领域融合：促进了测试测量与功率电子技术的深度融合
  3. 人才培养：为相关领域人才培养提供了实践平台

适用场景

  1. 器件制造商：功率半导体器件的产品开发和质量控制
  2. 研究机构：功率电子相关的科研项目和学术研究
  3. 教育机构：电力电子课程的实验教学和项目实践
  4. 测试服务：第三方测试机构的标准化测试服务

参考文献

  1. Brandelero, J., et al. "A non-intrusive method for measuring switching losses of gan power transistors." IECON 2013.
  2. Forest, F., et al. "Use of the opposition Method in the Test of High Power Electronics Converters." IEEE Transactions on Industrial Electronics, 2006.
  3. Sathler, H., & Cougo, B. "Improvement of the modified opposition method used for accurate switching energy estimation of wbg transistors." IEEE WiPDA, 2017.
  4. GitHub Repository: https://github.com/owntech-foundation/test_bench_code

总体评价：这是一篇具有重要实用价值和方法论创新的论文。作者通过开放协作的方式成功解决了复杂的技术挑战，不仅提供了完整的技术解决方案，更重要的是展示了一种新的科研协作模式。尽管在某些技术细节上还有改进空间，但其开源开放的理念和跨领域协作的实践为相关领域的发展做出了重要贡献。