Detection of High Impedance Faults in Microgrids using Machine Learning
Bera, Kumar, Pani et al.
This article presents differential protection of the distribution line connecting a wind farm in a microgrid. Machine Learning (ML) based models are built using differential features extracted from currents at both ends of the line to assist in relaying decisions. Wavelet coefficients obtained after feature selection from an extensive list of features are used to train the classifiers. Internal faults are distinguished from external faults with CT saturation. The internal faults include the high impedance faults (HIFs) which have very low currents and test the dependability of the conventional relays. The faults are simulated in a 5-bus system in PSCAD/EMTDC. The results show that ML-based models can effectively distinguish faults and other transients and help maintain security and dependability of the microgrid operation.
academic
Erkennung von Hochimpedanzfehlern in Mikronetzen mittels maschinellen Lernens
In diesem Artikel wird eine auf maschinellem Lernen basierende Methode zur Erkennung von Hochimpedanzfehlern (HIFs) in Mikronetzen vorgestellt. Diese nutzt das Differentialschutzprinzip zum Schutz von Verteilungsleitungen mit angeschlossenen Windkraftanlagen. Die Methode extrahiert Differentialmerkmale aus Strömen an beiden Enden der Leitung zur Konstruktion eines Modells für maschinelles Lernen, das die Entscheidungsfindung des Relaisschutzes unterstützt. Nach Merkmalsauswahl werden Wavelet-Koeffizienten zum Trainieren von Klassifiziern verwendet, um zwischen Innenfehlern und Außenfehlern mit CT-Sättigung zu unterscheiden. Innenfehler umfassen Hochimpedanzfehler mit extrem kleinen Fehlerströmen (HIFs), die eine Herausforderung für die Zuverlässigkeit herkömmlicher Relais darstellen. Die Untersuchung wurde in einem 5-Knoten-System in PSCAD/EMTDC durchgeführt. Die Ergebnisse zeigen, dass das auf maschinellem Lernen basierende Modell effektiv zwischen Fehlern und anderen transienten Vorgängen unterscheiden kann und zur Gewährleistung der Sicherheit und Zuverlässigkeit des Mikronetzbetriebs beiträgt.
Schwierigkeit der Hochimpedanzfehlererkennung: Hochimpedanzfehler (HIFs) in Verteilungsnetzen erzeugen extrem kleine Fehlerstromamplituden und umgehen häufig herkömmliche Überstromrelais, ohne erkannt zu werden
Schutzherausforderungen in Mikronetzen: Der Fehlerstrom in Mikronetzen variiert je nach Art der dezentralen Erzeugung, Betriebsbedingungen und Netzwerk-Topologie, was herkömmliche Überstromrelais unzuverlässig macht
Sicherheitsrisiken: Der Kontakt stromführender Leiter mit dem Boden stellt eine Gefahr für Fauna und Flora dar und verursacht Schäden
Mit dem Wachstum und der Entwicklung dezentraler Erzeugung wird das Auftreten von Niederströmfehlern nur zunehmen
Es ist ein zuverlässiges und schnelles Schutzsystem erforderlich, um diese Herausforderungen zu bewältigen
Mikronetze sind von großer Bedeutung für die Reduzierung von Verteilungsverlusten, die Stromerzeugung am Verbrauchsort und die Verbesserung der Zuverlässigkeit
Vorschlag eines auf maschinellem Lernen basierenden Differentialschutzschemas für Mikronetze: Kombination des Differentialschutzprinzips mit Techniken des maschinellen Lernens zur Verbesserung der HIF-Erkennungsgenauigkeit
Erstellung eines umfassenden Fehlersimulationsdatensatzes: Generierung von 2175 Fehlerproben in einem 5-Knoten-Mikronetzystem, die verschiedene Betriebsbedingungen abdecken
Implementierung einer Vergleichsanalyse mehrerer Algorithmen: Bewertung der Leistung von 7 verschiedenen Algorithmen des maschinellen Lernens, wobei Support Vector Machines eine Genauigkeit von 100% erreichen
Validierung der Wirksamkeit von Wavelet-Transformationsmerkmalen: Durch Merkmalsauswahl werden Wavelet-Koeffizienten als optimale Merkmale bestimmt und die Klassifizierungsleistung verbessert
Eingabe: Dreiphasige Differentialstromsignale, die von CT an beiden Enden der Leitung erfasst werden
Ausgabe: Fehlertypklassifizierung (Innenfehler vs. Außenfehler)
Einschränkungen: Unterscheidung zwischen Hochimpedanz-Innenfehlern und Außenfehlern mit CT-Sättigung erforderlich
Ein Modell mit zwei antiparallelen Gleichspannungsquellen, die über zwei Dioden und zwei variable Widerstände verbunden sind, wird verwendet:
Wenn Vph > Vp: positive Halbwelle
Wenn Vph < Vn: negative Halbwelle
Wenn Vn < Vph < Vp: Strom ist Null
Wobei der variable Widerstand den dynamischen Lichtbogen simuliert und die sich ändernde Gleichspannungsquelle die Asymmetrie des Fehlerstroms simuliert.
Merkmalsauswahl: Verwendung von Informationsgewinn zur Berechnung der Merkmalswichtigkeit; Wavelet-Koeffizienten werden als optimale Merkmale ausgewählt
Rastersuche wird zur Hyperparameter-Optimierung für jeden Algorithmus verwendet, und Kreuzvalidierung wird zur Vermeidung von Überanpassung eingesetzt.
Wavelet-Koeffizienten wurden im Merkmalsauswahlprozess als die diskriminativsten Merkmale bestimmt und können die Zeit-Frequenz-Charakteristiken von Fehlersignalen effektiv erfassen.
Starke Methodennovation: Die Kombination von Differentialschutz und maschinellem Lernen bietet neue Perspektiven für den Mikronetzschutz
Umfassende Experimentgestaltung: Berücksichtigung verschiedener Betriebsbedingungen und Fehlertypen; gut konstruierter Datensatz
Ausreichender Algorithmusvergleich: Bewertung von 7 verschiedenen Algorithmen bietet Auswahlmöglichkeiten für praktische Anwendungen
Vollständige Leistungsindikatoren: Gleichzeitige Berücksichtigung von Zuverlässigkeit und Sicherheit gemäß den Anforderungen des Elektroenergieschutzes
Das Papier zitiert 24 verwandte Referenzen, die hauptsächlich folgende Themen abdecken:
Traditionelle Methoden und aufstrebende Technologien zur HIF-Erkennung
Anwendung von maschinellem Lernen im Elektroenergieschutz
Verwandte Forschung zum Mikronetzschutz
Wavelet-Transformations- und Merkmalsextraktionstechniken
Gesamtbewertung: Dies ist ein anwendungsorientiertes Forschungspapier mit klarer technischer Route und angemessener Experimentgestaltung. Obwohl die theoretische Innovation begrenzt ist, bietet es eine effektive technische Lösung für das praktische Ingenieurproblem der Hochimpedanzfehlererkennung in Mikronetzen und hat guten praktischen Wert und Ausbreitungspotenzial.