Offene und kollaborative Wissenschaft zur Entwicklung einer automatisierten Messbank zur Charakterisierung von Schaltverluste durch Opposition

Grundinformationen

• Papier-ID: 2510.09725
• Titel: Offene und kollaborative Wissenschaft zur Entwicklung einer automatisierten Messbank zur Charakterisierung von Schaltverluste durch Opposition
• Autoren: Nicolas Rouger, Luiz Villa, Matthieu Masson, Pauline Kergus, Joseph Kemdeng, Lorenzo Leijnen, Jean Alinei, Adrien Colomb, Ayoub Farah-Hassan, Arnauld Biganzoli
• Klassifizierung: physics.ed-ph cs.SY eess.SY
• Konferenz: SYMPOSIUM DE GENIE ELECTRIQUE (SGE 2025), 1-3 JULI 2025, TOULOUSE, FRANKREICH
• Papierlink: https://arxiv.org/abs/2510.09725

Zusammenfassung

Schaltverluste von Leistungstransistoren werden üblicherweise mit der Doppelimpuls-Methode gemessen. Die Gegenpol-Messung zweier Schaltelemente ist eine komplementäre Methode, die präziser, aber indirekter ist. Die Implementierung dieser Methode kann jedoch komplexer sein und erfordert Kalibrierungsschritte, umfassende Kontrolle und Wärmemanagemententgegnung. Um dieses Problem zu lösen, schlagen die Autoren einen Ansatz durch offene und kollaborative Wissenschaft vor, zunächst durch einen zweitägigen Hackathon, gefolgt von monatlichen offenen Treffen. Über 20 Teilnehmer trugen zum zweitägigen Hackathon bei, gefolgt von monatlichen Treffen für diejenigen, die die Zusammenarbeit fortsetzen möchten. Dies ermöglichte die Entwicklung einer automatisierten Messbank mit offener Wissenschaftsmethodik, einschließlich Schaltsignalerzeugung, Konfiguration und Steuerung von Messinstrumenten sowie Hardwarekomponenten.

Forschungshintergrund und Motivation

Kernproblematik

Die präzise Messung von Schaltverluste bei Leistungstransistoren ist eine Schlüsseltechnische Herausforderung in der Leistungselektronik. Obwohl die traditionelle Doppelimpuls-Messmethode weit verbreitet ist, weist sie Genauigkeitsbeschränkungen auf. Die Oppositionsmethode als präzisere Messmethode misst die durchschnittliche Leistungsverluste durch gegenphasiges Arbeiten zweier Schaltelemente.

Bedeutung des Problems

1. Genauigkeitsanforderungen: Mit der Entwicklung von Breitbandhalbleiterbauelementen wie SiC und GaN werden Schaltgeschwindigkeiten immer höher, und die Anforderungen an Messgenauigkeit und Zeitauflösung steigen kontinuierlich an, was Nanosekunden-Zeitsteuerung erfordert
2. Wärmemanagemententgegnung: Die Oppositionsmethode erfordert, dass Bauelemente bei Nennleistung kontinuierlich arbeiten und Selbsterwärmungseffekte erzeugen, weshalb Messungen schnell durchgeführt werden müssen, um Temperaturabweichungen zu vermeiden
3. Technische Komplexität: Die Implementierung einer automatisierten Oppositionsmethoden-Messbank erfordert die Integration von Instrumentensteuerung, Signalerzeugung, Leistungshardware und anderen technischen Bereichen

Einschränkungen bestehender Methoden

• Die Doppelimpuls-Methode hat begrenzte Genauigkeit, besonders bei schnellen Schaltelementen
• Die Oppositionsmethode ist zwar präzise, aber komplex in der Implementierung und es fehlen standardisierte automatisierte Testlösungen
• Bestehende Implementierungen erfordern üblicherweise tiefes Wissen in mehreren Fachbereichen, was besonders für Forscher und Doktoranden eine Herausforderung darstellt

Forschungsmotivation

Die Autoren wenden einen innovativen Ansatz der offenen kollaborativen Wissenschaft an und bringen durch Hackathons und monatliche Treffen Experten aus verschiedenen Bereichen zusammen, um dieses komplexe technische Problem zu lösen, wobei alle Ergebnisse in Open-Source-Form geteilt werden.

Kernbeiträge

1. Entwicklung einer vollständigen automatisierten Oppositionsmethoden-Messbank: Eine umfassende Lösung mit Hardwaredesign, Instrumentensteuerung und Signalerzeugung
2. Implementierung eines Python-Supervisory-Control-Systems: Automatische Steuerung verschiedener Messinstrumente über SCPI-Protokoll mit synchronisierter Messung
3. Aufbau eines hochpräzisen Signalerzeugungssystems: Basierend auf dem OwnTech SPIN-Controller mit Nanosekunden-Zeitsteuerung bei bis zu 5,4 GHz Taktfrequenz
4. Bereitstellung einer vollständigen Open-Source-Lösung: Alle Codes und Designs werden unter GPL v3-Lizenz veröffentlicht
5. Validierung des kollaborativen Wissenschaftsmodells: Erfolgreiche Entwicklung eines komplexen Technologiesystems durch einen Hackathon mit über 20 Teilnehmern

Methodische Details

Aufgabendefinition

Entwicklung eines vollständig automatisierten Systems zur Messung von Schaltverluste bei Leistungstransistoren, das folgende Funktionen erfüllt:

• Automatische Konfiguration und Steuerung von Messinstrumenten
• Erzeugung präzise synchronisierter Schaltsteuersignale
• Durchführung schneller und präziser Leistungsverlustmessungen
• Minimierung der Messzeit zur Reduzierung von Wärmeffekten

Systemarchitektur

Das System besteht aus drei Hauptkomponenten:

1. Supervisory Control und Instrumentenmanagement

• Python-Supervisory-Programm: Verantwortlich für die automatisierte Steuerung des gesamten Testprozesses
• Instrumentenkonfiguration: Steuerung über PyVISA und SCPI-Protokoll:
  • Gleichstromquelle: Progressive Spannungserhöhung, Stabilisierung und Abschaltung
  • Digitales Multimeter: Messung durchschnittlicher Gleichstrom und Spannung
  • Oszilloskop: Schnelle Wellenformerfassung mit Segmentspeicher
• Synchronisierungsmechanismus: Verwendung von Hardware-Synchronisierungssignalen zur Auslösung aller Messungen, um Kommunikationsverzögerungen zu vermeiden

2. Signalerzeugungssystem

Basierend auf dem OwnTech SPIN-Controller mit zwei Testmodi:

• Phasendifferenzmodus: Feste Auslastung mit Variation der Phasendifferenz zwischen zwei Elementen
• Auslastungsdifferenzmodus: Null-Phasendifferenz mit Variation der Auslastungsdifferenz zwischen zwei Elementen

3. Leistungshardware-Plattform

• Verwendung des Infineon EVAL-1ED3122Mx12H-Evaluierungsboards
• Halbbrücken-Schaltelemente mit isolierten Treibern
• Unterstützung für 600V/20A-Leistungsklasse
• Verifizierung mit 200V/20A-Silizium-MOSFETs

Technische Innovationspunkte

1. Multi-Instrument-Synchronmessung: Präzise Synchronisierung mehrerer Messinstrumente durch Hardware-Synchronisierungssignale, Eliminierung von Kommunikationsverzögerungseffekten
2. Adaptive Messzeitsteuerung: Optimale Balance zwischen Messgenauigkeit und Wärmeffekten
3. JSON-Konfigurationsdateisystem: Flexible Testparameterkonfiguration und Experimentdesign
4. Nanosekunden-Zeitsteuerung: Hochpräzise Totzeit-Steuerung mit 5,4 GHz-Taktfrequenz

Experimentelle Einrichtung

Hardwarekonfiguration

• Leistungsbauelement: 200V/20A Silizium-MOSFET (TO-247-3-Gehäuse)
• Evaluierungsboard: Infineon EVAL-1ED3122Mx12H
• Induktivität: 50μH
• Controller: OwnTech SPIN (5,4 GHz Taktfrequenz)

Testparameterbereich

• Gleichspannungsbus: 30V - 60V
• Schaltfrequenz: 50kHz - 80kHz
• Spitzenstrom: 0,5A - 3A
• Totzeit: 300ns
• Messzeit: 1ms - 20ms

Bewertungskriterien

• Schaltverlustenergie (E_off, E_on)
• Durchschnittliche Leistungsverluste
• Messgenauigkeit und Wiederholbarkeit
• Automatisierungsgrad des Systems

Experimentelle Ergebnisse

Hauptergebnisse

1. Systemfunktionsverifizierung

Erfolgreiche Implementierung eines vollständig automatisierten Testprozesses:

• Automatische Generierung von Testkonfigurationsdateien
• Automatische Steuerung aller Messinstrumente
• Automatische Durchführung von Multi-Parameter-Scantests
• Automatische Datenerfassung und vorläufige Verarbeitung

2. Messergebnisse für Schaltverluste

Erfolgreiche Extraktion von Abschaltverlustenergie im Bereich 30V-50V Bussspannung:

• E_off vs I_peak-Beziehung: Im Strombereich 0,5A-1,5A steigt die Abschaltverlustenergie von 0,2μJ auf 1,0μJ
• Spannungsabhängigkeit: Bei höherer Bussspannung nehmen Schaltverluste deutlich zu
• Messkonsistenz: Mehrfachmessungen zeigen gute Wiederholbarkeit

3. Wellenformqualitätsanalyse

Hochwertige Spannungs- und Stromwellenformen wurden erhalten:

• Klare Schalttransienten
• Präzise Totzeit-Steuerung
• Gute Signalsynchronisierung

Fallstudien

Typischer Arbeitspunkt-Test

• Parameter: 60V Bussspannung, 80kHz Schaltfrequenz, 3A Spitzenstrom
• Ergebnis: Erfolgreiche Erfassung des vollständigen Schalttransientenprozesses, Validierung der Oppositionsmethoden-Wirksamkeit

Automatisierter Scan-Test

Implementierung automatisierter Scans im Multi-Dimensionalen Parameterraum:

• Spannungsscan: 30V, 40V, 50V
• Stromscan: 0,5A - 1,5A (5 Punkte)
• Automatische Extraktion von Schaltverluste für jeden Arbeitspunkt

Experimentelle Erkenntnisse

1. Wärmeffekteinfluss: Durch LTspice-Elektrowärmesimulation wurde festgestellt, dass eine 200ms-Testzeit zu signifikantem Sperrschicht-Temperaturanstieg führt
2. Messgenauigkeits-Kompromiss: Notwendigkeit, optimale Balance zwischen Messgenauigkeit und Testzeit zu finden
3. Systemstabilität: Das automatisierte System zeigt stabile und zuverlässige Leistung bei Langzeitbetrieb

Verwandte Arbeiten

Entwicklungsgeschichte der Oppositionsmethode

1. Forest et al. (2006): Erste systematische Einführung der Oppositionsmethode für Tests von Hochleistungs-Leistungselektronik-Umrichtern
2. Brandelero et al. (2013): Anwendung der Oppositionsmethode auf nicht-invasive Schaltverlustmessungen von GaN-Leistungstransistoren
3. Sathler & Cougo (2017): Verbesserung der Oppositionsmethode zur Erhöhung der Schaltenergie-Schätzgenauigkeit für Breitbandhalbleiter
4. Nguyen Tien et al. (2023): Entwicklung eines auf der Oppositionsmethode basierenden Halbleiterverlust-Messinstruments

Vorteile gegenüber verwandten Arbeiten

1. Vollständige Automatisierung: Erste Implementierung der vollständigen Automatisierung von der Signalerzeugung bis zur Datenverarbeitung
2. Open-Source und Offenheit: Alle Designs und Codes sind vollständig quelloffen, fördern Technologieverbreitung
3. Multi-Parameter-Optimierung: Gleichzeitige Berücksichtigung von Messgenauigkeit, Geschwindigkeit und Wärmemanagemententgegnung
4. Innovatives Kollaborationsmodell: Realisierung der fachübergreifenden Technologieintegration durch Hackathon-Modell

Schlussfolgerungen und Diskussion

Hauptschlussfolgerungen

1. Erfolgreiche Entwicklung einer vollständigen automatisierten Oppositionsmethoden-Messbank, Validierung der Wirksamkeit des offenen kollaborativen Wissenschaftsmodells
2. Realisierung von Nanosekunden-Zeitsteuerung und Multi-Instrument-Synchronmessung, Erfüllung der Testanforderungen moderner Leistungsbauelemente
3. Bereitstellung einer standardisierten Lösung für das Leistungselektronik-Testfeld durch Open-Source-Ansatz

Einschränkungen

1. Wärmemanagemententgegnung: Die aktuelle Version kann Wärmeffekte auf Messgenauigkeit nicht vollständig lösen
2. Leistungsklassen-Beschränkung: Verifizierung nur bei mittlerer Leistungsklasse (200V/20A), Hochleistungsanwendungen erfordern weitere Validierung
3. Automatische Kalibrierung: Fehlende automatische Kalibrierungsfunktion für Schaltungsparameter (Induktivität, Widerstand)
4. Sicherheitsmechanismen: Fehlende automatische Sicherheitsschutzmaßnahmen für Kommunikationsfehler und andere Anomalien

Zukünftige Richtungen

1. Wärmeoptimierte Testsequenzen: Entwicklung intelligenter Testsequenzen unter Berücksichtigung von Wärmeffekten
2. Automatisches Kalibrierungssystem: Realisierung automatischer Erkennung und Kalibrierung von Schaltungsparametern
3. Erweiterung des Leistungsbereichs: Anpassung an höhere Leistungsklassen und verschiedene Bauelementgehäuse
4. Datenbankaufbau: Etablierung einer offenen Bauelementcharakteristik-Datenbank
5. Genauigkeitsanalyse: Systematischer Genauigkeitsvergleich mit anderen Messmethoden

Tiefgreifende Bewertung

Stärken

Technische Innovativität

1. Systemintegrations-Innovation: Erste vollständige Integration von Instrumentensteuerung, Signalerzeugung und Leistungshardware in ein automatisiertes System
2. Zeitsteuerungs-Kontrollgenauigkeit: Die mit 5,4 GHz-Taktfrequenz realisierte Nanosekunden-Steuerung repräsentiert das fortgeschrittene Niveau dieses Feldes
3. Synchronmessungs-Lösung: Hardware-Synchronisierungsauslösung löst das Zeitkonsistenzproblem bei Multi-Instrument-Messungen

Methodologische Beiträge

1. Offene Wissenschaftspraxis: Demonstration eines neuen Modells für die Entwicklung komplexer Technologiesysteme
2. Fachübergreifende Zusammenarbeit: Erfolgreiche Integration von Instrumenten-, Steuerungs- und Leistungselektronik-Fachbereichen
3. Wissensvermittlung: Senkung technischer Barrieren durch Open-Source-Ansatz, förderlich für Verbreitung und Anwendung

Praktischer Wert

1. Gebrauchsbereitschaft: Bereitstellung einer vollständigen nutzbaren Testlösung
2. Erweiterbarkeit: Modulares Design ermöglicht einfache Anpassung an verschiedene Anwendungsanforderungen
3. Bildungswert: Bereitstellung hochwertiger Ressourcen für Lehre und Ausbildung in verwandten Bereichen

Schwächen

Technische Einschränkungen

1. Unvollständiges Wärmemanagemententgegnung: Elektrowärmesimulation zeigt signifikante Wärmeffekte, aber es fehlen effektive Echtzeit-Wärmemanagemententgegnungsstrategien
2. Begrenzte Leistungsbereiche: Verifizierung nur bei mittleren Leistungsbauelementen, Anwendbarkeit bei Hochleistungsanwendungen bedarf Validierung
3. Unzureichende Genauigkeitsanalyse: Fehlender quantitativer Genauigkeitsvergleich mit Standardmethoden

Experimentelles Design

1. Einzelne Bauelementtypen: Hauptsächlich Silizium-MOSFET-Verifizierung, SiC/GaN-Bauelementverifizierung ist unzureichend
2. Langzeitstabilität: Fehlende Zuverlässigkeitsverifizierung für Langzeitbetrieb
3. Extrembedingungen-Tests: Keine Tests unter extremen Bedingungen wie hoher Temperatur und hoher Frequenz

Systemvollständigkeit

1. Fehlende Sicherheitsmechanismen: Unvollständige Fehlererkennungs- und Schutzmaßnahmen
2. Einfache Benutzeroberfläche: Grundlegende GUI-Funktionen, Benutzerfreundlichkeit bedarf Verbesserung
3. Unzureichende Dokumentation: Vollständigkeit und Benutzerfreundlichkeit der technischen Dokumentation benötigen Verbesserung

Einflussfähigkeit

Akademischer Wert

1. Methodologische Beiträge: Wichtige Referenz für Standardisierung von Leistungselektronik-Tests
2. Kollaborationsmodell-Demonstration: Offene Wissenschaftspraxis bietet nachahmenswerte Erfahrungen für andere Bereiche
3. Technischer Fortschritt: Förderung der Anwendung automatisierter Testtechnologie in der Leistungselektronik

Praktischer Einfluss

1. Industrielle Anwendungspotenziale: Direkte Anwendung bei Leistungshalbleiter-Herstellern für Produkttests
2. Bildungsförderung: Bereitstellung hochwertiger Lehr- und Forschungsinstrumente für Hochschulen und Forschungsinstitutionen
3. Standardisierungsförderung: Beitrag zur Etablierung von Industrie-Teststandards und -Normen

Technisches Ökosystem

1. Open-Source-Ökosystem-Aufbau: Wichtige Ressourcenbeiträge zur Leistungselektronik-Open-Source-Gemeinschaft
2. Fachübergreifende Fusion: Förderung der Tiefenintegration von Test- und Messung sowie Leistungselektronik-Technologie
3. Talentförderung: Bereitstellung einer Praktikumsplattform für Talentförderung in verwandten Bereichen

Anwendungsszenarien

1. Bauelementhersteller: Produktentwicklung und Qualitätskontrolle von Leistungshalbleiterbauelementen
2. Forschungsinstitutionen: Forschungsprojekte und akademische Forschung in der Leistungselektronik
3. Bildungsinstitutionen: Experimentelle Lehre und Projektpraxis in Leistungselektronik-Kursen
4. Testdienstleistungen: Standardisierte Testdienstleistungen von Drittanbietern

Literaturverzeichnis

1. Brandelero, J., et al. "A non-intrusive method for measuring switching losses of gan power transistors." IECON 2013.
2. Forest, F., et al. "Use of the opposition Method in the Test of High Power Electronics Converters." IEEE Transactions on Industrial Electronics, 2006.
3. Sathler, H., & Cougo, B. "Improvement of the modified opposition method used for accurate switching energy estimation of wbg transistors." IEEE WiPDA, 2017.
4. GitHub Repository: https://github.com/owntech-foundation/test_bench_code

Gesamtbewertung: Dies ist ein Papier mit wichtigem praktischem Wert und methodologischer Innovation. Die Autoren haben durch offene kollaborative Methoden erfolgreich komplexe technische Herausforderungen gelöst und nicht nur eine vollständige technische Lösung bereitgestellt, sondern noch wichtiger ein neues Modell der wissenschaftlichen Zusammenarbeit demonstriert. Obwohl in einigen technischen Details noch Verbesserungsspielraum besteht, haben die Open-Source-Philosophie und die fachübergreifende Kollaborationspraxis wichtige Beiträge zur Entwicklung verwandter Bereiche geleistet.