2025-11-23T17:10:17.463865

Science ouverte et collaborative pour l'élaboration d'un banc automatisé de caractérisation de pertes en commutation par opposition

Rouger, Villa, Masson et al.
The switching losses of power transistors are generally measured using the so-called double pulse method. Measuring the opposition of two switching cells is a complementary method that is more accurate but indirect. However, implementing this method can be more complex and requires calibration steps and comprehensive control, with the added issue of thermal management. In this context, we proposed to address this topic through open and collaborative science, first in the form of a two-day hackathon, followed by monthly open sessions. More than 20 participants contributed to the two-day hackathon, followed by monthly sessions for those wishing to continue working together. This enabled us to set up an automated bench, in open science, including the generation of switching commands, the configuration and control of measuring instruments, and the hardware part. Here we present and share our work and this open approach.
academic

Science ouverte et collaborative pour l'élaboration d'un banc automatisé de caractérisation de pertes en commutation par opposition

Informations de base

  • ID de l'article : 2510.09725
  • Titre : Science ouverte et collaborative pour l'élaboration d'un banc automatisé de caractérisation de pertes en commutation par opposition
  • Auteurs : Nicolas Rouger, Luiz Villa, Matthieu Masson, Pauline Kergus, Joseph Kemdeng, Lorenzo Leijnen, Jean Alinei, Adrien Colomb, Ayoub Farah-Hassan, Arnauld Biganzoli
  • Classification : physics.ed-ph cs.SY eess.SY
  • Conférence de publication : SYMPOSIUM DE GENIE ELECTRIQUE (SGE 2025), 1-3 JUILLET 2025, TOULOUSE, FRANCE
  • Lien de l'article : https://arxiv.org/abs/2510.09725

Résumé

Les pertes en commutation des transistors de puissance sont généralement mesurées à l'aide de la méthode de double impulsion. La mesure par opposition de deux cellules de commutation constitue une méthode complémentaire plus précise mais indirecte. Cependant, la mise en œuvre de cette méthode peut s'avérer plus complexe, nécessitant des étapes d'étalonnage et un contrôle complet, ainsi que la gestion thermique. Dans ce contexte, les auteurs proposent de résoudre ce problème par la science ouverte et collaborative, d'abord par un hackathon de deux jours, puis par des réunions ouvertes mensuelles. Plus de 20 participants ont contribué au hackathon de deux jours, suivi de réunions mensuelles pour ceux souhaitant poursuivre la collaboration. Cela a permis d'établir un banc d'essai automatisé, selon une approche de science ouverte, incluant la génération de commandes de commutation, la configuration et le contrôle des instruments de mesure, ainsi que la partie matérielle.

Contexte et motivation de la recherche

Problème fondamental

La mesure précise des pertes en commutation des transistors de puissance constitue un défi technologique clé dans le domaine de l'électronique de puissance. Bien que la méthode traditionnelle de double impulsion soit largement utilisée, elle présente des limitations en termes de précision. La méthode par opposition, en tant que méthode de mesure plus précise, mesure les pertes de puissance moyenne par le fonctionnement en opposition de deux cellules de commutation.

Importance du problème

  1. Exigences de précision : Avec le développement des dispositifs à large bande interdite tels que SiC et GaN, les vitesses de commutation augmentent continuellement, nécessitant une précision de mesure et une résolution temporelle accrues, avec un contrôle temporel au niveau de la nanoseconde.
  2. Défis de gestion thermique : La méthode par opposition nécessite que le dispositif fonctionne en continu au point de puissance nominale, générant un auto-échauffement qui doit être mesuré rapidement pour éviter la dérive de température.
  3. Complexité technique : La mise en œuvre d'un banc d'essai automatisé par opposition nécessite l'intégration de plusieurs domaines technologiques : contrôle d'instruments, génération de signaux et matériel de puissance.

Limitations des approches existantes

  • La méthode de double impulsion présente une précision limitée, particulièrement pour les dispositifs à commutation rapide.
  • Bien que précise, la méthode par opposition est complexe à mettre en œuvre et manque de solutions de test automatisé standardisées.
  • Les implémentations existantes nécessitent généralement des connaissances approfondies dans plusieurs domaines spécialisés, ce qui pose un défi particulier aux chercheurs, notamment aux doctorants.

Motivation de la recherche

Les auteurs adoptent une approche innovante de science ouverte et collaborative, en utilisant un hackathon et des réunions mensuelles pour rassembler des experts multidisciplinaires afin de résoudre ce problème technique complexe, avec tous les résultats partagés sous forme de code source ouvert.

Contributions principales

  1. Développement d'un banc d'essai complet automatisé par opposition : incluant une solution complète de conception matérielle, contrôle d'instruments et génération de signaux.
  2. Implémentation d'un système de contrôle supervisé en Python : contrôlant automatiquement plusieurs instruments de mesure via le protocole SCPI, permettant les mesures synchronisées.
  3. Construction d'un système de génération de signaux haute précision : basé sur le contrôleur OwnTech SPIN, réalisant un contrôle temporel au niveau de la nanoseconde avec une horloge jusqu'à 5,4 GHz.
  4. Fourniture d'une solution complète en source ouverte : tous les codes et conceptions sont publiés en source ouverte sous la licence GPL v3.
  5. Validation du modèle de science collaborative : démontrant le succès du développement de systèmes technologiques complexes avec plus de 20 participants au hackathon.

Détails méthodologiques

Définition des tâches

Développer un système entièrement automatisé de mesure des pertes en commutation des transistors de puissance capable de :

  • Configurer et contrôler automatiquement les instruments de mesure
  • Générer des signaux de commande de commutation précisément synchronisés
  • Réaliser des mesures rapides et précises des pertes de puissance
  • Minimiser le temps de mesure pour réduire l'impact des effets thermiques

Architecture du système

Le système comprend trois composants principaux :

1. Contrôle supervisé et gestion des instruments

  • Programme supervisé en Python : responsable de l'automatisation complète du processus de test
  • Configuration des instruments : contrôle via PyVISA et protocole SCPI :
    • Alimentation CC : montée progressive de tension, stabilisation et arrêt
    • Multimètre numérique : mesure du courant et de la tension CC moyens
    • Oscilloscope : acquisition rapide de formes d'onde utilisant le stockage segmenté
  • Mécanisme de synchronisation : utilisation de signaux de synchronisation matérielle pour déclencher toutes les mesures, évitant les délais de communication

2. Système de génération de signaux

Basé sur le contrôleur OwnTech SPIN implémentant deux modes de test :

  • Mode différence de phase : rapport cyclique fixe, variation de la différence de phase entre les deux cellules
  • Mode différence de rapport cyclique : différence de phase nulle, variation de la différence de rapport cyclique entre les deux cellules

3. Plateforme matérielle de puissance

  • Utilisation de la carte d'évaluation Infineon EVAL-1ED3122Mx12H
  • Incluant des cellules de commutation demi-pont avec pilotes isolés
  • Support de la classe de puissance 600V/20A
  • Vérification avec MOSFET silicium 200V/20A

Points d'innovation technique

  1. Mesure synchronisée multi-instruments : réalisation de la synchronisation précise de plusieurs instruments de mesure via signaux de synchronisation matérielle, éliminant l'impact des délais de communication.
  2. Contrôle adaptatif du temps de mesure : équilibre optimal entre la précision de mesure et les effets thermiques.
  3. Système de configuration par fichiers JSON : permettant une configuration flexible des paramètres de test et la conception d'expériences.
  4. Contrôle temporel au niveau de la nanoseconde : utilisant une horloge de 5,4 GHz pour un contrôle haute précision du temps mort.

Configuration expérimentale

Configuration matérielle

  • Dispositif de puissance : MOSFET silicium 200V/20A (boîtier TO-247-3)
  • Carte d'évaluation : Infineon EVAL-1ED3122Mx12H
  • Inductance : 50 μH
  • Contrôleur : OwnTech SPIN (horloge 5,4 GHz)

Plage de paramètres de test

  • Tension du bus CC : 30V - 60V
  • Fréquence de commutation : 50 kHz - 80 kHz
  • Courant de crête : 0,5A - 3A
  • Temps mort : 300 ns
  • Temps de mesure : 1 ms - 20 ms

Indicateurs d'évaluation

  • Énergie de pertes en commutation (E_off, E_on)
  • Pertes de puissance moyenne
  • Précision et reproductibilité de la mesure
  • Degré d'automatisation du système

Résultats expérimentaux

Résultats principaux

1. Vérification de la fonctionnalité du système

Mise en œuvre réussie d'un processus de test entièrement automatisé :

  • Génération automatique de fichiers de configuration de test
  • Contrôle automatique de tous les instruments de mesure
  • Exécution automatique de tests de balayage multi-paramètres
  • Acquisition et traitement préliminaire automatiques des données

2. Résultats de mesure des pertes en commutation

Extraction réussie de l'énergie de commutation en fermeture dans la plage de tension du bus 30V-50V :

  • Relation E_off vs I_peak : dans la plage de courant 0,5A-1,5A, l'énergie de commutation en fermeture augmente de 0,2 μJ à 1,0 μJ
  • Dépendance à la tension : les pertes en commutation augmentent significativement à des tensions de bus plus élevées
  • Cohérence de mesure : les résultats de mesures multiples montrent une bonne reproductibilité

3. Analyse de la qualité des formes d'onde

Obtention de formes d'onde tension-courant haute qualité :

  • Processus de transition de commutation clair
  • Contrôle précis du temps mort
  • Bonne synchronisation des signaux

Analyse de cas

Test de point de fonctionnement typique

  • Paramètres : tension du bus 60V, fréquence de commutation 80 kHz, courant de crête 3A
  • Résultats : capture réussie du processus de transition de commutation complet, validant l'efficacité de la méthode par opposition

Test de balayage automatique

Mise en œuvre du balayage automatique dans l'espace de paramètres multidimensionnel :

  • Balayage de tension : 30V, 40V, 50V
  • Balayage de courant : 0,5A - 1,5A (5 points)
  • Extraction automatique des pertes en commutation pour chaque point de fonctionnement

Découvertes expérimentales

  1. Impact des effets thermiques : la simulation électrothermique LTspice révèle qu'un temps de test de 200 ms provoque une augmentation significative de la température de jonction.
  2. Compromis de précision de mesure : nécessité de trouver un équilibre optimal entre la précision de mesure et le temps de test.
  3. Stabilité du système : le système automatisé démontre une performance stable et fiable lors d'une utilisation prolongée.

Travaux connexes

Évolution de la méthode par opposition

  1. Forest et al. (2006) : première proposition systématique de la méthode par opposition pour le test des convertisseurs de puissance haute puissance.
  2. Brandelero et al. (2013) : application de la méthode par opposition à la mesure non-intrusive des pertes en commutation des transistors de puissance GaN.
  3. Sathler & Cougo (2017) : amélioration de la méthode par opposition pour augmenter la précision de l'estimation de l'énergie de commutation des transistors à large bande interdite.
  4. Nguyen Tien et al. (2023) : développement d'un instrument d'estimation des pertes des semi-conducteurs basé sur la méthode par opposition.

Avantages par rapport aux travaux connexes

  1. Automatisation complète : première implémentation de l'automatisation complète du processus de la génération de signaux au traitement des données.
  2. Ouverture et partage : tous les conceptions et codes sont entièrement en source ouverte, favorisant la promotion technologique.
  3. Optimisation multi-paramètres : considération simultanée de la précision de mesure, de la vitesse et de la gestion thermique.
  4. Innovation du modèle collaboratif : intégration technologique transdisciplinaire réussie via le modèle hackathon.

Conclusions et discussion

Conclusions principales

  1. Développement réussi d'un banc d'essai complet automatisé par opposition, validant l'efficacité du modèle de science ouverte et collaborative.
  2. Réalisation d'un contrôle temporel au niveau de la nanoseconde et de mesures synchronisées multi-instruments, répondant aux exigences de test des dispositifs de puissance modernes.
  3. Fourniture d'une solution standardisée en source ouverte pour le domaine du test de l'électronique de puissance.

Limitations

  1. Gestion thermique : la version actuelle ne résout pas complètement l'impact de l'auto-échauffement sur la précision de mesure.
  2. Limitation de la classe de puissance : la vérification n'a été effectuée que sur une classe de puissance moyenne (200V/20A), nécessitant une vérification supplémentaire pour les applications haute puissance.
  3. Automatisation de l'étalonnage : absence de fonctionnalité d'étalonnage automatique des paramètres de circuit (inductance, résistance).
  4. Mécanismes de sécurité : absence de protection de sécurité automatique en cas de défaillance de communication ou d'autres anomalies.

Directions futures

  1. Séquence de test thermiquement optimisée : développement de séquences de test intelligentes tenant compte des effets thermiques.
  2. Système d'étalonnage automatique : implémentation de l'identification et de l'étalonnage automatiques des paramètres de circuit.
  3. Extension de la plage de puissance : adaptation à des classes de puissance plus élevées et à différents types de boîtiers de dispositifs.
  4. Construction de base de données : établissement d'une base de données ouverte de caractéristiques de dispositifs.
  5. Analyse de précision : comparaison systématique de la précision avec d'autres méthodes de mesure.

Évaluation approfondie

Points forts

Innovation technologique

  1. Innovation d'intégration système : première intégration complète du contrôle d'instruments, de la génération de signaux et du matériel de puissance en système automatisé.
  2. Précision du contrôle temporel : le contrôle au niveau de la nanoseconde réalisé par horloge 5,4 GHz représente le niveau avancé du domaine.
  3. Solution de mesure synchronisée : le déclenchement de synchronisation matérielle résout le problème de cohérence temporelle des mesures multi-instruments.

Contributions méthodologiques

  1. Pratique de science ouverte : démonstration d'un nouveau modèle pour le développement de systèmes technologiques complexes.
  2. Collaboration transdisciplinaire : intégration réussie de plusieurs domaines spécialisés : instruments, contrôle et électronique de puissance.
  3. Diffusion des connaissances : réduction des barrières technologiques par l'approche en source ouverte, favorisant l'adoption et l'application.

Valeur pratique

  1. Disponibilité immédiate : fourniture d'une solution de test complète et utilisable.
  2. Extensibilité : conception modulaire facilitant l'adaptation à différents besoins d'application.
  3. Valeur éducative : fourniture de ressources de qualité pour l'enseignement et la formation dans les domaines connexes.

Insuffisances

Limitations techniques

  1. Gestion thermique imparfaite : la simulation électrothermique révèle des effets thermiques significatifs, mais manque de stratégies efficaces de gestion thermique en temps réel.
  2. Plage de puissance limitée : vérification uniquement sur dispositifs de puissance moyenne, l'applicabilité aux applications haute puissance reste à vérifier.
  3. Analyse de précision insuffisante : absence de comparaison quantitative de précision avec les méthodes standardisées.

Conception expérimentale

  1. Type de dispositif unique : vérification principalement avec MOSFET silicium, vérification insuffisante des dispositifs SiC/GaN.
  2. Stabilité à long terme : absence de vérification de fiabilité pour une utilisation prolongée.
  3. Test en conditions extrêmes : pas de test en conditions extrêmes telles que haute température et haute fréquence.

Complétude du système

  1. Absence de mécanismes de sécurité : manque de mécanismes complets de détection de défaillance et de protection.
  2. Interface utilisateur simple : fonctionnalités GUI relativement basiques, expérience utilisateur à améliorer.
  3. Documentation insuffisante : complétude et facilité d'utilisation de la documentation technique à renforcer.

Impact

Valeur académique

  1. Contribution méthodologique : fourniture d'une référence importante pour la standardisation du test de l'électronique de puissance.
  2. Démonstration du modèle collaboratif : expérience de pratique de science ouverte applicable à d'autres domaines.
  3. Avancement technologique : promotion de l'application de la technologie de test automatisé dans le domaine de l'électronique de puissance.

Impact pratique

  1. Potentiel d'application industrielle : application directe possible aux tests de produits des fabricants de dispositifs de puissance.
  2. Promotion éducative : fourniture d'outils de qualité pour l'enseignement et la recherche dans les universités et instituts de recherche.
  3. Promotion de la standardisation : contribution à l'établissement de normes et de spécifications de test industrielles.

Écosystème technologique

  1. Construction d'écosystème en source ouverte : contribution de ressources importantes à la communauté en source ouverte de l'électronique de puissance.
  2. Fusion transdisciplinaire : promotion de la fusion profonde entre la technologie de test et mesure et l'électronique de puissance.
  3. Formation des talents : fourniture d'une plateforme pratique pour la formation des talents dans les domaines connexes.

Scénarios d'application

  1. Fabricants de dispositifs : développement de produits et contrôle de qualité des dispositifs semi-conducteurs de puissance.
  2. Institutions de recherche : projets de recherche et recherche académique connexes à l'électronique de puissance.
  3. Institutions éducatives : enseignement expérimental des cours d'électronique de puissance et pratique de projets.
  4. Services de test : services de test standardisés des institutions tierces.

Références

  1. Brandelero, J., et al. "A non-intrusive method for measuring switching losses of gan power transistors." IECON 2013.
  2. Forest, F., et al. "Use of the opposition Method in the Test of High Power Electronics Converters." IEEE Transactions on Industrial Electronics, 2006.
  3. Sathler, H., & Cougo, B. "Improvement of the modified opposition method used for accurate switching energy estimation of wbg transistors." IEEE WiPDA, 2017.
  4. Dépôt GitHub : https://github.com/owntech-foundation/test_bench_code

Évaluation générale : Cet article présente une valeur pratique importante et une innovation méthodologique significative. Les auteurs ont résolu avec succès un défi technologique complexe par une approche collaborative ouverte, fournissant non seulement une solution technique complète, mais démontrant également un nouveau modèle de collaboration scientifique. Bien que certains détails techniques offrent des possibilités d'amélioration, l'approche ouverte et collaborative et la pratique de collaboration transdisciplinaire constituent des contributions importantes au développement du domaine connexe.