Scienza aperta e collaborativa per l'elaborazione di un banco automatizzato di caratterizzazione delle perdite in commutazione per opposizione

Informazioni di base

• ID articolo: 2510.09725
• Titolo: Scienza aperta e collaborativa per l'elaborazione di un banco automatizzato di caratterizzazione delle perdite in commutazione per opposizione
• Autori: Nicolas Rouger, Luiz Villa, Matthieu Masson, Pauline Kergus, Joseph Kemdeng, Lorenzo Leijnen, Jean Alinei, Adrien Colomb, Ayoub Farah-Hassan, Arnauld Biganzoli
• Classificazione: physics.ed-ph cs.SY eess.SY
• Conferenza di pubblicazione: SYMPOSIUM DE GENIE ELECTRIQUE (SGE 2025), 1-3 LUGLIO 2025, TOLOSA, FRANCIA
• Link articolo: https://arxiv.org/abs/2510.09725

Riassunto

Le perdite di commutazione nei transistor di potenza sono generalmente misurate utilizzando il metodo del doppio impulso. La misurazione per opposizione di due unità di commutazione rappresenta un metodo complementare più preciso ma indiretto. Tuttavia, l'implementazione di questo metodo può risultare più complessa, richiedendo procedure di calibrazione e controllo completo, oltre a problematiche di gestione termica. In questo contesto, gli autori affrontano il problema attraverso la scienza aperta e collaborativa, inizialmente mediante un hackathon di due giorni, seguito da riunioni aperte mensili. Oltre 20 partecipanti hanno contribuito all'hackathon di due giorni, seguito da riunioni mensili per coloro che desideravano continuare la collaborazione. Ciò ha consentito di realizzare un banco di prova automatizzato, secondo un approccio di scienza aperta, che comprende la generazione dei comandi di commutazione, la configurazione e il controllo degli strumenti di misura, nonché la parte hardware.

Contesto della ricerca e motivazione

Problema centrale

La misurazione precisa delle perdite di commutazione nei transistor di potenza rappresenta una sfida tecnica critica nel campo dell'elettronica di potenza. Sebbene il metodo tradizionale del doppio impulso sia ampiamente utilizzato, presenta limitazioni in termini di precisione. Il metodo per opposizione, come tecnica di misurazione più precisa, misura le perdite di potenza media attraverso il funzionamento per opposizione di due unità di commutazione.

Importanza del problema

1. Requisiti di precisione: Con lo sviluppo di dispositivi semiconduttori a largo gap di banda (SiC e GaN), le velocità di commutazione aumentano costantemente, richiedendo una precisione di misurazione e una risoluzione temporale sempre maggiori, con controllo temporale a livello di nanosecondi
2. Sfide nella gestione termica: Il metodo per opposizione richiede il funzionamento continuo del dispositivo al punto di potenza nominale, generando auto-riscaldamento; le misurazioni devono essere completate rapidamente per evitare derive di temperatura
3. Complessità tecnica: L'implementazione di un banco di prova automatizzato per il metodo per opposizione richiede l'integrazione di molteplici domini tecnici: controllo degli strumenti, generazione di segnali e hardware di potenza

Limitazioni dei metodi esistenti

• Il metodo del doppio impulso presenta precisione limitata, in particolare per dispositivi a commutazione rapida
• Sebbene il metodo per opposizione sia preciso, la sua implementazione è complessa e mancano soluzioni di test automatico standardizzate
• Le implementazioni esistenti richiedono generalmente conoscenze approfondite in molteplici settori specializzati, rappresentando una sfida particolare per i ricercatori, specialmente i dottorandi

Motivazione della ricerca

Gli autori adottano un approccio innovativo di scienza aperta e collaborativa, riunendo esperti multidisciplinari attraverso hackathon e riunioni mensili per risolvere questo complesso problema tecnico, condividendo tutti i risultati in forma open-source.

Contributi principali

1. Sviluppo di un banco di prova completo automatizzato per il metodo per opposizione: Soluzione completa che comprende progettazione hardware, controllo degli strumenti e generazione di segnali
2. Implementazione di un sistema di controllo supervisivo in Python: Controllo automatico di molteplici strumenti di misura attraverso il protocollo SCPI, realizzando misurazioni sincronizzate
3. Costruzione di un sistema di generazione di segnali ad alta precisione: Basato sul controllore OwnTech SPIN, realizzando controllo temporale a livello di nanosecondi con clock fino a 5,4 GHz
4. Fornitura di una soluzione open-source completa: Tutto il codice e i progetti sono rilasciati in open-source secondo la licenza GPL v3
5. Validazione del modello di scienza collaborativa: Realizzazione riuscita dello sviluppo di un sistema tecnico complesso con oltre 20 partecipanti all'hackathon

Spiegazione dettagliata dei metodi

Definizione dei compiti

Sviluppare un sistema completamente automatizzato di misurazione delle perdite di commutazione nei transistor di potenza, in grado di:

• Configurare e controllare automaticamente gli strumenti di misura
• Generare segnali di controllo di commutazione sincronizzati con precisione
• Realizzare misurazioni rapide e accurate delle perdite di potenza
• Minimizzare il tempo di misurazione per ridurre gli effetti termici

Architettura del sistema

Il sistema comprende tre componenti principali:

1. Controllo supervisivo e gestione degli strumenti

• Programma supervisivo Python: Responsabile dell'automazione completa del processo di test
• Configurazione degli strumenti: Controllo attraverso PyVISA e protocollo SCPI di:
  • Alimentatori DC: aumento progressivo della tensione, stabilizzazione e spegnimento
  • Multimetri digitali: misurazione della corrente e della tensione DC media
  • Oscilloscopi: acquisizione rapida delle forme d'onda utilizzando memoria segmentata
• Meccanismo di sincronizzazione: Utilizzo di segnali di sincronizzazione hardware per attivare tutte le misurazioni, evitando ritardi di comunicazione

2. Sistema di generazione dei segnali

Basato sul controllore OwnTech SPIN, implementa due modalità di test:

• Modalità differenza di fase: Duty cycle fisso, variazione della differenza di fase tra le due unità
• Modalità differenza di duty cycle: Differenza di fase nulla, variazione della differenza di duty cycle tra le due unità

3. Piattaforma hardware di potenza

• Utilizzo della scheda di valutazione Infineon EVAL-1ED3122Mx12H
• Comprende unità di commutazione a mezzo ponte con driver isolati
• Supporta livelli di potenza 600V/20A
• Verifica con MOSFET al silicio 200V/20A

Punti di innovazione tecnica

1. Misurazione sincronizzata multi-strumento: Realizzazione di sincronizzazione precisa di molteplici strumenti di misura attraverso segnali di sincronizzazione hardware, eliminando gli effetti dei ritardi di comunicazione
2. Controllo adattivo del tempo di misurazione: Ricerca dell'equilibrio ottimale tra precisione di misurazione ed effetti termici
3. Sistema di configurazione JSON: Implementazione di configurazione flessibile dei parametri di test e progettazione sperimentale
4. Controllo temporale a livello di nanosecondi: Utilizzo di clock a 5,4 GHz per il controllo ad alta precisione del tempo morto

Configurazione sperimentale

Configurazione hardware

• Dispositivi di potenza: MOSFET al silicio 200V/20A (package TO-247-3)
• Scheda di valutazione: Infineon EVAL-1ED3122Mx12H
• Induttanza: 50μH
• Controllore: OwnTech SPIN (clock 5,4 GHz)

Intervalli dei parametri di test

• Tensione del bus DC: 30V - 60V
• Frequenza di commutazione: 50kHz - 80kHz
• Corrente di picco: 0,5A - 3A
• Tempo morto: 300ns
• Tempo di misurazione: 1ms - 20ms

Metriche di valutazione

• Energia di perdita di commutazione (E_off, E_on)
• Perdita di potenza media
• Precisione e ripetibilità della misurazione
• Grado di automazione del sistema

Risultati sperimentali

Risultati principali

1. Verifica della funzionalità del sistema

Realizzazione riuscita di un processo di test completamente automatizzato:

• Generazione automatica dei file di configurazione del test
• Controllo automatico di tutti gli strumenti di misura
• Esecuzione automatica di test di scansione multi-parametro
• Acquisizione e elaborazione preliminare automatica dei dati

2. Risultati della misurazione delle perdite di commutazione

Estrazione riuscita dell'energia di perdita di spegnimento nell'intervallo di tensione del bus 30V-50V:

• Relazione E_off vs I_peak: Nell'intervallo di corrente 0,5A-1,5A, la perdita di spegnimento aumenta da 0,2μJ a 1,0μJ
• Dipendenza dalla tensione: A tensioni del bus più elevate, le perdite di commutazione aumentano significativamente
• Coerenza della misurazione: Misurazioni ripetute mostrano buona ripetibilità

3. Analisi della qualità delle forme d'onda

Acquisizione di forme d'onda di tensione e corrente di alta qualità:

• Processo di transitorio di commutazione chiaro
• Controllo preciso del tempo morto
• Buona sincronizzazione dei segnali

Analisi dei casi

Test del punto di lavoro tipico

• Parametri: Tensione del bus 60V, frequenza di commutazione 80kHz, corrente di picco 3A
• Risultati: Acquisizione riuscita del processo di transitorio di commutazione completo, validazione dell'efficacia del metodo per opposizione

Test di scansione automatica

Realizzazione della scansione automatica dello spazio parametrico multidimensionale:

• Scansione della tensione: 30V, 40V, 50V
• Scansione della corrente: 0,5A - 1,5A (5 punti)
• Estrazione automatica della perdita di commutazione per ogni punto di lavoro

Risultati sperimentali

1. Effetto della temperatura: La simulazione termico-elettrica in LTspice rivela che un tempo di test di 200ms causa un aumento significativo della temperatura di giunzione
2. Compromesso nella precisione della misurazione: Necessità di trovare un equilibrio ottimale tra precisione di misurazione e tempo di test
3. Stabilità del sistema: Il sistema automatizzato dimostra prestazioni stabili e affidabili durante il funzionamento prolungato

Lavori correlati

Evoluzione del metodo per opposizione

1. Forest et al. (2006): Prima presentazione sistematica del metodo per opposizione per il test di convertitori di potenza ad alta potenza
2. Brandelero et al. (2013): Applicazione del metodo per opposizione alla misurazione non invasiva delle perdite di commutazione nei transistor GaN
3. Sathler & Cougo (2017): Miglioramento del metodo per opposizione per aumentare la precisione della stima dell'energia di commutazione dei transistor a largo gap di banda
4. Nguyen Tien et al. (2023): Sviluppo di uno strumento di stima delle perdite dei semiconduttori basato sul metodo per opposizione

Vantaggi rispetto ai lavori correlati

1. Automazione completa: Prima realizzazione dell'automazione end-to-end dalla generazione dei segnali all'elaborazione dei dati
2. Apertura e condivisione: Tutti i progetti e il codice sono completamente open-source, promuovendo la diffusione della tecnologia
3. Ottimizzazione multi-parametro: Considerazione simultanea della precisione di misurazione, della velocità e della gestione termica
4. Innovazione nel modello collaborativo: Integrazione multidisciplinare della tecnologia attraverso il modello hackathon

Conclusioni e discussione

Conclusioni principali

1. Sviluppo riuscito di un banco di prova automatizzato completo per il metodo per opposizione, validando l'efficacia del modello di scienza aperta e collaborativa
2. Realizzazione del controllo temporale a livello di nanosecondi e della misurazione sincronizzata multi-strumento, soddisfacendo i requisiti di test dei dispositivi di potenza moderni
3. Fornitura di una soluzione standardizzata nel campo del test dell'elettronica di potenza attraverso l'approccio open-source

Limitazioni

1. Gestione termica: La versione attuale non risolve completamente l'influenza dell'auto-riscaldamento sulla precisione della misurazione
2. Limitazioni del livello di potenza: La verifica è stata condotta solo a livelli di potenza medio (200V/20A); le applicazioni ad alta potenza richiedono ulteriore validazione
3. Automazione della calibrazione: Mancanza di funzionalità di calibrazione automatica dei parametri del circuito (induttanza, resistenza)
4. Meccanismi di sicurezza: Mancanza di protezione automatica in caso di anomalie come guasti di comunicazione

Direzioni future

1. Sequenza di test termicamente ottimizzata: Sviluppo di sequenze di test intelligenti che considerano gli effetti termici
2. Sistema di calibrazione automatica: Realizzazione dell'identificazione e della calibrazione automatica dei parametri del circuito
3. Estensione dell'intervallo di potenza: Adattamento a livelli di potenza più elevati e dispositivi con diversi package
4. Costruzione di database: Creazione di un database aperto delle caratteristiche dei dispositivi
5. Analisi della precisione: Confronto sistematico della precisione con altri metodi di misurazione

Valutazione approfondita

Punti di forza

Innovazione tecnica

1. Innovazione nell'integrazione del sistema: Prima integrazione completa del controllo degli strumenti, della generazione dei segnali e dell'hardware di potenza in un sistema automatizzato
2. Precisione del controllo temporale: Il controllo a livello di nanosecondi realizzato con clock a 5,4 GHz rappresenta il livello avanzato in questo settore
3. Schema di misurazione sincronizzata: Il trigger di sincronizzazione hardware risolve il problema della coerenza temporale nella misurazione multi-strumento

Contributi metodologici

1. Pratica della scienza aperta: Dimostrazione di un nuovo modello per lo sviluppo di sistemi tecnici complessi
2. Collaborazione multidisciplinare: Integrazione riuscita di molteplici settori specializzati: strumentazione, controllo ed elettronica di potenza
3. Diffusione della conoscenza: Riduzione della barriera tecnica attraverso l'approccio open-source, facilitando la diffusione e l'applicazione

Valore pratico

1. Usabilità immediata: Fornitura di una soluzione di test completa e utilizzabile
2. Scalabilità: Il design modulare facilita l'adattamento a diverse esigenze applicative
3. Valore educativo: Fornitura di risorse di qualità per l'insegnamento e la formazione nei settori correlati

Insufficienze

Limitazioni tecniche

1. Gestione termica incompleta: La simulazione termico-elettrica rivela effetti termici significativi, ma mancano strategie efficaci di gestione termica in tempo reale
2. Intervallo di potenza limitato: Verifica solo su dispositivi di potenza media; l'applicabilità alle applicazioni ad alta potenza rimane da verificare
3. Analisi della precisione insufficiente: Mancanza di confronto quantitativo della precisione con i metodi standard

Progettazione sperimentale

1. Tipo di dispositivo singolo: Verifica principalmente con MOSFET al silicio; la verifica su dispositivi SiC/GaN è insufficiente
2. Stabilità a lungo termine: Mancanza di verifica dell'affidabilità durante il funzionamento prolungato
3. Test in condizioni estreme: Assenza di test in condizioni di lavoro estreme come alta temperatura e alta frequenza

Completezza del sistema

1. Mancanza di meccanismi di sicurezza: Assenza di meccanismi completi di rilevamento dei guasti e protezione
2. Interfaccia utente semplice: Funzionalità GUI relativamente basilari; l'esperienza utente richiede miglioramenti
3. Documentazione insufficiente: La completezza e l'usabilità della documentazione tecnica necessitano di miglioramenti

Impatto

Valore accademico

1. Contributo metodologico: Fornitura di importanti riferimenti per la standardizzazione dei test nell'elettronica di potenza
2. Modello di collaborazione esemplare: La pratica della scienza aperta fornisce esperienze applicabili ad altri settori
3. Avanzamento tecnologico: Promozione dell'applicazione della tecnologia di test automatizzato nel campo dell'elettronica di potenza

Impatto pratico

1. Potenziale di applicazione industriale: Applicazione diretta nei test dei prodotti presso i produttori di dispositivi di potenza
2. Diffusione educativa: Fornitura di strumenti di insegnamento e ricerca di qualità per università e istituti di ricerca
3. Promozione della standardizzazione: Contributo all'istituzione di standard e norme di test industriali

Ecosistema tecnologico

1. Costruzione dell'ecosistema open-source: Contributo di risorse importanti alla comunità open-source dell'elettronica di potenza
2. Fusione multidisciplinare: Promozione della profonda integrazione tra tecnologia di test e misura ed elettronica di potenza
3. Formazione dei talenti: Fornitura di una piattaforma pratica per la formazione dei talenti nei settori correlati

Scenari applicabili

1. Produttori di dispositivi: Sviluppo di prodotti e controllo della qualità di dispositivi semiconduttori di potenza
2. Istituti di ricerca: Progetti di ricerca e ricerca accademica correlati all'elettronica di potenza
3. Istituti educativi: Insegnamento sperimentale di corsi di elettronica di potenza e pratica di progetti
4. Servizi di test: Servizi di test standardizzati presso istituti di test di terze parti

Bibliografia

1. Brandelero, J., et al. "A non-intrusive method for measuring switching losses of gan power transistors." IECON 2013.
2. Forest, F., et al. "Use of the opposition Method in the Test of High Power Electronics Converters." IEEE Transactions on Industrial Electronics, 2006.
3. Sathler, H., & Cougo, B. "Improvement of the modified opposition method used for accurate switching energy estimation of wbg transistors." IEEE WiPDA, 2017.
4. Repository GitHub: https://github.com/owntech-foundation/test_bench_code

Valutazione complessiva: Questo è un articolo di importante valore pratico e innovazione metodologica. Gli autori hanno affrontato con successo sfide tecniche complesse attraverso un approccio di collaborazione aperta, fornendo non solo una soluzione tecnica completa, ma dimostrando soprattutto un nuovo modello di ricerca collaborativa. Sebbene vi sia spazio per miglioramenti in alcuni dettagli tecnici, l'approccio open-source e aperto e la pratica della collaborazione multidisciplinare rappresentano importanti contributi allo sviluppo del settore correlato.