The controlled SWAP test for detecting and quantifying entanglement applied to pure qubit states is robust to small errors in the states and efficient for large multi-qubit states (Foulds et al. 2021 Quantum Sci. Technol. 6, 035002 (doi:10.1088/2058-9565/abe458)). We extend this, and the related measure concentratable entanglement (CE), to enable important practical applications in quantum information processing. We investigate the lower bound of concentratable entanglement given in (Beckey et al. 2023 Phys. Rev. A 107, 062425 (doi:10.1103/physreva.107.062425)) and conjecture an upper bound of the mixed-state concentratable entanglement that is robust to c-SWAP test errors. Since experimental states are always slightly mixed, our work makes the c-SWAP test and CE measure suitable for application in experiments to characterize entanglement. We further present the CE of some key higher-dimensional states such as qudit states and entangled optical states to validate the CE as a higher-dimensional measure of entanglement.
This article is part of the theme issue 'The quantum theory of light'.
論文ID : 2112.04333タイトル : Generalising multipartite concentratable entanglement for practical applications: mixed, qudit, and optical states著者 : Steph Foulds, Oliver Prove, Viv Kendon分類 : quant-ph(量子物理学)掲載誌 : Philosophical Transactions of the Royal Society A(2024)DOI : https://doi.org/10.1098/rsta.2024.0411 論文リンク : https://arxiv.org/abs/2112.04333 制御SWAP測定(controlled SWAP test)を純粋量子ビット状態の纠缠検出および定量化に適用することは、状態内の小さな誤差に対する堅牢性を有し、大規模多量子ビット状態に対して効率的である。本論文は、当該測定方法および関連する集中可能纠缠(concentratable entanglement, CE)の尺度を拡張し、量子情報処理における重要な実用的応用を実現する。混合状態の集中可能纠缠の下界を調査し、c-SWAP測定の誤差に対して堅牢な混合状態の集中可能纠缠上界予想を提案した。実験状態は常にわずかに混合されているため、本研究はc-SWAP測定とCE尺度を実験における纠缠の表征に適用可能にする。さらに、いくつかの重要な高次元状態(qudit状態および纠缠光学状態など)のCEを実証し、CEが高次元纠缠尺度として有効であることを検証した。
多体纠缠の重要性 : 多体纠缠は量子情報における重要なリソースであり、多体纠缠チャネルを用いた量子テレポーテーション、および安全鍵配送のネットワークコーディングなどの独自の用途を有する。既存検出方法の限界 :量子状態トモグラフィーは、同一状態のアンサンブルに対する多数の測定を必要とし、複雑性はシステムサイズに対して指数関数的に増加する 纠缠証人は特定の状態に対して最適化される必要がある 多体纠缠尺度はしばしば数学的に抽象的であり、明確な操作的意味を欠く 実験的現実の課題 : 実験における量子状態は常にわずかに混合されており、既存のc-SWAP測定は主に純粋状態に対して設計されている。本論文は、集中可能纠缠尺度を実用的応用シナリオ(混合状態、高次元qudit状態、および光学状態を含む)に拡張し、実験において実用的価値を有するようにすることを目指している。
混合状態CEの上界の提案 : 混合状態の集中可能纠缠の上界 C ρ u ( S ) = P ( Z 1 e v e n ) C_\rho^u(S) = P(Z_1^{even}) C ρ u ( S ) = P ( Z 1 e v e n ) を定義し、既知の下界と共に完全な境界フレームワークを形成する高次元システムへの拡張 : c-SWAP測定とCE尺度をqudit状態および光学コヒーレント状態に成功裏に拡張する実験適用性の向上 : 非同一入力および混合状態の処理を解決し、測定方法を実際の実験条件に適用可能にする理論的分析 : 詳細な誤差分析および収束性証明を提供し、異なる純度および忠実度条件下での性能評価を含む光学実装方案 : 光学c-SWAP測定の具体的な実験装置設計を提案する多体量子状態の纠缠検出および定量化問題を研究し、入力は量子状態のアンサンブル、出力は纠缠尺度値およびその信頼区間である。
純粋状態 ∣ ψ ⟩ |\psi\rangle ∣ ψ ⟩ に対して、CEは以下のように定義される:
C ψ ( s ) = 1 − 1 2 c ( s ) ∑ α ∈ P ( s ) γ α C_\psi(s) = 1 - \frac{1}{2^{c(s)}} \sum_{\alpha \in P(s)} \gamma_\alpha C ψ ( s ) = 1 − 2 c ( s ) 1 ∑ α ∈ P ( s ) γ α
ここで γ α = Tr [ ρ α 2 ] \gamma_\alpha = \text{Tr}[\rho_\alpha^2] γ α = Tr [ ρ α 2 ] は約化状態の純度、s s s は量子ビットラベルの集合である。
測定回路 : 制御SWAP門を用いて、2つの入力状態のコピーの各部分系に対して操作を実行する測定結果 : 制御量子ビットの測定により確率分布を取得する纠缠関係 : C ψ ( s ) = P ( Z 1 e v e n ( s ) ) C_\psi(s) = P(Z_1^{even}(s)) C ψ ( s ) = P ( Z 1 e v e n ( s )) 、すなわち偶数個の1を測定する確率下界 : C ρ l ( S ) = 1 2 n + 1 − 1 2 n tr ρ 2 − 1 2 n ∑ α ∈ P ( S ) tr ρ α 2 C_\rho^l(S) = \frac{1}{2^{n+1}} - \frac{1}{2^n}\text{tr}\rho^2 - \frac{1}{2^n}\sum_{\alpha \in P(S)}\text{tr}\rho_\alpha^2 C ρ l ( S ) = 2 n + 1 1 − 2 n 1 tr ρ 2 − 2 n 1 ∑ α ∈ P ( S ) tr ρ α 2 上界 : C ρ u ( S ) = 1 2 ( 1 + tr ρ 2 ) − 1 2 n ∑ α ∈ P ( S ) tr ρ α 2 C_\rho^u(S) = \frac{1}{2}(1 + \text{tr}\rho^2) - \frac{1}{2^n}\sum_{\alpha \in P(S)}\text{tr}\rho_\alpha^2 C ρ u ( S ) = 2 1 ( 1 + tr ρ 2 ) − 2 n 1 ∑ α ∈ P ( S ) tr ρ α 2 入力状態 ρ = ρ ψ ( p ) \rho = \rho_\psi(p) ρ = ρ ψ ( p ) および ρ ′ = ρ ψ ( q ) \rho' = \rho_\psi(q) ρ ′ = ρ ψ ( q ) に対して、測定結果は以下のように表現できる:
X i ( ρ , ρ ′ ) = 1 2 [ X i ( ρ , ρ ) + X i ( ρ ′ , ρ ′ ) ] − 1 2 ϵ i δ 2 X_i(\rho,\rho') = \frac{1}{2}[X_i(\rho,\rho) + X_i(\rho',\rho')] - \frac{1}{2}\epsilon_i\delta^2 X i ( ρ , ρ ′ ) = 2 1 [ X i ( ρ , ρ ) + X i ( ρ ′ , ρ ′ )] − 2 1 ϵ i δ 2
ここで δ = q − p \delta = q-p δ = q − p 、∣ ϵ i ∣ < 1 |\epsilon_i| < 1 ∣ ϵ i ∣ < 1 である。
D次元qudit状態に対して、CE公式は形式を保持するが、SWAP操作の実装を修正する必要がある。最大纠缠2-qudit状態のCEは以下の通りである:
C ψ = 1 2 − 1 2 D C_\psi = \frac{1}{2} - \frac{1}{2D} C ψ = 2 1 − 2 D 1
纠缠コヒーレント状態 ∣ ECS α , β ⟩ |\text{ECS}_{\alpha,\beta}\rangle ∣ ECS α , β ⟩ に対して、CE表現式は以下の通りである:
C ψ = N α , β 4 4 ( 1 − ∣ ⟨ α ∣ β ⟩ ∣ 2 ) 2 ∣ A α α A β β − A α β A β α ∣ 2 C_\psi = \frac{N_{\alpha,\beta}^4}{4}(1-|\langle\alpha|\beta\rangle|^2)^2|A_{\alpha\alpha}A_{\beta\beta} - A_{\alpha\beta}A_{\beta\alpha}|^2 C ψ = 4 N α , β 4 ( 1 − ∣ ⟨ α ∣ β ⟩ ∣ 2 ) 2 ∣ A αα A ββ − A α β A β α ∣ 2
Werner状態を用いて混合状態をシミュレートする:ρ = ( 1 − p ) ∣ ψ ⟩ ⟨ ψ ∣ + p I N N \rho = (1-p)|\psi\rangle\langle\psi| + p\frac{I_N}{N} ρ = ( 1 − p ) ∣ ψ ⟩ ⟨ ψ ∣ + p N I N 異なる純度パラメータ p ∈ [ 0 , 1 ] p \in [0,1] p ∈ [ 0 , 1 ] をテストする 2~5量子ビットシステムを考慮する 測定ラウンド数 M = 10 M = 10 M = 10 から 10 4 10^4 1 0 4 平均誤差 : Err ( M , P ( x ) ) = ∑ k = 0 M f ( k , M , P ( x ) ) ∣ k M − P ( x ) ∣ P ( x ) \text{Err}(M,P(x)) = \sum_{k=0}^M f(k,M,P(x))\frac{|\frac{k}{M} - P(x)|}{P(x)} Err ( M , P ( x )) = ∑ k = 0 M f ( k , M , P ( x )) P ( x ) ∣ M k − P ( x ) ∣ 忠実度 : F = [ tr ρ ρ ′ ρ ] 2 F = [\text{tr}\sqrt{\sqrt{\rho}\rho'\sqrt{\rho}}]^2 F = [ tr ρ ρ ′ ρ ] 2 可分性判定基準 : Werner状態の可分性閾値 γ separable = 2 n + 8 ( 2 n + 2 ) 2 \gamma_{\text{separable}} = \frac{2^n+8}{(2^n+2)^2} γ separable = ( 2 n + 2 ) 2 2 n + 8 相移分束器(PSBS)および空間経路交換に基づく光学c-SWAP測定装置を提案し、検出器Cの検出確率は量子回路における ∣ 1 ⟩ C |1\rangle_C ∣1 ⟩ C を測定する確率に対応する。
収束性 : 状態が純粋状態である場合、上下界は収束する:C ρ u → C ρ l → C ψ C_\rho^u \to C_\rho^l \to C_\psi C ρ u → C ρ l → C ψ 可分性検出 : 可分状態に対して、C ρ l ≈ 0 C_\rho^l \approx 0 C ρ l ≈ 0 であり、C ρ u > 0 C_\rho^u > 0 C ρ u > 0 だが0に近い誤差推定 : 平均誤差は Err ( M , P ( Z 1 e v e n ) ) ≈ 3 − log 10 ( M ) ( 1.1 − 2 log 10 ( γ ) ) \text{Err}(M,P(Z_1^{even})) \approx 3^{-\log_{10}(M)}(1.1-2\log_{10}(\gamma)) Err ( M , P ( Z 1 e v e n )) ≈ 3 − l o g 10 ( M ) ( 1.1 − 2 log 10 ( γ )) を満たすパラメータ差異 δ = q − p \delta = q-p δ = q − p に対して、測定結果の偏差は約 1 2 ϵ δ 2 \frac{1}{2}\epsilon\delta^2 2 1 ϵ δ 2 である δ \delta δ が小さい場合、P ( Z 1 e v e n ) P(Z_1^{even}) P ( Z 1 e v e n ) は依然として有効な上界推定値である純度推定:γ ~ = 1 − 2 P ( Z 1 o d d ) \tilde{\gamma} = 1 - 2P(Z_1^{odd}) γ ~ = 1 − 2 P ( Z 1 o dd ) Qudit状態 : CEは次元Dの増加に伴い増大するが、増加幅は量子ビット数増加の効果より小さい光学状態 :
纠缠コヒーレント状態のCEは纠缠エントロピーの形状に類似しているが、数値はより小さい 小振幅コヒーレント状態(α < 0.5 \alpha < 0.5 α < 0.5 )に対して、測定は不可能である(誤差>0.1) 二モード圧縮真空状態のqudit近似には限界が存在する 異なるWerner パラメータ、異なる量子ビット数、および異なる測定ラウンド数の結果を比較することにより、以下を検証した:
上界推定値の厳密性 測定回数に伴う誤差の収束性 システムサイズに対する方法のスケーラビリティ 量子状態トモグラフィー : 完全だが複雑性が高い纠缠証人 : 効率的だが最適化が必要SWAP測定の変種 : 量子指紋識別および状態比較を含む並行度(Concurrence) : 二体纠缠の標準尺度n-tangle : 多体纠缠尺度纠缠エントロピー : von Neumann エントロピーに基づく圧縮状態 : EPR逆説の連続変数実現纠缠コヒーレント状態 : マクロスコピック量子重ね合わせ状態Cat状態 : 量子計算における重要なリソース混合状態CEの完全な境界フレームワークの確立に成功し、上下界は純粋状態で収束する c-SWAP測定は高次元quditおよび光学コヒーレント状態に効果的に拡張可能である 非同一入力の影響は制御可能であり、誤差は入力差異の二乗に伴い増加する 実用的な純度推定方法を提供する 光学状態の制限 : 小振幅コヒーレント状態のCE推定は不可能である圧縮状態の問題 : 二モード圧縮真空状態のqudit近似効果は不十分である実験的複雑性 : 高次元状態はより複雑なSWAP操作実装を必要とする統計的要件 : 低纠缠状態はより多くの測定ラウンドを必要とする小振幅光学状態の測定方法の改善 圧縮状態に適した測定プロトコルの開発 より一般的な連続変数システムへの拡張 実験実装のリソース要件の最適化 理論的完全性 : 混合状態CEの完全な理論フレームワークを提供し、重要な空白を埋める実用的価値 : 実際の実験における重要な問題(混合状態、非同一入力)を解決する拡張性 : 複数の物理システム(qudit、光学状態)への成功裏な拡張誤差分析 : 詳細な誤差推定および収束性分析を提供する実験的実現可能性 : 光学実装の具体的な方案を提案する光学状態の限界 : 特定の重要な光学状態(小振幅状態、圧縮状態など)に対する効果が限定的である複雑性 : 高次元システムの実装複雑性は依然として高い近似精度 : qudit近似光学状態の精度は改善の余地がある実験的検証 : 実際の実験検証が欠けており、主に数値シミュレーションに基づいている学術的貢献 : 多体纠缠理論に重要な補足を提供し、特に混合状態処理において実用的価値 : c-SWAP測定を実際の量子情報実験に適用可能にする学際的領域 : 量子情報理論と量子光学実験を連結する再現可能性 : オープンソースコードを提供し、結果の再現および今後の研究を容易にする量子計算 : 多量子ビットシステムの纠缠検証量子通信 : 纠缠リソースの品質評価量子光学 : 連続変数纠缠の表征量子シミュレーション : 高次元量子システムの纠缠分析本論文は52篇の関連文献を引用しており、量子纠缠理論、測定方法、光学量子状態など複数の領域における重要な研究を網羅し、研究に堅実な理論的基礎を提供している。
総合評価 : これは量子纠缠検出分野における重要な貢献を有する論文であり、理論的方法を実用的応用シナリオに成功裏に拡張し、量子情報実験に価値あるツールを提供している。特定の特殊状態の処理においてなお限界が存在するが、全体的には当該分野の発展を推進している。