In this work, we consider the solid-state dewetting of an axisymmetric thin film on a curved-surface substrate, with the assumption that the substrate morphology is also axisymmetric. Under the assumptions of axisymmetry, the surface evolution problem on a curved-surface substrate can be reduced to a curve evolution problem on a static curved substrate. Based on the thermodynamic variation of the anisotropic surface energy, we thoroughly derive a sharp-interface model that is governed by anisotropic surface diffusion, along with appropriate boundary conditions. The continuum system satisfies the laws of energy decay and volume conservation, which motivates the design of a structure-preserving numerical algorithm for simulating the mathematical model. By introducing a symmetrized surface energy matrix, we derive a novel symmetrized variational formulation. Then, by carefully discretizing the boundary terms of the variational formulation, we establish an unconditionally energy-stable parametric finite element approximation of the axisymmetric system. By applying an ingenious correction method, we further develop another structure-preserving method that can preserve both the energy stability and volume conservation properties. Finally, we present extensive numerical examples to demonstrate the convergence and structure-preserving properties of our proposed numerical scheme. Additionally, several interesting phenomena are explored, including the migration of 'small' particles on a curved-surface substrate generated by curves with positive or negative curvature, pinch-off events, and edge retraction.
論文ID : 2501.00783タイトル : Solid-state dewetting of axisymmetric thin film on axisymmetric curved-surface substrates: modeling and simulation著者 : Zhenghua Duan, Meng Li*, Chunjie Zhou(鄭州大学数学統計学院)分類 : math.NA cs.NA発表日時 : 2025年1月3日(arXiv プレプリント)論文リンク : https://arxiv.org/abs/2501.00783 本論文は、軸対称弯曲表面基板上の軸対称薄膜の固体脱濡れ現象を研究している。軸対称仮定の下で、弯曲表面基板上の表面進化問題は、静的弯曲基板上の曲線進化問題に簡約化できる。異方性表面エネルギーの熱力学的変分に基づき、著者らは異方性表面拡散により支配される鋭い界面モデルおよび対応する境界条件を厳密に導出した。連続系はエネルギー減衰則と体積保存則を満たし、これが構造保存数値アルゴリズムの設計の動機となる。対称化表面エネルギー行列を導入することで、新規な対称化変分公式を導出した。変分公式の境界項を慎重に離散化することにより、軸対称系の無条件エネルギー安定なパラメトリック有限要素近似を確立した。巧妙な修正方法を適用することで、エネルギー安定性と体積保存性を同時に保持する構造保存方法をさらに開発した。
固体脱濡れ(Solid-State Dewetting, SSD)とは、固体薄膜が融点をはるかに下回る温度で起こる不安定現象であり、薄膜は脱濡れまたは凝集し、複雑な形態変化を示して基板上に微粒子を形成する。この現象は光学・磁性デバイス、薄膜、センサー、触媒形成など多くの分野で広く応用されている。
次元制限 :既存の理論研究は主に平面基板に集中しており、トポロジー的にパターン化された基板への関心は少ない二次元の制約 :既存研究は主に二次元シナリオに焦点を当てており、三次元弯曲表面基板上のSSDの研究は限定的である数値方法の不足 :エネルギー安定性と体積保存を同時に保持する効率的な数値方法が欠けている三次元薄膜と弯曲表面基板は通常回転対称性を有しており、複雑な三次元SSDを弯曲基板上の曲線ベースのシステムに簡約化できる 強い異方性効果を扱える数値方法の開発が必要である 弯曲基板の幾何学的特性は薄膜進化挙動に重要な影響を与える 理論的モデリング :熱力学的変分を通じて、軸対称弯曲表面基板上の三次元軸対称薄膜のSSDの鋭い界面モデルを導出し、弱および強異方性の場合を含む数値方法の革新 :対称化表面エネルギー行列を導入し、新規な対称化変分公式を導出 境界項を慎重に離散化することで、無条件エネルギー安定なパラメトリック有限要素近似を設計 体積保存とエネルギー安定性を同時に保持する構造保存方法を開発 アルゴリズムの検証 :広範な数値実験を通じて、提案方法の収束性と構造保存性を検証物理現象の探索 :正/負曲率基板上の微粒子の移動、ピンチオフ現象、エッジ収縮を含む多くの興味深い現象を研究軸対称弯曲表面基板上の軸対称薄膜の固体脱濡れ進化過程を研究し、以下を含む:
入力 :初期薄膜形態、基板幾何学、材料パラメータ出力 :時間に伴う薄膜の進化軌跡制約 :体積保存、エネルギー減衰、接触線境界条件システムの全自由エネルギーは以下のように表される:
W = ∫ ∫ S γ F V ( N ) d S + ( γ F S − γ V S ) A ( Γ o / Γ i ) W = \int\int_S \gamma_{FV}(N) dS + (\gamma_{FS} - \gamma_{VS}) A(\Gamma_o/\Gamma_i) W = ∫ ∫ S γ F V ( N ) d S + ( γ FS − γ V S ) A ( Γ o / Γ i )
ここでS S S は薄膜/蒸気界面、Γ i \Gamma_i Γ i とΓ o \Gamma_o Γ o は内側および外側の接触線である。
軸対称仮定の下で、表面は以下のようにパラメータ化できる:
S ( s , ϕ ) : = ( r ( s ) cos ϕ , r ( s ) sin ϕ , z ( s ) ) S(s,\phi) := (r(s)\cos\phi, r(s)\sin\phi, z(s)) S ( s , ϕ ) := ( r ( s ) cos ϕ , r ( s ) sin ϕ , z ( s ))
全エネルギーは以下に簡約される:
W = 2 π ∫ 0 L γ ( θ ) r d s + 2 π ( γ F S − γ V S ) ∫ c l c r x ^ ( c ) d c W = 2\pi\int_0^L \gamma(\theta)r ds + 2\pi(\gamma_{FS} - \gamma_{VS})\int_{c_l}^{c_r} \hat{x}(c)dc W = 2 π ∫ 0 L γ ( θ ) r d s + 2 π ( γ FS − γ V S ) ∫ c l c r x ^ ( c ) d c
熱力学的変分を通じて導出された支配方程式:
X t ⋅ n = 1 r ( r μ s ) s , 0 < s < L ( t ) , t > 0 X_t \cdot n = \frac{1}{r}(r\mu_s)_s, \quad 0 < s < L(t), t > 0 X t ⋅ n = r 1 ( r μ s ) s , 0 < s < L ( t ) , t > 0
化学ポテンシャルは以下のように定義される:
μ = ( γ ( θ ) + γ ′ ′ ( θ ) ) κ − γ ( θ ) z s + γ ′ ( θ ) r s r \mu = (\gamma(\theta) + \gamma''(\theta))\kappa - \frac{\gamma(\theta)z_s + \gamma'(\theta)r_s}{r} μ = ( γ ( θ ) + γ ′′ ( θ )) κ − r γ ( θ ) z s + γ ′ ( θ ) r s
境界条件は以下を含む:
接触線条件 :接触線が弯曲基板上に留まることを保証緩和接触角条件 :接触角の動力学進化を記述ゼロ質量流束条件 :体積保存を保証対称行列を導入:
B ( θ ) = ( γ ( θ ) − γ ′ ( θ ) γ ′ ( θ ) γ ( θ ) ) ( cos 2 θ sin 2 θ sin 2 θ − cos 2 θ ) + S ( θ ) [ 1 2 I − 1 2 ( cos 2 θ sin 2 θ sin 2 θ − cos 2 θ ) ] B(\theta) = \begin{pmatrix} \gamma(\theta) & -\gamma'(\theta) \\ \gamma'(\theta) & \gamma(\theta) \end{pmatrix} \begin{pmatrix} \cos 2\theta & \sin 2\theta \\ \sin 2\theta & -\cos 2\theta \end{pmatrix} + S(\theta)\left[\frac{1}{2}I - \frac{1}{2}\begin{pmatrix} \cos 2\theta & \sin 2\theta \\ \sin 2\theta & -\cos 2\theta \end{pmatrix}\right] B ( θ ) = ( γ ( θ ) γ ′ ( θ ) − γ ′ ( θ ) γ ( θ ) ) ( cos 2 θ sin 2 θ sin 2 θ − cos 2 θ ) + S ( θ ) [ 2 1 I − 2 1 ( cos 2 θ sin 2 θ sin 2 θ − cos 2 θ ) ]
この行列を通じて、化学ポテンシャル方程式は以下のように書ける:
r μ n = ∂ s [ r B ( θ ) ∂ s X ] − γ ( θ ) e 1 r\mu n = \partial_s[rB(\theta)\partial_s X] - \gamma(\theta)e_1 r μ n = ∂ s [ r B ( θ ) ∂ s X ] − γ ( θ ) e 1
パラメトリック有限要素法(PFEM)を用いて変分公式を求解:
時間離散化:半陰的格式 空間離散化:線形有限要素 境界処理:精密に設計された境界項離散化 設計された数値格式は離散エネルギー安定性を満たす:
W ( X m + 1 ) − W ( X m ) ≤ 0 W(X^{m+1}) - W(X^m) \leq 0 W ( X m + 1 ) − W ( X m ) ≤ 0
修正項δ f m + 1 2 \delta f^{m+\frac{1}{2}} δ f m + 2 1 を通じて正確な体積保存を実現:
V ( X m + 1 ) − V ( X m ) = 0 V(X^{m+1}) - V(X^m) = 0 V ( X m + 1 ) − V ( X m ) = 0
論文は3つの典型的な初期構成を考慮:
球形薄膜 :半径1.5の球形薄膜を半球基板上に配置環形薄膜 :厚さ0.5の軸対称環形薄膜を半球基板上に配置球形薄膜 :半径1.8の球形薄膜を球形基板上に配置接触線移動率:η = 100 \eta = 100 η = 100 表面エネルギーパラメータ:σ = − 3 2 \sigma = -\frac{\sqrt{3}}{2} σ = − 2 3 異方性表面エネルギー:γ ( θ ) = 1 + β cos ( 4 θ ) \gamma(\theta) = 1 + \beta\cos(4\theta) γ ( θ ) = 1 + β cos ( 4 θ ) β = 0 \beta = 0 β = 0 :等方性0 ≤ β ≤ 1 15 0 \leq \beta \leq \frac{1}{15} 0 ≤ β ≤ 15 1 :弱異方性β > 1 15 \beta > \frac{1}{15} β > 15 1 :強異方性 メッシュサイズ:h = 2 − 7 h = 2^{-7} h = 2 − 7 から 2 − 8 2^{-8} 2 − 8 時間ステップ:Δ t = 2 − 9 \Delta t = 2^{-9} Δ t = 2 − 9 から 2 − 10 2^{-10} 2 − 10 収束許容値:10 − 8 10^{-8} 1 0 − 8 多様体距離度量を通じて数値誤差を測定:
e h , Δ t ( t ) : = ∣ ( Ω h , Δ t ( t ) \ Ω r ( t ) ) ∪ ( Ω r ( t ) \ Ω h , Δ t ( t ) ) ∣ e^{h,\Delta t}(t) := |(\Omega^{h,\Delta t}(t)\backslash\Omega^r(t)) \cup (\Omega^r(t)\backslash\Omega^{h,\Delta t}(t))| e h , Δ t ( t ) := ∣ ( Ω h , Δ t ( t ) \ Ω r ( t )) ∪ ( Ω r ( t ) \ Ω h , Δ t ( t )) ∣
結果は以下を示す:
空間収束次数 :二次収束、理論予測と一致時間収束次数 :一次収束等方性、弱異方性、強異方性の全ての場合で良好な収束性を維持 数値実験は離散エネルギーの単調減少を確認:
異なる時間ステップ下でのエネルギー曲線は全て減少傾向を示す 異方性の強度はエネルギー安定性に影響しない エネルギー安定方法 :相対体積誤差は約10 − 3 10^{-3} 1 0 − 3 オーダー構造保存方法 :機械精度での体積保存を実現(誤差∼ 10 − 15 \sim 10^{-15} ∼ 1 0 − 15 )弯曲基板上で観察される:
正曲率基板 :小さな微粒子は曲率が小さい領域への移動傾向を示す負曲率基板 :微粒子の挙動は異方性の強度に影響される異方性効果 :強い異方性は移動速度に顕著に影響長い薄膜は進化過程でピンチオフを起こす:
ピンチオフ後、2つの独立した部分に再初期化 最終的により小さな島状および環形薄膜を形成 半無限階段薄膜のエッジ収縮:
薄膜は徐々に基板の角を越えて進む 異方性の強度が大きいほど、収縮速度は遅い Srolovitz & Safran (1986) :鋭い界面モデルを初めて提案Jiang等 (2012) :位相場法によるトポロジー変化の処理Zhao等 (2019) :軸対称幾何学の次元削減モデルBarrett, Garcke & Nürnberg :パラメトリック有限要素法(BGN法)Bao & Zhao (2021) :構造保存PFEMLi等 (2023) :対称化方法Jiang等 (2018) :二次元弯曲基板上のSSDBao等 (2024) :二次元弯曲基板の構造保存方法本論文はこれらの方法を三次元軸対称弯曲基板に拡張し、この分野の重要な進展である。
軸対称弯曲基板上のSSDの完全な数学モデルの確立に成功 エネルギー安定性と体積保存を同時に保持する効率的な数値方法を開発 弯曲基板の幾何学的特性が薄膜進化挙動に与える重要な影響を明らかにした 軸対称仮定 :処理可能な幾何学形状を制限表面拡散支配 :弾性効果と化学反応を無視計算複雑性 :三次元問題の計算コストは依然として高い非軸対称幾何学への拡張 多物理場結合効果の考慮 適応的メッシュ方法の開発 実際の産業問題への応用 理論的厳密性 :熱力学第一原理から出発し、完全かつ厳密に導出方法の革新性 :対称化変分公式と構造保存格式は革新的数値安定性 :無条件エネルギー安定で、時間ステップ制限を回避物理的意義 :数値結果は豊かな物理現象を明らかにする実験の充実性 :収束性、安定性、応用性の多方面での検証を含む応用範囲 :軸対称仮定は方法の普遍性を制限計算効率 :大規模三次元問題では計算コストが高い可能性パラメータ感度 :一部の材料パラメータ選択に詳細な議論が欠ける実験検証 :実際の実験データとの比較が欠けている学術的貢献 :弯曲基板上のSSD研究に重要な理論と数値ツールを提供実用的価値 :ナノデバイス設計と薄膜工学に応用可能方法論的意義 :構造保存数値方法は他の幾何進化問題に推広可能軸対称特性を有する薄膜デバイス設計 弯曲表面上のナノ構造製造 触媒微粒子の形態制御 光学・磁性デバイスの表面工学 論文は55篇の高品質参考文献を含み、SSD理論モデリング、数値方法、実験研究の主要な研究を網羅し、文献調査は包括的かつ権威的である。
総合評価 :これは理論的モデリング、数値方法、応用検証の全ての側面で重要な貢献を持つ高品質な数値解析論文である。方法は良好な数学的基礎と数値特性を有し、三次元弯曲基板上の固体脱濡れ研究に強力なツールを提供する。