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A non-integrated defect relation for holomorphic maps into algebraic varieties

Cai, Ru, Yang

In 1983, relating to the study of value distribution of the Guass maps of complete minimal surfaces in ${\Bbb R}^m$, H. Fujimoto introduced the notion of the non-integrated defect for holomorphic maps of an open Riemann surface into $\mathbb{P}^n(\mathbb{C})$ and obtained some results analogous to the Nevanlinna-Cartan defect relation. This paper establishes the non-integrated defect relation for holomorphic maps into projective varieties.

academic

代数多様体への正則写像に対する非積分欠損関係

基本情報

論文ID: 2501.00827
タイトル: A non-integrated defect relation for holomorphic maps into algebraic varieties
著者: Qili Cai, Min Ru, Chin Jui Yang
分類: math.CV（複素解析）
発表日: 2025年1月1日
論文リンク: https://arxiv.org/abs/2501.00827

要旨

1983年、H. Fujimotoは $\mathbb{R}^m$ における完全極小曲面のガウス写像の値分布を研究する際に、開リーマン面から $\mathbb{P}^n(\mathbb{C})$ への正則写像に対する非積分欠損の概念を導入し、Nevanlinna-Cartan欠損関係と類似の結果を得た。本論文は、正則写像から射影多様体への場合に対して非積分欠損関係を確立する。

研究背景と動機

問題背景

歴史的起源: 1983年、H. Fujimotoが $\mathbb{R}^m$ における完全極小曲面のガウス写像の値分布問題を研究する際に、非積分欠損の概念を導入した
古典理論: 従来のNevanlinna理論およびNevanlinna-Cartan欠損関係は主に複素射影空間 $\mathbb{P}^n(\mathbb{C})$ に適用される
理論の限界: 既存の非積分欠損理論は射影空間に限定されており、一般的な代数多様体の扱いが欠けている

研究動機

理論の推広: Fujimotoの非積分欠損概念を射影空間から一般的な射影多様体へ推広する
幾何学的応用: 完全極小曲面のガウス写像研究に対してより広範な理論的枠組みを提供する
値分布理論の充実: 複素解析における値分布理論、特に正則写像の欠損理論を豊かにする

核心的貢献

射影多様体上の非積分欠損関係の確立（定理1.3）：Fujimotoの結果を滑らかな射影多様体へ推広し、 $\sum_{j=1}^q \delta_{f,A}^k(D_j) \leq \gamma_{A,L} + 2\rho m$ の形式の欠損関係を得た
第二主要定理の改善（定理1.4）：より良い誤差項の評価を得て、K. Yamanoi の原始的結果を改善した
高次超曲面の欠損関係の確立（定理1.5）：次数が十分に高い一般超曲面に対して、正確な欠損上界を与えた
ジェット微分の主要補題の提供（補題2.2）：ジェット微分理論に対して重要な技術的ツールを提供した

方法の詳細

核心的定義

非積分欠損の定義（定義1.2）： $X$ を射影多様体、 $D$ を有効Cartier因子、 $A$ を豊富因子、 $f: M \to X$ を正則写像とする。非積分欠損は以下のように定義される：

$\delta_{f,A}^{\mu_0}(D) := \sup \{\delta \geq 0 | \delta \text{は条件}(**)\text{を満たす}\}$

ここで条件(**)は、有界非負連続関数 $h$ が存在して以下を満たすことを表す： $f^*c_1([D]) - \delta f^*c_1([A]) + dd^c \log h^2 \geq [\min\{\nu_{f(D)}, \mu_0\}]$

技術的枠組み

ジェット微分理論：論文はGreen-Griffiths ジェット微分と対数ジェット微分を使用する：

$EGG_{k,m}\Omega_X$ ： $k$ 次 $m$ 次Green-Griffiths層
$EGG_{k,m}\Omega_X(\log D)$ ：対数Green-Griffiths ジェット微分層

主要な技術的ツール：

主要補題2.2：ジェット微分 $P(j_k(f))$ の積分評価の制御
Poincaré-Lelong公式：因子とChern形式の連結
Green-Jensen公式：劣調和関数の積分評価に用いられる

証明戦略

定理1.3の証明の思路：

普遍被覆を通じて問題を単位円盤 $B(R_0)$ に帰着させる
背理法を使用： $\sum_{j=1}^q \delta_{f,A}^k(D_j) > \gamma_{A,L} + 2\rho m$ と仮定
劣調和関数 $v$ と $u$ を構成し、増長条件を利用する
Yauの結果を適用して矛盾を導く

実験設定

理論検証

論文は以下の方法で理論の正当性を検証する：

古典的場合の回復： $X = \mathbb{P}^n(\mathbb{C})$ 、 $D = H_1 + \cdots + H_q$ （一般位置の超平面）の場合、Fujimotoの原始的結果を回復する
Wronskian構成：Wronskian行列式を通じてジェット微分を構成する： $P = \det \begin{bmatrix} z_0 & \cdots & z_n \\ dz_0 & \cdots & dz_n \\ \vdots & \ddots & \vdots \\ d^n z_0 & \cdots & d^n z_n \end{bmatrix}$

定理1.5（高次超曲面）：次数 $d \geq (n+1)^{n+3}(n+1+\frac{c}{2})^{n+3}$ の一般的な滑らかな超曲面 $D$ に対して： $\delta_{f,A,*}^1(D) \leq d - c$

誤差項の改善

定理1.4における誤差項 $S(r,f,A)$ ：

$R_0 = \infty$ の場合： $S(r,f,A) \leq m((1+\varepsilon)\log^+ T_{f,A}(r) + (1+\varepsilon)^2\log^+ \log^+ T_{f,A}(r)) + O(1)$
$R_0 < \infty$ の場合： $S(r,f,A) \leq K(\log\frac{1}{R_0-r} + \log^+ T_{f,A}(r))$