We report on magnetic anisotropy modulation in Bismuth substituted Yttrium Iron Garnet (Bi-YIG) thin films and mesoscale patterned structures deposited on a PMN-PT substrate with the application of voltage-induced strain. The Bi content is selected for low coercivity and higher magnetostriction than that of YIG, yielding significant changes in the hysteresis loops through the magnetoelastic effect. The piezoelectric substrate is poled along its thickness, which is the [011] direction, by applying a voltage across the PMN-PT/SiO2/Bi-YIG/Pt heterostructure. In-situ magneto-optical Kerr effect microscopy (MOKE) shows the modulation of magnetic anisotropy with voltage-induced strain. Furthermore, voltage control of the magnetic domain state of the Bi-YIG film at a fixed magnetic field produces a 90° switching of the magnetization easy axis above a threshold voltage. The magnetoelectric coefficient of the heterostructure is 1.05x10^(-7)s/m which is competitive with that of other ferromagnetic oxide films on ferroelectric substrates such as La0.67Sr0.33MnO3/PMNPT and YIG/PMN-PZT. Voltage-control of magnetization reversal fields in 5-30 microns wide dots and racetracks of Bi-YIG show potential for energy efficient non-volatile memory and neuromorphic computing devices.
- 論文ID: 2501.00980
- タイトル: Strain Mediated Voltage Control of Magnetic Anisotropy and Magnetization Reversal in Bismuth Substituted Yttrium Iron Garnet Films and Meso-structures
- 著者: Walid Al Misba、Miela Josephine Gross、Kensuke Hayashi、Daniel B. Gopman、Caroline A. Ross、Jayasimha Atulasimha
- 分類: cond-mat.mtrl-sci cond-mat.mes-hall
- 研究機関: バージニア連邦大学、マサチューセッツ工科大学、名古屋大学、米国国立標準技術研究所
- 論文リンク: https://arxiv.org/abs/2501.00980
本研究は、PMN-PT基板上に堆積されたビスマス置換イットリウム鉄ガーネット(Bi-YIG)薄膜およびメソスケール加工構造において、電圧誘起ひずみを通じた磁気異方性変調の成果を報告している。特定のBi含有量を選択することで、YIGよりも低い保磁力とより高い磁ひずみを実現し、磁弾性効果により磁気ヒステリシスループに顕著な変化をもたらした。PMN-PT/SiO₂/Bi-YIG/Pt異種構造に電圧を印加することで、厚さ方向(011方向)に圧電基板を分極させた。その場磁気光学カー効果(MOKE)顕微鏡により、電圧誘起ひずみが磁気異方性に与える調整効果を観察した。固定磁場下において、電圧制御によるBi-YIG薄膜の磁区状態の90°磁化容易軸切り替えが実現された。この異種構造の磁電係数は1.05×10⁻⁷ s/mであり、他の強磁性酸化物薄膜の鉄電性基板上での性能と同等である。5~30マイクロメートル幅のBi-YIGドット構造およびトラック構造における電圧制御磁化反転場は、省エネルギー型不揮発性メモリおよびニューロモルフィック計算デバイスへの応用の可能性を示している。
- 消費電力の問題: 現在の磁気ランダムアクセスメモリは、書き込みに約10¹¹ A/m²の電流密度を必要とし、消費電力は約10 fJであるのに対し、マルチフェロイック素子ではわずか1~100 aJである
- 磁電結合の必要性: 高密度で低消費電力の磁性メモリデバイスを実現するため、電場による磁化制御が必要である
- 材料的制限: 単相マルチフェロイック材料は直接的な磁電結合を示すが、複合異種構造は3~4桁強い磁電結合を提供する
- ひずみ伝達機構: 鉄電-強磁性複合異種構造におけるひずみ伝達機構を利用した低熱散逸および高磁電結合係数の実現
- 材料的利点: Bi-YIGは低損失正接、大きなドメイン壁速度、低ギルバート減衰、および磁気光学活性などの利点を有する
- プロセス上の課題: 圧電化合物上での強磁性ガーネット成長における格子不整合問題の解決
- Bi-YIG/PMN-PT異種構造における90°磁化容易軸の電圧制御切り替えの初実現
- SiO₂バッファ層技術の開発により、ガーネットの圧電基板上での格子整合問題を解決
- 1.05×10⁻⁷ s/mの磁電係数を取得し、他の酸化物強磁性/鉄電性システムと同等の性能を実現
- マイクロメートルスケール加工構造における電圧制御磁化反転の実現により、メモリおよびニューロモルフィックデバイスへの応用の可能性を実証
- MOKE顕微鏡による磁区ダイナミクスのその場観察の実現
- 基板処理: 0.5mm厚(011)方位PMN-PT基板上に高周波マグネトロンスパッタリングで2.4nm非晶質SiO₂バッファ層を形成
- 薄膜成長: パルスレーザー堆積(PLD)を用いて室温でYIGおよびBFOターゲットを共堆積し、Bi₂.₁₃Y₁.₄₀Fe₅Oₓ組成の45.6nm厚Bi-YIG薄膜を得た
- 後処理: 600°Cの炉内で72時間焼鈍してガーネット構造を結晶化
異種構造はPMN-PT/SiO₂/Bi-YIG/Ptであり、以下の構成である:
- PMN-PT: 圧電基板、011方向に分極
- SiO₂: 2.4nmバッファ層、エピタキシャル成長による正フェライト構造の形成を防止
- Bi-YIG: 45.6nm強磁性層
- Pt: 上部電極
磁弾性エネルギー式は以下の通りである:
Fme=−23λs1+νYεxxsin2θcos2φ−23λs1+νYεyysin2θsin2φ
ここで、λs≈−4×10−6は負の磁ひずみ係数、εxxおよびεyyはひずみ成分である。
- 構造表現: 掠角入射X線回折(GIXD)およびX線反射率(XRR)
- 磁性測定: 振動試料磁力計(VSM)による面内および面外磁気ヒステリシスループの測定
- 形態観察: 走査電子顕微鏡(SEM)による結晶粒構造の観察
- 磁区観察: 磁気光学カー効果(MOKE)顕微鏡によるその場観察
光リソグラフィおよびイオンビームエッチングを用いて、最小サイズ5μmの楕円形およびトラック構造を製造
- 分極電圧: 450V、90分間継続
- テスト電圧範囲: 0~450V、50Vステップ
- MOKE光源: 青色光(λ≈465nm)
- 磁場範囲: ±88mT
- 結晶構造: GIXDは多結晶ガーネット特性ピークを示し、強い配向性なし
- 磁性能: 飽和磁化101±5 kA/m、面内保磁力10±5 mT
- 微視的構造: 結晶粒サイズ1~3μm、少量の非晶質領域
- ひずみ効果: x̂方向の圧縮ひずみが増加すると、保磁力は25±2 mTから27±2 mTに増加
- 容易軸転換: 電圧増加に伴い、磁化容易軸がŷ方向からx̂方向に転換
- 方形度変化: x̂方向の方形度は電圧増加に伴い増加し、ŷ方向は逆である
計算された磁電係数はαE = 1.05×10⁻⁷ s/mであり、0Vから-50Vの電圧変化時に最大値を得た。
- 楕円形構造: 電圧が450Vから0Vに低下すると、切り替え磁場は高磁場から8mTに低下
- トラック構造: ドメイン壁伝播場は0V時の7mTから450V時の6mTに低下
- ひずみ伝達: 鉄電-強磁性界面での機械的ひずみ伝達
- 界面効果: スピン状態密度の変調
- イオン移動: 電圧駆動酸素イオン移動
他のシステムに対する利点:
- 単相マルチフェロイック材料よりも強い磁電結合
- 金属強磁性材料よりも低い減衰とより高速な磁化制御
- ガーネットの圧電基板上での成長問題を解決
- Bi-YIG薄膜の90°磁化容易軸の電圧制御切り替えの実現に成功
- SiO₂バッファ層技術は格子整合問題を効果的に解決
- 磁電係数は他の酸化物システムと同等であり、良好な応用前景を示す
- マイクロメートルスケールデバイスはメモリおよびニューロモルフィック計算への可能性を示す
- 線幅が広い: 多結晶薄膜の強磁性共鳴線幅は約200mTであり、単結晶薄膜の5mTをはるかに上回る
- 応力の影響: 高い薄膜応力が磁性能に影響
- プロセス最適化: プロセスパラメータと組成のさらなる最適化が必要
- 薄膜成長プロセスの最適化による線幅の低減
- 共鳴効果による磁電応答の増強の探索
- 本技術に基づいた実用的なデバイスプロトタイプの開発
- 技術革新: Bi-YIG/PMN-PTシステムにおける90°容易軸切り替えの初実現
- プロセス上の突破: SiO₂バッファ層技術はガーネット/圧電異種構造に新たな道を提供
- 体系的研究: 薄膜からパターン化構造までの完全な研究チェーン
- 実用的価値: 低消費電力メモリデバイスへの応用の可能性を実証
- 性能制限: 多結晶構造による広い線幅がデバイス性能を制限
- 機構分析: 磁区ダイナミクスの理論分析が相対的に単純
- デバイス統合: 既存の半導体プロセスとの互換性に関する議論の欠如
- 学術的貢献: 磁電複合材料分野に新しい材料体系とプロセス方法を提供
- 応用前景: 次世代低消費電力磁気メモリデバイスの技術基盤を提供
- プロセス的価値: SiO₂バッファ層技術は他のガーネット組成および基板材料に拡張可能
- 磁気メモリデバイス: 磁気ランダムアクセスメモリ(MRAM)
- ニューロモルフィック計算: ドメイン壁ダイナミクスに基づくニューロシナプティックデバイス
- スピントロニクス: スピン波デバイスおよび磁気光学デバイス
- センサー: 電流センサーおよび磁場センサー
本論文は60篇の関連文献を引用しており、マルチフェロイック材料、磁電結合、ガーネット薄膜成長、スピントロニクスなど複数の分野の重要な研究成果を網羅し、本研究に堅実な理論基盤と技術背景を提供している。
技術要点の総括:
- ガーネットの圧電基板上での成長問題を革新的に解決
- 電圧制御による90°磁化容易軸切り替えを実現
- 基礎材料から機能デバイスまでの完全な研究経路を実証
- 低消費電力磁電子デバイスに新たな技術ソリューションを提供