2025-11-27T05:25:19.205470

Operating two exchange-only qubits in parallel

Mądzik, Luthi, Guerreschi et al.
Semiconductors are among the most promising platforms to implement large-scale quantum computers, as advanced manufacturing techniques allow fabrication of large quantum dot arrays. Various qubit encodings can be used to store and manipulate quantum information on these quantum dot arrays. Regardless of qubit encoding, precise control over the exchange interaction between electrons confined in quantum dots in the array is critical. Furthermore, it is necessary to execute high-fidelity quantum operations concurrently to make full use of the limited coherence of individual qubits. Here, we demonstrate the parallel operation of two exchange-only qubits, consisting of six quantum dots in a linear arrangement. Using randomized benchmarking techniques, we show that issuing pulses on the five barrier gates to modulate exchange interactions in a maximally parallel way maintains the quality of qubit control relative to sequential operation. The techniques developed to perform parallel exchange pulses can be readily adapted to other quantum-dot based encodings. Moreover, we show the first experimental demonstrations of an iSWAP gate and of a charge-locking Pauli spin blockade readout method. The results are validated using cross-entropy benchmarking, a technique useful for performance characterization of larger quantum computing systems; here it is used for the first time on a quantum system based on semiconductor technology.
academic

2つの交換型量子ビットの並列動作

基本情報

  • 論文ID: 2504.01191
  • タイトル: Operating two exchange-only qubits in parallel
  • 著者: Mateusz T. Mądzik、Florian Luthi、Gian Giacomo Guerreschi、Fahd A. Mohiyaddin他(インテル・コーポレーション)
  • 分類: quant-ph、cond-mat.mes-hall
  • 発表日時: 2025年10月7日(arXiv v2)
  • 論文リンク: https://arxiv.org/abs/2504.01191

要約

本論文は、半導体量子ドット配列上で2つの交換型量子ビット(exchange-only qubits)の並列動作を実現したことを示している。本研究ではインテルTunnel Fallsデバイス内の線形配置された6つの量子ドットを使用し、ランダム基準測定技術を通じて、5つのバリア門上で並列パルス変調交換相互作用を発射することで、量子ビット制御品質を維持しながら最大化された並列動作を実現できることを実証している。本論文は、iSWAPゲートと電荷ロックPauli自旋ブロッケード読み出し方法の初の実験的実証、および半導体量子システムへの交叉エントロピー基準測定の初の応用を報告している。

研究背景と動機

核心的課題

量子計算は限定された相干時間内に大量の高忠実度量子操作を実行する必要がある。マルチ量子ビットシステムにおいて、並列動作は以下の理由から重要な実現技術である:

  1. 量子ビットのアイドル時間を最小化し、デコヒーレンスによる情報損失を削減
  2. 耐性量子計算と量子誤り訂正に不可欠
  3. 量子ビット配列の計算能力を十分に活用

研究の重要性

半導体スピン量子ビットはシリコンウェーハ製造プロセスとの自然な互換性により、大規模量子計算の有望なプラットフォームとなっている。その中でも、**交換型量子ビット(EO qubits)**の独特な利点は:

  • 単一量子ビットゲートと2量子ビットゲートの両方が電圧パルスによる動的交換結合制御で実現
  • マイクロ波パルスが不要で、セットアップ、製造、制御、キャリブレーションの要件を簡素化
  • スケーラブルな2次元配列に特に適している

既存方法の限界

  1. Loss-DiVincenzo(LD)量子ビット: マイクロ波パルスの周波数多重化により並列単一量子ビットゲートが可能だが、2量子ビットゲート(交換結合を通じて)は順序実行のみ
  2. 交換型量子ビット: 高忠実度単一量子ビットゲートと汎用論理が実現されているが、すべて順序交換パルスを採用しており、並列動作がゲート忠実度に与える影響は未探索
  3. クロストーク問題: 並列パルスは容量結合、オンチップおよびオフチップ信号経路のクロストークを導入し、正確な補償が必要

研究動機

本論文は交換型量子ビットの並列動作に関する空白を埋め、並列化程度を評価する実験フローを確立し、ワークロード開発と将来のデバイス設計に指針を提供することを目指している。

核心的貢献

  1. 交換型量子ビットの高忠実度並列動作の初実現:
    • 単一量子ビットゲート: 並列動作忠実度99.77±0.02%(Q1)および99.36±0.03%(Q2)、順序動作と比較して0.05-0.07%のみ低下
    • 2量子ビットゲート: 並列動作によりゲート時間を約40%短縮
  2. 次近隣バリア-バリア補償方法の提案:
    • 交換型量子ビットの特殊要件に対応した線形仮想化補償スキームを設計
    • 並列交換パルスのクロストーク影響を効果的に抑制
  3. iSWAPゲートの初実験的実証:
    • 順序動作忠実度97.43±0.43%
    • 並列動作忠実度96.15±0.57%
  4. 革新的な電荷ロックPSB読み出し方法:
    • マルチ交換型量子ビットシステムの完全状態抽出問題を解決
    • 単重項寿命T*₂(約2-4μs)による順序読み出しの制限を克服
  5. 半導体量子システムへの交叉エントロピー基準測定(XEB)の初応用:
    • 順序動作: 周期あたり96.8±0.4%忠実度
    • 並列動作: 周期あたり97.0±0.4%忠実度

方法の詳細説明

タスク定義

入力: 2つの交換型量子ビット(Q1およびQ2)、それぞれ量子ドットQD4-QD6およびQD7-QD9上にエンコード
出力: 高忠実度を維持しながら、単一量子ビットおよび2量子ビットゲートの並列動作を実現
制約条件:

  • 交換パルス時間tp = 10.92 ns、バッファ時間tb = 10.92 ns
  • 隣接バリア門の同時パルスを回避(異なる量子操作を導致)
  • 容量結合、信号経路などによるクロストークを補償

交換型量子ビットエンコーディング

交換型量子ビットは3つの量子ドット内の3つの電子スピンでエンコード:

計算基底の定義:

  • |0⟩ = |S⟩|↓⟩、ここで|S⟩ = (|↑↓⟩ - |↓↑⟩)/√2は単重項
  • |1⟩ = √(2/3)|T₊⟩|↓⟩ - √(1/3)|T₀⟩|↑⟩

制御軸:

  • Jz軸: QD4-QD5(Q1)またはQD8-QD9(Q2)の交換結合を通じてz軸周りの回転を実現
  • Jn軸: QD5-QD6(Q1)またはQD7-QD8(Q2)の交換結合を通じてn = -√3X/2 - Z/2軸周りの回転を実現(z軸と120°)

回転角: φ = tp · J(VB)、バリア電圧VBを調節して交換強度Jを制御

電荷ロックPSB読み出し

従来の順序PSB読み出しの問題: 第2の量子ビットは読み出しを待つ間、T*₂時間スケール(2-4μs)でデコヒーレンスし、読み出し積分時間は18μs。

電荷ロック方案:

  1. (I-III) QD4-QD5をPSB読み出しウィンドウ(21.84 ns)に高速パルス、スピン投影を待機(3.64 ns)、オプションでトンネル結合を低下させて緩和を抑制
  2. (IV-VI) QD8-QD9を読み出しウィンドウにパルスして投影
  3. (VII) QD4-QD5に18μs積分してQ1状態を読み出し
  4. (VIII) QD8-QD9に18μs積分してQ2状態を読み出し
  5. (IX-X) 両量子ビットを動作位置に戻す

主要な利点: 電荷が読み出しウィンドウで「ロック」され、緩和時間は積分時間より大幅に長く、情報損失を回避。

次近隣バリア-バリア補償

クロストークメカニズム:

  1. 容量結合: バリア電極電圧が近隣量子ドットの電荷状態とトンネル結合に影響
  2. バリア電圧増加は単にバリア高さを低下させるだけでなく、量子ドットを相互に引き付け、結合をさらに増強
  3. 同時パルス時、これらの効果が相互に重ね合わさり、交換結合強度を変化

従来の仮想化の問題:

  • 理想的な完全補償は交換結合調整可能性dJN/dvBNを制限
  • 最近隣バリア-バリア仮想化は調整可能範囲を著しく低下

次近隣補償方案: 観察に基づく: 交換型量子ビットの単一量子ビットおよび2量子ビットゲートは決して隣接バリア門で同時にパルスを発射しない。したがって:

  • 次近隣(1つのバリア間隔)のクロストーク寄与のみを管理
  • 最近隣トンネル結合変化を許可するが、次近隣結合を不変に確保
  • 例: B6とB8を同時にパルスする場合、B5、B7、B9に追加補償パルスを施加

キャリブレーション流程:

  1. バリア電圧と失調の関数として交換フィンガープリント(exchange fingerprint)を測定
  2. 別のバリアを同時にパルスする際のフィンガープリント中心線の変位を追跡
  3. クロストーク行列要素を抽出(Extended Data Table 1は良好な横方向変位対称性を示す)
  4. 反復最適化してフィンガープリントを同時パルス振幅から独立させる(図2f)

パルス前歪み

問題: 伝送線の有限帯域幅によるパルス歪み、パルス下降時間が後続パルスに影響し、システムメモリ効果を生成。

解決方案:

  1. バッファ時間スペクトル分析: 異なるバッファ時間tbと回転角での応答を測定、約8 nsおよび50 nsの時間スケールの指数パラメータを抽出
  2. リアルタイム前歪み: AWG最終出力段で指数アンダーシュート/オーバーシュート補償を適用
  3. 長時間スケール最適化: ランダムClifford門シーケンスの可視性を目的関数として、約500 nsの時間スケール前歪みパラメータを最適化
  4. パルス単位修正: サンプル単位ではなく、パルス履歴に基づいて交換パルス振幅を修正

ゲートライブラリ設計

単一量子ビットCliffordゲート:

  • 正角度JnおよびJz回転から合成
  • 平均2.666個の交換パルスが必要

2量子ビットゲート並列化:

  • CNOT: 23ステップ→15ステップ(35%削減)
  • iSWAP: 28ステップ→17ステップ(39%削減)
  • SWAP: 9ステップ→5ステップ(44%削減)
  • Cliffordゲートあたり平均: 32.3ステップ→20.3ステップ(37%削減)

ミラーリングゲート(Mirroring gates):

  • 3つのπパルス(n-z-n)を通じて原位置で量子ビット構成を変更
  • 2量子ビットゲートシーケンスを最適化してパルス数を削減
  • 高品質係数交換軸上でより多くのパルスをスケジュール

実験セットアップ

デバイスと製造

  • デバイス: インテルTunnel Falls 12量子ドットデバイス
  • 製造プロセス: 300 mmシリコンウェーハ、先進半導体製造技術
  • 量子井戸: Si/SiGe異質構造、²⁸Si同位体富化800 ppm ²⁹Si残留
  • 電荷構成: (1,3,1,1,3,1)、QD5およびQD8は各3つの電子を含有してPSB読み出しウィンドウを拡大
  • 磁場: 1 mT小磁場で核スピン動力学を抑制

キャリブレーションと表現

交換結合キャリブレーション:

  1. フィンガープリントキャリブレーション: 交換パルスが失調方向電荷ノイズに不敏感であることを確保
  2. 初期キャリブレーション: J(VB) = α·exp(γVB)を測定
  3. 精密キャリブレーション: 2次修正J(VB) = α·exp(γVB + κV²B)を導入、またはヒューリスティック補間を使用

デコヒーレンス表現:

  • 単重項寿命T*₂: 2.48-4.21 μs(異なる量子ドット対)
  • 交換振動品質係数Q: 16.7-28.3
  • 分解可能振動数Nosc: 20.0-35.6

評価指標

ランダム基準測定(RB):

  • ブラインドRB: 各シードを|0⟩および|1⟩に2回回復、漏洩誤差を抽出
  • インターリーブRB: ランダムClifford門間に被測定ゲートを挿入、特定ゲート忠実度を抽出
  • 各測定: 5回の反復、各回20-25個のランダムシード

交叉エントロピー基準測定(XEB):

  • ランダム量子回路(RQC): ランダムJn/Jz単一量子ビットゲート + CNOT 2量子ビットゲート
  • 線形化XEB忠実度: FXEB = D⟨pU(xj)⟩j - 1
  • 100個のランダム回路、ビット文字列分布と模擬を比較測定

モンテカルロシミュレーション:

  • 磁気ノイズ(δB)および電荷ノイズ(δJ)寄与を推定
  • δBは平均T̄*₂に適合、δJは分解可能振動数Noscに適合

実験結果

単一量子ビットゲート性能

順序動作(図3a-d):

  • Q1 Clifford忠実度: 99.84±0.02%(漏洩0.08±0.02%)
  • Q2 Clifford忠実度: 99.41±0.03%(漏洩0.13±0.02%)

並列動作(図3e-g):

  • Q1 Clifford忠実度: 99.77±0.02%(漏洩0.11±0.04%)
  • Q2 Clifford忠実度: 99.36±0.03%(漏洩0.16±0.03%)
  • 忠実度低下: 0.05-0.07%、次近隣補償の有効性を証明

並列パルス組み合わせ: Jz-Jz、Jz-Jn、Jn-Jz、Jn-Jnなどすべての次近隣組み合わせをテスト。

2量子ビットゲート性能

順序動作(図4a-c):

  • 2量子ビットClifford忠実度: 96.25±0.07%
  • CNOT: 97.55±0.47%
  • iSWAP: 97.43±0.43%(初実験的実証)
  • SWAP: 99.03±0.33%

並列動作(図4d-f):

  • 2量子ビットClifford忠実度: 95.80±0.08%
  • CNOT: 96.70±0.57%
  • iSWAP: 96.15±0.57%
  • SWAP: 98.48±0.55%
  • 忠実度低下: 0.55-1.28%

誤差予算分析(Extended Data Table 2):

ゲートモード忠実度磁気ノイズ電荷ノイズその他
CNOT順序97.55%1.03%0.48%0.94%
CNOT並列96.70%0.48%0.45%2.37%
iSWAP順序97.43%1.22%0.56%0.79%
iSWAP並列96.15%0.43%0.56%2.86%
SWAP順序99.03%0.17%0.14%0.66%
SWAP並列98.48%0.05%0.13%1.34%

主要な発見:

  1. 並列化により磁気ノイズ寄与が60%以上低下(ゲート時間短縮、誤差∝(tgate/T*₂)²)
  2. 電荷ノイズ寄与は基本的に不変
  3. 「その他の効果」(キャリブレーション誤差、非マルコフ寄与)は並列モードで増加、B7とB5/B9の結合キャリブレーション不足に帰属

交叉エントロピー基準測定(図5)

順序動作:

  • 周期あたり忠実度: 96.8±0.4%
  • 2量子ビットRB結果と一致

並列動作:

  • 周期あたり忠実度: 97.0±0.4%
  • 誤差範囲内で順序動作と一致

初応用の意義: XEBが半導体量子システムの全体的性能評価に使用可能であることを証明し、より大規模なシステムへの拡張のための方法論的基礎を提供。

量子状態層析検証

|00⟩状態製備(図1c):

  • 忠実度: 86.4±1.4%
  • 後選択初期化を通じて

iSWAPゲート位相検証(Extended Data Fig. 7):

  • Q1叠加状態|+⟩|0⟩を製備
  • iSWAP適用後|0⟩(|0⟩+i|1⟩)/√2を得る
  • 層析結果は予期されたi位相を確認

関連研究

スピン量子ビットプラットフォーム

  1. Loss-DiVincenzo量子ビット:
    • 単一電子スピンエンコーディング、マイクロ波パルス操作が必要
    • 単一量子ビットゲートは並列可能(周波数多重化)、2量子ビットゲートは順序実行
    • 代表的研究: Xue et al. (2022)、Mills et al. (2022)
  2. 交換型量子ビット:
    • 3電子集合スピンエンコーディング、マイクロ波不要
    • 高忠実度単一量子ビットゲート: Andrews et al. (2019)
    • 汎用論理: Weinstein et al. (2023)
    • 並列探索: Fedele et al. (2021)、Jirovec et al. (2025)、ただし忠実度影響の推定なし
  3. その他のエンコーディング:
    • パルスゲート制御ハイブリッド量子ビット: Koh et al. (2012)
    • Heisenberg交換: Levy (2002)

仮想化技術

  • 標準仮想化: Hensgens et al. (2017)、Volk et al. (2019)
  • バリア-バリア仮想化: Hsiao et al. (2020)、Qiao et al. (2020)
  • 本論文の貢献: 並列動作の正確なキャリブレーション、次近隣補償の導入

読み出し技術

  • Pauli自旋ブロッケード(PSB): Petta et al. (2005)
  • 凍結PSB: Nurizzo et al. (2023)
  • カスケード読み出し: van Diepen et al. (2021)
  • 本論文の革新: 電荷ロックPSB、マルチEO量子ビット完全状態抽出を解決

基準測定方法

  • ランダム基準測定: Knill et al. (2008)
  • ブラインドRB: Andrews et al. (2019)
  • 交叉エントロピー基準測定: Boixo et al. (2018)、Arute et al. (2019)
  • 本論文初: 半導体システムでのXEB適用

結論と議論

主要な結論

  1. 並列動作の実現可能性: 交換型量子ビットの高忠実度並列動作を成功裏に実証、単一量子ビットゲート忠実度低下はわずか0.05-0.07%
  2. 次近隣補償の有効性: 線形仮想化フレームワークはほとんどのクロストークを補償するのに十分だが、特定のバリア組み合わせ(B7-B5/B9など)は2次修正が必要
  3. ゲート時間短縮: 並列化により2量子ビットゲート時間が約40%削減、磁気ノイズ誤差寄与を著しく低下(>60%)
  4. キャリブレーション精度がボトルネック: 並列2量子ビットゲート忠実度低下0.55-1.28%、主にキャリブレーション誤差と非マルコフ効果に起因
  5. 方法の推広可能性: 技術は他の量子ドットエンコーディング(LD量子ビットなど)に直接適用可能

限界

  1. キャリブレーション複雑性:
    • 特定のバリア組み合わせのフィンガープリント形状変化は2次修正が必要
    • 非対称チューニング(リザーバー近くの量子ドットトンネル結合低下)がキャリブレーション難度を増加
  2. デバイス依存性:
    • 隣接センサーが欧姆接触を共有、完全並列読み出しを制限
    • PSB対を分離するために2つの格点間隔が必要でクロストークを回避
  3. 並列2量子ビットゲート忠実度:
    • 順序動作と比較してさらに低下(0.55-1.28% vs 0.05-0.07%)
    • デコヒーレンス誤差低下にもかかわらず、全体的改善はまだ観察されていない
  4. 拡張性未検証:
    • 2つの量子ビットのみ実証
    • より大規模配列のクロストーク補償複雑性は未知

将来の方向

  1. キャリブレーション改善:
    • 2次クロストーク補償の実装(Rao et al. 2024)
    • 自動仮想化システムの開発
    • デバイス均一性からのキャリブレーションパラメータ移行の活用
  2. 材料最適化:
    • より高純度の²⁸Si同位体使用
    • 電荷ノイズ低下
  3. より大規模システムへの拡張:
    • 2次元量子ドット配列での検証
    • より複雑な並列スケジューリング戦略の探索
  4. 読み出し改善:
    • 真の並列マルチ量子ビット読み出しの実現
    • 動的デカップリングを組み合わせてアイドル量子ビット寿命を延長
  5. 耐性応用:
    • 並列動作が量子誤り訂正に与える影響を評価
    • 耐性閾値(<0.1%誤差)を満たすための並列スケジューリングを最適化

深度評価

利点

  1. 重要なマイルストーン:
    • 交換型量子ビット並列動作の初の体系的研究
    • この分野の重要な空白を埋め、スケーラブル量子計算への道を開く
  2. 方法の革新性:
    • 次近隣補償: EO量子ビットの操作特性(隣接バリアを同時にパルスしない)を巧みに活用、調整可能性を維持しながらクロストーク補償を実現
    • 電荷ロックPSB: マルチEO量子ビット読み出しの難題を優雅に解決、複雑な動的デカップリングや並列センサー設計を回避
  3. 実験の十分性:
    • 完全な性能表現: 単一/2量子ビットRB、インターリーブRB、XEB
    • 詳細な誤差予算分析: 磁気ノイズ、電荷ノイズ、キャリブレーション誤差を分離
    • 豊富な消融実験: クロストーク補償、パルス前歪みの必要性を検証
  4. 初実証:
    • iSWAPゲート(97.43%忠実度)
    • 半導体システムでのXEB
    • 体系的な並列動作忠実度評価
  5. 工学的厳密性:
    • 詳細なキャリブレーション流程(フィンガープリント、初期、精密)
    • パルス前歪み技術(複数時間スケール)
    • 産業製造デバイスの均一性活用
  6. 執筆の明確性:
    • 論理構造が明確、問題から方法から検証へ
    • 豊富な補足資料(Extended Data、Supplementary)
    • 優れた可視化効果(バリア補償示意図、パルスシーケンス図)

不足

  1. 並列2量子ビットゲート改善が限定的:
    • 忠実度低下0.55-1.28%、純改善を実現していない
    • キャリブレーション精度不足がデコヒーレンス誤差低下の利点を相殺
    • 著者はB7キャリブレーション問題に帰属するが、定量分析が不足
  2. 拡張性に疑問:
    • 2つの量子ビットのみ実証、クロストーク補償複雑性が量子ビット数とともにどう拡張するか未知
    • 2次元配列の並列スケジューリング戦略は未探討
    • 仮想化行列の規模と条件数の問題
  3. 初期化方法がスケーラブルでない:
    • 後選択に依存、受け入れ率1/4^N
    • リザーバー支援の確定的初期化が必要であることを認めるが、未実装
  4. 特定の技術詳細が不足:
    • 2次クロストーク修正の具体的形式が未提示
    • パルス前歪み最適化の収束性とロバスト性は未議論
    • 異なるランダムシード間の忠実度変動性は未報告
  5. 理論予測との乖離:
    • |00⟩状態忠実度はわずか86.4%、ゲート忠実度予測より著しく低い
    • 初期化、読み出し、または相干時間制限に起因する可能性があるが、深い分析が不足
  6. 比較が十分でない:
    • LD量子ビット並列動作との定量的比較が欠落
    • 超伝導量子ビット並列動作との優劣について未議論

影響力

  1. 分野への貢献:
    • 方法論: 次近隣補償は量子ドット配列並列動作の汎用フレームワークを提供
    • 基準: EO量子ビット並列動作の性能基準を確立(単一量子ビット99.36-99.77%、2量子ビット95.80%)
    • ツール: 半導体システムでのXEB適用は将来の大規模検証の範例を提供
  2. 実用価値:
    • 短期: 2量子ビットゲート時間40%削減、アルゴリズム深度を直接向上
    • 中期: 量子誤り訂正の並列シンドローム抽出への道を開く
    • 長期: 耐性量子計算に必要な高並列度をサポート
  3. 再現性:
    • : 詳細な方法記述、キャリブレーション流程、パラメータ設定
    • データは公開(Zenodo)
    • 商業的に入手可能なTunnel Fallsデバイスを使用
  4. トレンド主導:
    • 半導体量子計算を産業製造方向へ推進
    • 仮想化とクロストーク補償のスケーラビリティにおける核心的役割を強調
    • 多層基準測定(RB + XEB)を提唱

適用シナリオ

  1. 直接適用:
    • インテルTunnel Fallsおよび類似の線形/2次元量子ドット配列
    • 他の交換型量子ビット実装
    • LD量子ビットの2量子ビットゲート並列化
  2. 適応が必要:
    • 異なるデバイス幾何学構造(仮想化行列は再キャリブレーション必要)
    • より大規模な量子ビット数(2次修正またはアダプティブ仮想化が必要な可能性)
    • 異なる製造プロセス(クロストーク特性が異なる可能性)
  3. 啓発的意義:
    • 他の量子計算プラットフォームの並列動作戦略
    • マルチ量子ビットシステムのクロストーク管理
    • 産業製造と量子計算の結合

参考文献

主要参考文献:

  1. 交換型量子ビット理論:
    • DiVincenzo et al.、Nature 408、339 (2000) - EO量子ビット提案
    • Kempe et al.、Phys. Rev. A 63、042307 (2001) - デコヒーレンスフリー耐性理論
  2. 近年の高忠実度研究:
    • Andrews et al.、Nature Nanotech. 14、747 (2019) - ブラインドRBと漏洩定量化
    • Weinstein et al.、Nature 615、817 (2023) - 汎用論理実証
  3. 仮想化技術:
    • Hensgens et al.、Nature 548、70 (2017) - 標準仮想化
    • Hsiao et al.、Phys. Rev. Applied 13、054018 (2020) - トンネル結合直交制御
  4. XEB基準測定:
    • Arute et al.、Nature 574、505 (2019) - 量子優位性実証
    • Boixo et al.、Nature Physics 14、595 (2018) - XEB理論
  5. デバイス製造:
    • George et al.、Nano Letters (2024) - Tunnel Fallsデバイス
    • Neyens et al.、Nature 629、80 (2024) - 300 mmウェーハ均一性

総合評価: これは高品質の実験物理論文であり、交換型量子ビット並列動作という重要な問題を体系的に解決している。並列2量子ビットゲートの改善がまだ明らかでないにもかかわらず、方法の革新性(次近隣補償、電荷ロックPSB)と初実証(iSWAP、XEB)により、この分野の重要なマイルストーンとなっている。本論文は半導体量子計算のスケーラビリティのための重要な技術基礎を提供し、将来の大規模量子プロセッサ開発に重要な指導意義を持つ。主な改善方向は並列2量子ビットゲートのキャリブレーション精度向上と、より大規模システムへの拡張検証である。