2025-11-23T17:10:17.463865

Science ouverte et collaborative pour l'élaboration d'un banc automatisé de caractérisation de pertes en commutation par opposition

Rouger, Villa, Masson et al.
The switching losses of power transistors are generally measured using the so-called double pulse method. Measuring the opposition of two switching cells is a complementary method that is more accurate but indirect. However, implementing this method can be more complex and requires calibration steps and comprehensive control, with the added issue of thermal management. In this context, we proposed to address this topic through open and collaborative science, first in the form of a two-day hackathon, followed by monthly open sessions. More than 20 participants contributed to the two-day hackathon, followed by monthly sessions for those wishing to continue working together. This enabled us to set up an automated bench, in open science, including the generation of switching commands, the configuration and control of measuring instruments, and the hardware part. Here we present and share our work and this open approach.
academic

オープンで協調的な科学による対置法スイッチング損失自動特性評価ベンチの開発

基本情報

  • 論文ID: 2510.09725
  • タイトル: オープンで協調的な科学による対置法スイッチング損失自動特性評価ベンチの開発
  • 著者: Nicolas Rouger, Luiz Villa, Matthieu Masson, Pauline Kergus, Joseph Kemdeng, Lorenzo Leijnen, Jean Alinei, Adrien Colomb, Ayoub Farah-Hassan, Arnauld Biganzoli
  • 分類: physics.ed-ph cs.SY eess.SY
  • 発表会議: SYMPOSIUM DE GENIE ELECTRIQUE (SGE 2025), 1-3 JUILLET 2025, TOULOUSE, FRANCE
  • 論文リンク: https://arxiv.org/abs/2510.09725

概要

パワートランジスタのスイッチング損失は通常、ダブルパルス法を用いて測定される。2つのスイッチング素子の対置測定は、より精密だが間接的な補完的方法である。しかし、この方法の実装はより複雑であり、キャリブレーション段階と完全な制御、および熱管理の問題が必要である。この状況において、著者らはオープンで協調的な科学を通じてこの問題に取り組むことを提案している。まず2日間のハッカソン、その後は月次のオープンミーティングである。20名以上の参加者が2日間のハッカソンに貢献し、その後、協力を継続したい者のための月次ミーティングが開催された。これにより、オープンサイエンスアプローチを採用した自動化テストベンチを構築することが可能になった。スイッチングコマンド生成、測定機器の設定と制御、およびハードウェア部分を含む。

研究背景と動機

核心的な問題

パワートランジスタのスイッチング損失の正確な測定は、電力電子分野における重要な技術的課題である。従来のダブルパルス測定法は広く使用されているが、精度に制限がある。対置法は、2つのスイッチング素子の対置動作を通じて平均電力損失を測定する、より精密な測定方法である。

問題の重要性

  1. 精度要件：SiCおよびGaNなどのワイドバンドギャップ半導体デバイスの発展に伴い、スイッチング速度がますます高速化し、測定精度と時間分解能の要件が継続的に向上し、ナノ秒レベルのタイミング制御が必要である
  2. 熱管理の課題：対置法では、デバイスが定格電力ポイントで連続動作する必要があり、自己発熱効果が生じるため、温度ドリフトを回避するために測定を迅速に完了する必要がある
  3. 技術的複雑性：自動化対置法テストベンチの実装には、機器制御、信号生成、電力ハードウェアなど複数の技術分野の統合が必要である

既存方法の制限

  • ダブルパルス法は精度が限定的であり、特に高速スイッチングデバイスの場合
  • 対置法は精密だが実装が複雑であり、標準化された自動テスト解決策が不足している
  • 既存の実装は通常、複数の専門分野の深い知識を必要とし、特に博士課程の学生にとって課題となる

研究動機

著者らは、ハッカソンと月次ミーティングの形式を通じて、複数の分野の専門家を集め、この複雑な技術的問題を共同で解決し、すべての成果をオープンソース形式で共有するという、オープン協調科学の革新的なアプローチを採用している。

核心的な貢献

  1. 完全な自動化対置法テストベンチの開発：ハードウェア設計、機器制御、信号生成の完全なソリューションを含む
  2. Python監督制御システムの実装：SCPIプロトコルを通じた複数の測定機器の自動制御と同期測定の実現
  3. 高精度信号生成システムの構築：OwnTech SPINコントローラに基づき、最大5.4GHzクロックのナノ秒レベルのタイミング制御を実現
  4. オープンソース完全ソリューションの提供：すべてのコードと設計がGPL v3プロトコルの下でオープンソース公開
  5. 協調科学モデルの検証：20名以上の参加者によるハッカソンを通じた複雑な技術システム開発の成功実現

方法の詳細

タスク定義

パワートランジスタのスイッチング損失を測定する完全自動化システムの開発。以下の機能を備える：

  • 測定機器の自動設定と制御
  • 正確に同期したスイッチング制御信号の生成
  • 高速で正確な電力損失測定の実装
  • 熱効果の影響を低減するための測定時間の最小化

システムアーキテクチャ

システムは3つの主要コンポーネントで構成される：

1. 監督制御と機器管理

  • Python監督プログラム：テスト全体のプロセスの自動制御を担当
  • 機器設定：PyVISAおよびSCPIプロトコルを通じた制御：
    • DC電源：段階的な電圧上昇、安定化、および遮断
    • デジタルマルチメータ：平均DC電流と電圧の測定
    • オシロスコープ：セグメント化されたストレージを使用した高速波形取得
  • 同期メカニズム：ハードウェア同期信号を使用してすべての測定をトリガーし、通信遅延を回避

2. 信号生成システム

OwnTech SPINコントローラに基づく2つのテストモードの実装：

  • 位相差モード：固定デューティサイクル、2つのユニット間の位相差を変化
  • デューティサイクル差モード：ゼロ位相差、2つのユニット間のデューティサイクル差を変化

3. 電力ハードウェアプラットフォーム

  • Infineon EVAL-1ED3122Mx12H評価ボードの使用
  • 隔離ドライバを備えたハーフブリッジスイッチングユニット
  • 600V/20Aの電力レベルをサポート
  • 200V/20Aシリコンモスフェットを用いた検証

技術的革新点

  1. 複数機器の同期測定：ハードウェア同期信号を通じた複数の測定機器の正確な同期を実現し、通信遅延の影響を排除
  2. 適応的測定時間制御：測定精度と熱効果のバランスを最適化
  3. JSON設定ファイルシステム：柔軟なテストパラメータ設定と実験設計を実現
  4. ナノ秒レベルのタイミング制御：5.4GHzクロックを利用した高精度デッドタイム制御

実験設定

ハードウェア構成

  • 電力デバイス：200V/20Aシリコンモスフェット (TO-247-3パッケージ)
  • 評価ボード：Infineon EVAL-1ED3122Mx12H
  • インダクタンス：50μH
  • コントローラ：OwnTech SPIN (5.4GHzクロック)

テストパラメータ範囲

  • DC母線電圧：30V～60V
  • スイッチング周波数：50kHz～80kHz
  • ピーク電流：0.5A～3A
  • デッドタイム：300ns
  • 測定時間：1ms～20ms

評価指標

  • スイッチング損失エネルギー (E_off, E_on)
  • 平均電力損失
  • 測定精度と再現性
  • システム自動化の程度

実験結果

主要な結果

1. システム機能の検証

完全に自動化されたテストプロセスの成功実装：

  • テスト設定ファイルの自動生成
  • すべての測定機器の自動制御
  • マルチパラメータスキャンテストの自動実行
  • 自動データ取得と初期処理

2. スイッチング損失測定結果

30V～50V母線電圧範囲内で、ターンオフ損失エネルギーの抽出に成功：

  • E_off vs I_peak関係：0.5A～1.5A電流範囲内で、ターンオフ損失は0.2μJから1.0μJに増加
  • 電圧依存性：より高い母線電圧下でスイッチング損失が顕著に増加
  • 測定一貫性：複数回の測定結果は良好な再現性を示す

3. 波形品質分析

高品質の電圧電流波形の取得：

  • 明確なスイッチング過渡プロセス
  • 正確なデッドタイム制御
  • 良好な信号同期性

ケース分析

典型的な動作ポイントテスト

  • パラメータ：60V母線電圧、80kHzスイッチング周波数、3Aピーク電流
  • 結果：完全なスイッチング過渡プロセスの捕捉に成功し、対置法の有効性を検証

自動スキャンテスト

マルチ次元パラメータ空間の自動スキャンの実装：

  • 電圧スキャン：30V、40V、50V
  • 電流スキャン：0.5A～1.5A (5ポイント)
  • 各動作ポイントのスイッチング損失の自動抽出

実験的発見

  1. 熱効果の影響：LTspice電熱シミュレーションを通じて、200msのテスト時間が結合温度の顕著な上昇をもたらすことを発見
  2. 測定精度のトレードオフ：測定精度とテスト時間の間で最適なバランスを見つける必要がある
  3. システム安定性：自動化システムは長時間運用で安定した信頼性を示す

関連研究

対置法の発展経緯

  1. Forest et al. (2006)：大電力電子変換器テスト用対置法の初の体系的提案
  2. Brandelero et al. (2013)：GaNパワートランジスタの非侵襲的スイッチング損失測定への対置法の応用
  3. Sathler & Cougo (2017)：ワイドバンドギャップトランジスタのスイッチングエネルギー推定精度向上のための対置法の改善
  4. Nguyen Tien et al. (2023)：対置法に基づいた半導体損失推定機器の開発

本論文の関連研究に対する優位性

  1. 完全自動化：信号生成からデータ処理までの全プロセス自動化を初めて実現
  2. オープンソース開放：すべての設計とコードが完全にオープンソース化され、技術推進を促進
  3. マルチパラメータ最適化：測定精度、速度、熱管理を同時に考慮
  4. 協調モデルの革新：ハッカソンモデルを通じた学際的技術統合の実現

結論と考察

主要な結論

  1. 完全な自動化対置法テストベンチの開発に成功し、オープン協調科学モデルの有効性を検証
  2. ナノ秒レベルのタイミング制御と複数機器の同期測定を実現し、現代のパワーデバイステスト要件を満たす
  3. オープンソース方式を通じて、電力電子テスト分野に標準化ソリューションを提供

制限事項

  1. 熱管理：現在のバージョンは自己発熱効果が測定精度に与える影響を完全には解決できていない
  2. 電力レベルの制限：検証は中程度の電力レベル(200V/20A)でのみ実施され、高電力応用にはさらなる検証が必要
  3. キャリブレーション自動化：回路パラメータ(インダクタンス、抵抗)の自動キャリブレーション機能が不足
  4. 安全メカニズム：通信障害などの異常状況に対する自動安全保護が不足

今後の方向性

  1. 熱最適化テストシーケンス：熱効果を考慮したインテリジェントテストシーケンスの開発
  2. 自動キャリブレーションシステム：回路パラメータの自動識別とキャリブレーションの実現
  3. 電力範囲の拡張：より高い電力レベルと異なるパッケージのデバイスへの適応
  4. データベース構築：オープンなデバイス特性データベースの構築
  5. 精度分析：他の測定方法との体系的な精度比較

深層評価

利点

技術的革新性

  1. システム統合の革新：機器制御、信号生成、電力ハードウェアを初めて完全に統合した自動化システムの実現
  2. タイミング制御精度：5.4GHzクロックで実現されたナノ秒レベルの制御は、この分野の先進水準を代表
  3. 同期測定方案：ハードウェア同期トリガーが複数機器測定のタイミング一貫性問題を解決

方法論的貢献

  1. オープンサイエンス実践：複雑な技術システム開発の新しいモデルを実証
  2. 学際的協力：機器、制御、電力電子など複数の専門分野の成功的統合
  3. 知識伝播：オープンソース方式を通じた技術敷居の低下と応用推進

実用的価値

  1. 即用性：完全に使用可能なテストソリューションを提供
  2. 拡張性：モジュール設計により異なる応用要件への適応が容易
  3. 教育的価値：関連分野の教育と訓練に優質なリソースを提供

不足

技術的制限

  1. 熱管理の不完全性：電熱シミュレーションが顕著な熱効果を示すが、有効なリアルタイム熱管理戦略が不足
  2. 電力範囲の限定：中程度の電力デバイスでのみ検証され、高電力応用の適用性は未検証
  3. 精度分析の不足：標準方法との定量的精度比較が不足

実験設計

  1. デバイスタイプの単一性：主にシリコンモスフェットで検証され、SiC/GaNデバイスの検証が不十分
  2. 長期安定性：長期運用の信頼性検証が不足
  3. 極端条件テスト：高温、高周波などの極端な条件でのテストが未実施

システムの完全性

  1. 安全メカニズムの欠落：包括的な故障検出と保護メカニズムが不足
  2. ユーザーインターフェースの簡潔性：GUI機能が比較的基本的で、ユーザー体験の改善が必要
  3. ドキュメントの不十分性：技術ドキュメントの完全性と使いやすさの向上が必要

影響力

学術的価値

  1. 方法論的貢献：電力電子テスト標準化に重要な参考を提供
  2. 協力モデルの示範：他の分野で参考となるオープンサイエンス実践
  3. 技術推進：電力電子分野における自動化テスト技術の応用推進

実用的影響

  1. 産業応用の可能性：パワーデバイス製造業者の製品テストに直接応用可能
  2. 教育推進：高等教育機関と研究機関に優質な教育・研究ツールを提供
  3. 標準化促進：業界テスト標準と規範の確立を支援

技術生態系

  1. オープンソース生態系の構築：電力電子オープンソースコミュニティへの重要なリソース貢献
  2. 学際的融合：テスト測定と電力電子技術の深い融合を促進
  3. 人材育成：関連分野の人材育成に実践プラットフォームを提供

適用シーン

  1. デバイス製造業者：パワー半導体デバイスの製品開発と品質管理
  2. 研究機関：電力電子関連の科学研究プロジェクトと学術研究
  3. 教育機関：電力電子コースの実験教育とプロジェクト実践
  4. テストサービス：第三者テスト機関の標準化テストサービス

参考文献

  1. Brandelero, J., et al. "A non-intrusive method for measuring switching losses of gan power transistors." IECON 2013.
  2. Forest, F., et al. "Use of the opposition Method in the Test of High Power Electronics Converters." IEEE Transactions on Industrial Electronics, 2006.
  3. Sathler, H., & Cougo, B. "Improvement of the modified opposition method used for accurate switching energy estimation of wbg transistors." IEEE WiPDA, 2017.
  4. GitHub Repository: https://github.com/owntech-foundation/test_bench_code

総合評価：これは重要な実用的価値と方法論的革新を備えた論文である。著者らはオープン協調的なアプローチを通じて複雑な技術的課題の解決に成功し、完全な技術ソリューションを提供するだけでなく、新しい科学研究協力モデルを実証した。いくつかの技術的詳細にはまだ改善の余地があるが、オープンソース開放の理念と学際的協力の実践は、関連分野の発展に重要な貢献をしている。