2025-11-18T20:16:14.046679

Characterizing rectifiability via biLipschitz pieces of Lipschitz mappings on the space

Li, Schul

We give the following characterization of rectifiable metric spaces. A metric space with positive lower Hausdorff density is rectifiable if and only if, for any subset $F$ and $f:F\to Y$, a Lipschitz map into a metric space with positive measure image (of the same dimension), there exists a positive measure subset $A\subset F$ so that $f$ is biLipschitz on $A$. We also give a characterization in terms of a full biLipschitz decomposition. These characterizations are new even for subsets of Euclidean space. One of our tools is Alberti representations. On the way we give a method for constructing independent Alberti representations, which may be of independent interest. We use this to characterize unrectifiable metric spaces as those spaces for which there exist a positive measure subset $S$ and a Lipschitz map $Ï$ into a lower dimensional Euclidean space so that $S$ is $\cH^1$-null with respect to all curve fragments that are quantitatively transversal to $Ï$.

academic

Lipschitz写像のbiLipschitz片による可整流性の特性化

基本情報

論文ID: 2510.13525
タイトル: Characterizing rectifiability via biLipschitz pieces of Lipschitz mappings on the space
著者: Sean Li, Raanan Schul
分類: math.MG（距離幾何学）、math.CA（古典解析）
発表日: 2025年10月16日（arXivプレプリント）
論文リンク: https://arxiv.org/abs/2510.13525

要旨

本論文は可整流距離空間の新しい特性化を与える。正の下Hausdorff密度を持つ距離空間は可整流であることと、任意の部分集合 $F$ とLipschitz写像 $f:F\to Y$ （正の測度像を持つ距離空間への写像）に対して、正の測度を持つ部分集合 $A\subset F$ が存在して $f$ が $A$ 上でbiLipschitzであることが同値であることを示す。さらに、完全なbiLipschitz分解の特性化も与える。これらの特性化はユークリッド空間の部分集合に対しても新しい。著者はAlberti表現を主要な道具として使用し、独立なAlberti表現を構成する方法を与える。

研究背景と動機

問題の重要性

可整流性理論の中心的地位：可整流性は幾何測度論の基本概念であり、距離空間が局所的にユークリッド空間に類似している程度を特性化する。
biLipschitz分解の重要性：Kirchheimの1994年の古典的結果（補題1.1）は、任意のLipschitz写像がbiLipschitz分解を認めることを示す。すなわち、 $A = N \cup \bigcup_{i\in\mathbb{N}} E_i$ であり、 $\mathcal{H}^p(f(N)) = 0$ かつ $f|_{E_i}$ がすべてbiLipschitzである。
既存理論の限界：可整流空間上のLipschitz写像がbiLipschitz分解を認めることは既知だが、逆方向の特性化は欠けていた。

研究動機

完全な特性化の追求：本論文はbiLipschitz分解性質が実際には可整流性と同値であることを証明することで、可整流性の完全な特性化を与えることを目指す。
既存結果の拡張：Le Donne、Li、Rajalaが2017年にHeisenberg群がbiLipschitz分解性質を満たさないことを証明した。本論文はこの観察を一般の非可整流空間に推し広げる。
道具の革新：Alberti表現理論を発展させることで、距離空間の幾何学的性質を研究するための新しい道具を提供する。

核心的貢献

主定理（定理1.2）：コンパクト距離空間 $X$ に対して、 $0 < \mathcal{H}^p(X) < \infty$ かつ $\theta_*^p(X,x) > 0$ が $\mathcal{H}^p$ -ほぼすべての $x \in X$ で成立するが、 $X$ が $p$ -可整流でない場合、正の測度を持つ集合 $F \subset X$ とLipschitz写像 $f: F \to Y$ が存在して、 $\mathcal{H}^p_d(f(F)) > 0$ だが、すべての正の測度 $A \subseteq F$ に対して $f|_A$ がbiLipschitzでないことを証明する。
可整流性の完全な特性化（系1.3と1.4）：可整流性の2つの同値条件を与える：
- 完全なbiLipschitz分解の存在性
- 単一のbiLipschitz片の存在性
独立なAlberti表現の構成方法（命題3.2）：独立なAlberti表現を構成する体系的方法を提供し、これは幾何測度論において独立した価値を持つ。
非可整流空間の幾何学的特性化（定理1.6）：横断曲線片を用いて非可整流性の幾何学的特性化を与える。

方法の詳細

タスク定義

本論文の核心的タスクは距離空間の可整流性を特性化することである。具体的には：

入力： $0 < \mathcal{H}^p(X) < \infty$ と正の下密度条件を満たすコンパクト距離空間 $(X,d)$
出力： $X$ が $p$ -可整流であるかどうかを判定する
制約条件：Lipschitz写像のbiLipschitz分解性質を通じて特性化する

核心的技術フレームワーク

1. Alberti表現理論の応用

Alberti表現は測度を曲線片上の測度の積分表現に分解する： $\mu(B) = \int_{\Gamma(X)} \mu_\gamma(B) dP(\gamma)$

ここで $P$ は $\Gamma(X)$ 上の確率測度、 $\mu_\gamma$ は曲線 $\gamma$ 上の測度である。

2. 特異集合の構成

Lipschitz写像 $\phi$ と「横断」する曲線片が $\mathcal{H}^1$ -零測度である集合 $S$ を含むすべての特異集合の族 $\tilde{D}(\phi,\kappa)$ を定義する： $T_\kappa(\phi) = \{\gamma \in \Gamma(X) : \|(\phi \circ \gamma)'(t)\| \leq \kappa \text{Lip}(\phi, \gamma(x)) \text{Lip}(\gamma, x) \text{ a.e. } t\}$

3. 距離構成の主要技術

非可整流空間に対して、以下のステップを通じて新しい距離 $d$ を構成する：

ステップ1：近道経路システムの構成

数列 $\{S_k\}$ を定義し、各 $S_k = \{\{x_i, y_i\}\}_{i=1}^{m_k}$ は点対の有限集合
条件を満たす： $y \in E_\phi(x, \theta_k)$ （横断錐条件）
スケール制御： $\lambda_{k+1} < \min_{\{x,y\} \in S_k} \rho(x,y)$

ステップ2：コスト関数の定義 $c(x,y) = \begin{cases} \alpha_k \rho(x,y) & \text{if } \{x,y\} \in S_k \\ \rho(x,y) & \text{otherwise} \end{cases}$

ここで $\alpha_k \to 0$ 。

ステップ3：新距離の構成 $d(x,y) = \inf\{c(\mathbf{x}) : \mathbf{x} \in I(x,y)\}$

ここで $I(x,y)$ は $x$ から $y$ へのすべての経路を表す。

技術的革新点

1. 多尺度解析技術

LDLR17のHeisenberg群の場合と異なり、本論文で扱う空間は斉次ではないため、位置に応じてスケールを塌縮させる必要がある。これは数列 $\{\lambda_k\}$ の精密な構成により実現される。

2. 横断方向の利用

Heisenberg群の垂直方向の「フラクタル化」と異なり、本論文は非可整流性を示す方向の点を塌縮させる。これらの方向はAlberti表現理論により体系的に識別される。

3. David-Semmes正則性

恒等写像 $(F,\rho) \to (F,d)$ がDavid-Semmes正則であることを証明する（命題6.1）。すなわち、定数 $C$ が存在して： $B_\rho(x,r) \subseteq B_d(x,r) \subseteq B_\rho(y_1,Cr) \cup B_\rho(y_2,Cr) \cup B_\rho(y_3,Cr)$

主定理と証明の思路

定理1.2の証明構造

証明は3つの主要補題に分かれる：

補題7.1： $(F,d)$ は距離空間である

$x \neq y$ に対して $d(x,y) > 0$ であることを証明する
補題6.6を使用して経路長を制御する

補題7.2： $\mathcal{H}^p_d(F) > 0$

David-Semmes正則性を通じて $\mathcal{H}^p_\rho(F) \lesssim \mathcal{H}^p_d(F)$ を確立する

補題7.3：任意の正の測度 $A \subseteq F$ に対して、 $f|_A$ はbiLipschitzではない

構成された近道経路システムを利用する
密度点 $x$ に対して、 $\rho(y',z') \geq \frac{\beta}{2}r_B$ だが $d(y',z') \leq \varepsilon \frac{2\beta+4}{\beta}\rho(y',z')$ を満たす $y', z' \in A$ を見つける

主要技術補題

補題4.2（下界推定）：横断条件を満たす場合、経路が使用する「悪い」近道が十分に少なければ、非近道部分の長さは総距離に近い。

補題6.2（コスト制御）：特定の条件を満たす経路 $\mathbf{x}$ に対して、 $\rho(x,y) \leq C_2 c(\mathbf{x})$ が成立する。

応用と推広

ユークリッド空間の場合

定理1.7： $E \subset \mathbb{R}^P$ の純 $p$ -非可整流部分集合に対して、 $n$ 次元平面 $W_i$ が存在して、 $E$ は $E = \bigcup_i E_i$ に分解でき、各 $E_i$ は $W_i$ と横断するすべてのbiLipschitz曲線片に対して $\mathcal{H}^1$ -零測度である。