2025-11-13T07:49:11.035604

Transferable Parasitic Estimation via Graph Contrastive Learning and Label Rebalancing in AMS Circuits

Shen, Hua, Zou et al.
Graph representation learning on Analog-Mixed Signal (AMS) circuits is crucial for various downstream tasks, e.g., parasitic estimation. However, the scarcity of design data, the unbalanced distribution of labels, and the inherent diversity of circuit implementations pose significant challenges to learning robust and transferable circuit representations. To address these limitations, we propose CircuitGCL, a novel graph contrastive learning framework that integrates representation scattering and label rebalancing to enhance transferability across heterogeneous circuit graphs. CircuitGCL employs a self-supervised strategy to learn topology-invariant node embeddings through hyperspherical representation scattering, eliminating dependency on large-scale data. Simultaneously, balanced mean squared error (BMSE) and balanced softmax cross-entropy (BSCE) losses are introduced to mitigate label distribution disparities between circuits, enabling robust and transferable parasitic estimation. Evaluated on parasitic capacitance estimation (edge-level task) and ground capacitance classification (node-level task) across TSMC 28nm AMS designs, CircuitGCL outperforms all state-of-the-art (SOTA) methods, with the $R^2$ improvement of $33.64\% \sim 44.20\%$ for edge regression and F1-score gain of $0.9\times \sim 2.1\times$ for node classification. Our code is available at https://github.com/ShenShan123/CircuitGCL.
academic

그래프 대조 학습과 레이블 재균형을 통한 AMS 회로의 전이 가능한 기생 파라미터 추정

기본 정보

  • 논문 ID: 2507.06535
  • 제목: Transferable Parasitic Estimation via Graph Contrastive Learning and Label Rebalancing in AMS Circuits
  • 저자: Shan Shen, Shenglu Hua, Jiajun Zou, Jiawei Liu, Jianwang Zhai, Chuan Shi, Wenjian Yu
  • 분류: cs.LG cs.SY eess.SY
  • 발표 시간: 2025년 10월 10일 (arXiv 제출)
  • 논문 링크: https://arxiv.org/abs/2507.06535

초록

본 논문은 아날로그 혼합 신호(AMS) 회로의 기생 파라미터 추정 문제를 해결하기 위해 CircuitGCL 프레임워크를 제안한다. 본 프레임워크는 그래프 대조 학습과 레이블 재균형 기법을 통해 회로 설계 데이터 부족, 레이블 분포 불균형, 회로 구현 다양성으로 인한 문제를 해결한다. CircuitGCL은 자기 감독 전략을 채택하여 초구면 표현 산란을 통해 위상 불변 노드 임베딩을 학습하며, 동시에 균형 평균 제곱 오차(BMSE)와 균형 소프트맥스 교차 엔트로피(BSCE) 손실 함수를 도입하여 회로 간 레이블 분포 차이를 완화한다. TSMC 28nm AMS 설계에 대한 실험 결과, 본 방법은 엣지 회귀 작업에서 R² 33.64%~44.20% 향상, 노드 분류 작업에서 F1 점수 0.9×~2.1× 향상을 달성했다.

연구 배경 및 동기

문제 정의

현대 AMS 회로는 아날로그 모듈(예: 증폭기, 발진기)과 디지털 서브시스템(예: 제어기, SRAM 어레이)을 통합하며, 설계 과정에서 대량의 수동 반복 작업이 필요하다. 공정 노드가 계속 축소됨에 따라 기생 효과가 점점 더 중요해지고 있으며, 특히 기생 전용량은 회로 성능에 큰 영향을 미쳐 전파 지연 증가, 전력 소비 상승, 신호 무결성 저하를 초래한다.

연구의 중요성

전통적인 설계 흐름은 배치 후 시뮬레이션에 의존하여 기생 효과를 검증하는데, 이 방법은 시간이 오래 걸리고 비용이 많이 든다. 배치 전 단계에서의 기생 파라미터 예측은 설계 반복 횟수를 크게 줄이고 설계 효율을 높일 수 있다. 그래프 신경망(GNN)은 회로를 그래프 구조로 모델링하여 기생 파라미터를 예측할 수 있는 효과적인 솔루션을 제공한다.

기존 방법의 한계

  1. 데이터 부족: 고품질 AMS 회로 데이터(SPICE 넷리스트, 배치 기생 파라미터 포함)는 일반적으로 독점적이며 생성 비용이 높다
  2. 회로 다양성: AMS 회로는 아날로그, 디지털, 혼합 신호 영역에 걸쳐 있으며 서로 다른 설계 원리와 성능 요구사항을 가진다
  3. 레이블 불균형: 기생 전용량 분포는 롱테일 특성을 보이며, 큰 전용량 값의 샘플이 심각하게 부족하다
  4. 전이 가능성 부족: 기존 방법은 특정 회로 유형에서 훈련되어 다른 회로 위상으로의 일반화가 어렵다

핵심 기여

  1. CircuitGCL 프레임워크 제안: 표현 산란 메커니즘(RSM)을 그래프 대조 학습에 적응시켜, 미지의 AMS 설계에 직접 적용 가능한 전이 가능한 표현을 생성하며, 작업 특정 미세 조정이 필요 없다
  2. 레이블 재균형 기법: 균형 MSE와 균형 BSCE 손실 함수를 통해 회로 데이터셋의 불균형 문제를 해결하고, 모델의 교차 도메인 전이 능력을 강화한다
  3. 통합 이론 프레임워크: 분포 정렬 원리에서 출발하여 불균형 회귀 및 분류에 대한 통합된 이론적 기초를 제공한다
  4. 광범위한 적용 가능성: 본 방법은 저항/인덕턴스 예측, 크로스토크 분석, IR 강하 추정 및 교차 공정 전이 등의 작업으로 직접 확장될 수 있다

방법 상세 설명

작업 정의

입력: AMS 회로의 회로도 넷리스트, 이질 그래프 G = (V, E)로 모델링되며, 여기서 노드 V는 네트, 트랜지스터 소자 및 핀을 나타내고, 엣지 E는 연결 관계를 인코딩한다 출력:

  • 엣지 회귀 작업: 결합 전용량 값 예측
  • 노드 분류 작업: 접지 전용량을 이산 범위(소/중/대)로 분류

모델 아키텍처

1. 그래프 변환 모듈

이질 AMS 그래프를 동질 그래프로 변환하며, 노드 유형 속성 X ∈ {0,1,2}^{N×1}을 통해 네트, 소자 및 핀 노드를 구분한다. 강화된 특징 행렬 X_C ∈ R^{N×d_C}는 상세한 설계 파라미터와 연결 통계 정보를 캡처한다.

2. 표현 산란 메커니즘(RSM)

정의: D차원 임베딩 공간 R^D에서 RSM은 두 가지 제약을 강제한다:

  • 중심 거리 제약: 노드 임베딩과 산란 중심 c의 최대 분리
  • 균일성 제약: 노드 임베딩이 부분공간 S_k에 균일하게 분포

구현:

h̃_i = h_i / max(||h_i||_2, ε)  # L2 정규화
L_scattering = -1/N ∑||h̃_i - c||²_2  # 산란 손실
c = 1/N ∑h̃_i  # 산란 중심

3. 온라인 인코더

목표 인코더는 산란 표현 H_target = f_φ(A,X)을 생성하고, 온라인 인코더는 중간 표현 H_online을 생성하며, 예측기 q_θ(·)를 통해 예측 표현 z_online을 얻는다. 정렬 손실은 다음과 같다:

L_alignment = -1/N ∑(z_i^T h_i)/(||z_i||_2 ||h_i||_2)

목표 인코더 파라미터는 지수 이동 평균을 통해 업데이트된다: φ ← τφ + (1-τ)θ

기술 혁신점

1. DSPD 대비 장점

CircuitGPS는 이중 앵커 최단 경로 거리(DSPD)를 위치 인코딩으로 사용하지만, 계산 및 저장 비용이 그래프 크기에 따라 이차적으로 증가한다. CircuitGCL의 GCL 사전 훈련은 높은 병렬성과 우수한 모델 확장성을 가지며, 대규모 회로에서 DSPD보다 현저히 우수하다.

2. 레이블 재균형 이론적 기초

베이즈 정리에 기반하여, 훈련 분포 p_train(y|x)과 균형 분포 p_bal(y|x)의 관계는 다음과 같다:

p_train(y|x)/p_bal(y|x) ∝ p_train(y)/p_bal(y)

실험 설정

데이터셋

TSMC 28nm CMOS 기술로 구현된 6개의 AMS 회로 설계:

  • 훈련 집합: SSRAM (87K 노드, 134K 엣지)
  • 테스트 집합: DIGITAL CLK GEN, TIMING CTRL, ARRAY 128 32, ULTRA8T, SANDWICH-RAM
  • 최대 설계는 4.3M 노드와 13.3M 엣지를 포함한다

평가 지표

  • 회귀 작업: MAE, MSE, R²
  • 분류 작업: Accuracy, Precision, Recall, F1-score

비교 방법

  1. ParaGraph: MPNN 기반 앙상블 모델
  2. DLPL-Cap: 다중 전문가 GNN 회귀기
  3. CircuitGPS: 위치 인코딩을 사용한 소수 샷 학습 방법

구현 세부사항

  • 인코더: 4층 ClusterGCN, 256 숨겨진 차원, Tanh 활성화, 0.3 드롭아웃
  • 다운스트림 GNN: 5층 GraphSAGE, 144 숨겨진 차원, PReLU 활성화
  • σ_noise = 0.001, τ = 0.99

실험 결과

주요 결과

엣지 회귀 작업(결합 전용량 추정)

테스트 집합최적 방법R² 향상
TIMING CTRLCircuitGCL(GAI)41.08%
ARRAY 128 32CircuitGCL(GAI)44.20%
ULTRA8TCircuitGCL(GAI)37.44%
SANDWICH-RAMCircuitGCL(GAI)33.64%

노드 분류 작업(접지 전용량 분류)

테스트 집합최적 방법F1 향상
DIGITAL CLK GENCircuitGCL(BSCE)0.9×
ARRAY 128 32CircuitGCL(BSCE)2.1×
ULTRA8TCircuitGCL(BSCE)1.2×
SANDWICH-RAMCircuitGCL(BSCE)1.5×

절제 실험

RSM 효과 분석

RSM은 모든 데이터셋에서 성능 향상을 가져온다:

  • R² 최대 향상 26.9% (ARRAY 128 32)
  • F1 최대 향상 20.0% (ULTRA8T)
  • 최소 향상도 4.1% (F1)과 6.56% (R²)에 달한다

레이블 재균형 효과

BSCE를 모든 기준선 방법에 적용하면 현저한 정확도 향상을 가져오며, 특히 대규모 설계에서 더욱 뚜렷한 효과를 보인다. 균형 MSE는 데이터 부족 영역에서 모델 성능을 현저히 향상시킨다.

관련 연구

기생 파라미터 예측

  • ParaGraph: 회로 회로도를 그래프로 변환하고 MPNN을 사용하여 네트 전용량 및 배치 파라미터 예측
  • DLPL-Cap: GNN 라우터와 5개의 전문가 회귀기를 결합하여 SRAM 회로의 불균형 데이터 분포 처리
  • CircuitGPS: 소수 샷 학습과 저비용 위치 인코딩을 사용한 기생 파라미터 예측

그래프 대조 학습

주류 GCL 프레임워크는 모두 암묵적으로 표현 산란을 수행하며, 이는 그 성공에 핵심적인 역할을 한다. 본 논문은 SGRL을 GCL 기초로 채택하여 초구면 내에 노드 표현을 임베딩한다.

불균형 학습

  • 분류: 데이터 재샘플링, 손실 재가중치, 로짓 조정 등의 방법
  • 회귀: 상대적으로 덜 탐구되었으며, 기존 방법은 주로 SMOTE 적응 및 손실 재가중치이다

결론 및 토론

주요 결론

  1. CircuitGCL은 자기 감독 표현 학습과 분포 인식 손실 함수를 통해 AMS 회로 설계의 데이터 부족 및 레이블 불균형 문제를 성공적으로 해결한다
  2. RSM이 생성한 위상 불변 임베딩은 우수한 교차 도메인 전이 능력을 가진다
  3. 균형 손실 함수는 이론적으로 불균형 회귀 및 분류 문제를 통합한다
  4. 여러 TSMC 28nm 설계에서 최첨단 성능을 달성한다

한계

  1. TSMC 28nm 공정에서만 검증되었으며, 교차 공정 노드의 전이 능력은 추가 검증이 필요하다
  2. 현재 전용량 예측에 중점을 두고 있으며, 저항/인덕턴스 예측에 대한 적용 가능성은 추가 검증이 필요하다
  3. 대규모 회로의 계산 효율은 여전히 최적화 여지가 있다

향후 방향

  1. 더 광범위한 AMS 회로 유형으로 확장
  2. 기생 저항 추정에 적응
  3. RC 인식 배치 배선 도구에 통합
  4. 교차 공정 노드의 전이 학습 연구

심층 평가

장점

  1. 문제의 중요성: EDA 분야의 실제 문제점을 해결하며 중요한 공학적 가치를 가진다
  2. 방법의 혁신성: 그래프 대조 학습을 회로 기생 파라미터 예측에 처음 적용하며, RSM 적응이 교묘하다
  3. 이론적 기여: 불균형 회귀 및 분류에 대한 통합된 이론 프레임워크를 제공한다
  4. 충분한 실험: 여러 실제 회로 설계에서 검증되었으며, 결과가 설득력 있다
  5. 재현 가능성: 오픈 소스 코드를 제공하여 재현 및 응용이 용이하다

부족한 점

  1. 데이터셋 한계: 단일 공정 노드의 데이터만 사용되어 일반화 능력이 검증되어야 한다
  2. 계산 오버헤드: DSPD보다 효율적이지만, GCL 사전 훈련은 여전히 추가 계산 자원이 필요하다
  3. 특징 공학: 회로 특징의 추출 및 표현은 여전히 수동 설계에 의존한다
  4. 이론 분석: RSM이 특히 회로 그래프에 적합한 이유에 대한 심층 이론 분석이 부족하다

영향력

  1. 학술적 가치: EDA 분야에서 그래프 대조 학습의 응용을 개척하며, 더 많은 관련 연구를 영감할 수 있다
  2. 공학적 가치: 상용 EDA 도구에 직접 적용 가능하며, 설계 효율을 향상시킨다
  3. 방법의 범용성: 프레임워크는 다른 유형의 기생 파라미터 예측 및 회로 분석 작업으로 확장될 수 있다

적용 시나리오

  1. 배치 전 단계: 기생 효과를 빠르게 평가하고 설계 반복 횟수를 줄인다
  2. 설계 공간 탐색: 대규모 설계 공간에서 후보 방안을 빠르게 선별한다
  3. 교차 설계 전이: 한 회로에서 훈련한 모델을 새로운 회로 설계에 적용한다
  4. EDA 도구 통합: 상용 EDA 도구의 핵심 알고리즘 모듈로 사용된다

종합 평가: 이는 기계 학습 최신 기술을 EDA 분야의 실제 문제에 성공적으로 적용한 고품질의 학제 간 연구 논문이다. 방법이 참신하고, 실험이 충분하며, 결과가 현저하여 중요한 이론적 가치와 실용적 가치를 가진다.