Universality in the Anticoncentration of Noisy Quantum Circuits at Finite Depths
Sauliere, Lami, Boyer et al.
We present universal properties of the anticoncentration of noisy quantum circuits at finite depth. By employing an effective model of random matrix product operators, we show that in the weak-noise regime different types of noise act in a similar fashion, leading to a universal distribution of bit-string probabilities, largely independent of the specific noise channel or circuit architecture. We identify three distinct depth-dependent regimes, each signaled by a different scaling of cross-entropy benchmarking (XEB) over rescaled depth. In the shallow-depth regime, noise effects are perturbatively small; in the intermediate regime, circuit-induced fluctuations and noise compete on equal footing; and in the deep-depth regime, the output distribution becomes effectively classical, up to corrections that are exponentially small in the noise strength. We provide quantitative predictions for the anticoncentration of generic circuits at finite depth, which we benchmark with numerical simulations displaying perfect agreement even for shallow circuits. Moreover, we show that, contrary to previous belief, the late-time XEB does give access to the global circuit fidelity, even for large noise strengths. Our findings are directly applicable to current quantum processors and demonstrate universal behavior beyond pure random-matrix-theory regimes which are only applicable at large depths.
본 논문은 유한 깊이 노이즈 양자 회로의 반집중성 특성의 보편성을 연구한다. 무작위 행렬 곱 연산자(Random Matrix Product Operator, RMPO)의 유효 모델을 채택하여, 저노이즈 체계에서 서로 다른 유형의 노이즈가 유사한 방식으로 작용하여 비트 문자열 확률의 보편적 분포를 초래함을 증명한다. 이 분포는 특정 노이즈 채널이나 회로 구조와 무관하게 대체로 독립적이다. 연구는 세 가지 서로 다른 깊이 의존 체계를 식별하며, 각 체계는 재정규화 깊이에서 교차 엔트로피 벤치마크(XEB)의 서로 다른 스케일링 거동으로 특징지어진다. 얕은 깊이 체계에서 노이즈 효과는 섭동론적으로 작다. 중간 체계에서 회로 유도 변동과 노이즈가 동등한 기반에서 경쟁한다. 깊은 깊이 체계에서 출력 분포는 효과적으로 고전화되며, 보정항은 노이즈 강도에서 지수적으로 작다.
현재 양자 기계는 혁신적인 잠재력을 가지고 있지만 외부 노이즈에 의해 제한된다. 기술 진보가 노이즈 수준을 낮추었지만, 오직 내결함성 오류 정정만이 오류를 효과적으로 억제할 수 있다. 이 기간 동안 노이즈 양자 회로를 특성화하고 그 출력을 벤치마킹하는 방법을 개발하는 것이 중요하다.
무작위 회로 샘플링(Random Circuit Sampling, RCS) 작업에서 노이즈가 출력 분포에 미치는 영향을 연구한다. 초기 상태 |0⟩에 작용하는 무작위 양자 회로 U가 주어지면, 노이즈 작용 하에서 밀도 행렬 ρN(U)를 생성하고, 출력 확률 분포 p(x;ρN(U))의 통계적 특성을 분석한다.
본 논문은 양자 계산, 무작위 행렬 이론, 양자 다체 물리 등 여러 분야의 중요한 연구를 포함하는 97개의 관련 문헌을 인용하며, 연구에 견고한 이론적 기초를 제공한다.
종합 평가: 이것은 양자 계산과 통계 물리의 교차 분야에서 중요한 기여를 한 고품질의 이론 물리 논문이다. 이론 프레임워크는 엄밀하고 수치 검증은 충분하며, 노이즈 양자 회로의 기본 특성을 이해하는 데 중요한 의미를 가지며, 양자 우월성 검증을 위한 강력한 이론적 도구를 제공한다.